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- YS/T 739-2010铝电解质分子比及主要成分的测定 X射线荧光光谱法
标准号:
YS/T 739-2010
标准名称:
铝电解质分子比及主要成分的测定 X射线荧光光谱法
标准类别:
其他行业标准
英文名称:
Determination of cryolite rate and main components of electrolyte—X-ray fluorescence spectrometric analysis method标准状态:
已作废-
发布日期:
2010-11-22 -
实施日期:
2011-03-01 -
作废日期:
2024-07-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.pdf .zip
标准ICS号:
冶金>>有色金属>>77.120.10铝和铝合金中标分类号:
冶金>>金属化学分析方法>>H12轻金属及其合金分析方法
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标准简介:
本标准规定了铝电解生产过程中铝电解质的分子比及CaF2、MgF2、Al2O3主要成分含量的测定方法。
本标准适用于铝电解质中分子比、CaF2、MgF2、Al2O3主要成分含量的测定。测定范围分子比:1.80~3.20、CaF2: 1.00%~10.00%、MgF2:0.05%~5.00%、Al2O3:1.00%~10.00%。
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准由全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)归口。
本标准由中国铝业股份有限公司贵州分公司负责起草。
本标准由中国铝业股份有限公司青海分公司、山东南山铝业股份有限公司、内蒙古霍煤鸿骏铝电有限公司、岛津国际贸易(上海)有限公司参加起草。
本标准主要起草人:袁艺、李刚、李群、耿昭、刘海石、陈鸿钧、李志辉、吴静、苗国玉、胡晓春。
部分标准内容:
ICS77.120.10
中华人民共和国有色金属行业标准YS/T739—2010
铝电解质分子比及主要成分的测定X射线荧光光谱法
Determination of cryolite rate and main components of electrolyte-X-rayfluorescencespectrometricanalysismethod2010-11-22发布
中华人民共和国工业和信息化部2011-03-01实施
中华人民共和国有色金属
行业标准
铝电解质分子比及主要成分的测定X射线荧光光谱法
YS/T739-—2010
中国标准出版社出版发行
北京复兴门外三里河北街16号
邮政编码:100045
网址www.spc.net.cn
电话:6852394668517548
中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销
开本880X12301/16
印张0.5
字数7千字
反2011年1月第一次印刷
2011年1月第一版
书号:155066·2-21465
如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究
举报电话:(010)68533533
本标准按照GB/T1.1-2009给出的规则起草。本标准由全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)归口。本标准由中国铝业股份有限公司贵州分公司负责起草。YS/T739—2010
本标准由中国铝业股份有限公司青海分公司、山东南山铝业股份有限公司、内蒙古霍煤鸿骏铝电有限公司、岛津国际贸易(上海)有限公司参加起草。本标准主要起草人:袁艺、李刚、李群、耿昭、刘海石、陈鸿钧、李志辉、吴静、苗国玉、胡晓春。+
1范围
铝电解质分子比及主要成分的测定X射线荧光光谱法
YS/T739—2010
本标准规定了铝电解生产过程中铝电解质的分子比及CaF2、MgF2、Al,O:主要成分含量的测定方法。
本标准适用于铝电解质中分子比、CaF,、MgF、Al,O:主要成分含量的测定。测定范围分子比:1.80~3.20.CaF2:1.00%~10.00%、MgF2:0.05%~5.00%、Al203:1.00%~10.00%。2方法提要
将铝电解质试样研磨成粉末,加压制成片,用(或铬、钨)靶X射线管的荧光分析仪测出元素(钠、镁、铝、钙、氧、氟)的射线强度,用标准样品制成工作曲线(计算公式)求出元素的含量。再根据计算公式计算出铝电解质的分子比及CaF2、MgF2、Al2O3的含量。3试剂wwW.bzxz.Net
无水乙醇,分析纯。
4仪器和设备
4.1研磨机及研钵。
4.2压片机及模具:压片机总压力在10MPa以上。4.3多道X射线荧光光谱仪[配有(或铬、钨)靶X射线管、分光晶体、真空系统、自动脉冲高度分析器及计数器]:工作参数参见附录A。5试样
铝电解质。
6分析步骤
6.1制样:将从电解槽中取出的铝电解质试样(5),经自然冷却后,放人研钵中(4.1),加人3~4滴无水乙醇,并用研磨机振动研磨,使试样粒度达到75um以下。6.2压片:将研磨后的试样(6.1)倒人模具(4.2),用压片机(4.2)加压至10MPa,并保持压力25s以上,将压成的试样压片取出,待测定。6.3工作曲线
6.3.1按6.1、6.2制备系列铝电解质标准样品。A
YS/T739—2010
6.3.2将仪器(4.3)预热使其稳定,根据X射线管型号调节高压和管电流,根据X射线荧光光谱仪的型号选定工作参数。将标准样品放到测量位置上,在规定的操作条件下测定每个样品的钠、镁、铝、钙、氧、氟元素的射线强度。
6.3.3分别以标准样品中各元素(钠、镁、铝、钙、氧、氟)的含量为横坐标,以所测标准样品的元素X射线强度(Ieps)为纵坐标,绘制工作曲线。将标准样品中元素的含量和X射线强度(Ie,)输人计算机,进行回归计算。
6.4测定
将制备好的压片(6.2)按(6.3.2)进行钠、镁、铝、钙、氧、氟元素的X射线强度测定。7
分析结果的计算与表述
由测得的压片(6.2)中元素的X射线强度I从工作曲线(6.3.3)查出相应的元素含量,计算出铝电解质的分子比,CaF2、MgF2、Al2O3的值。8精密度
重复性
在重复性条件下获得的两个独立测试结果的测定值,在以下给出的平均值范围内,这两个测试结果的绝对值不超过重复性限(r),超过重复性限(r)的情况不超过5%。重复性限(r)按表1数据采用线性内插法求得。
测定项目
分子比
充许差
测定值/%
实验室之间分析结果的差值应不大于表2所列允许差。重复性限(r)/%
测定项目
分子比
9质量保证与控制
测定范围/%
1.80~3.20
1.00~10.00
0.05~5.00
1.00~10.00
YS/T739—2010
允许差/%
检验时,应对控制样品进行校核,或每年用标样对分析标准有效性进行校核一次。当过程失控时,应找出原因。纠正错误后,重新进行校核。YS/T739—2010
附录A
(资料性附录)
X射线荧光光谱仪工作参数
根据设备,在真空条件下,各元素测量条件见表A.1。表A.1
仪器元件或特征
X射线管高压
X射线管电流
真空度
积分时间
YS/T739-2010
工作参数
≤18Pa
版权专有侵权必究
书号:1550662-21465
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中华人民共和国有色金属行业标准YS/T739—2010
铝电解质分子比及主要成分的测定X射线荧光光谱法
Determination of cryolite rate and main components of electrolyte-X-rayfluorescencespectrometricanalysismethod2010-11-22发布
中华人民共和国工业和信息化部2011-03-01实施
中华人民共和国有色金属
行业标准
铝电解质分子比及主要成分的测定X射线荧光光谱法
YS/T739-—2010
中国标准出版社出版发行
北京复兴门外三里河北街16号
邮政编码:100045
网址www.spc.net.cn
电话:6852394668517548
中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销
开本880X12301/16
印张0.5
字数7千字
反2011年1月第一次印刷
2011年1月第一版
书号:155066·2-21465
如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究
举报电话:(010)68533533
本标准按照GB/T1.1-2009给出的规则起草。本标准由全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)归口。本标准由中国铝业股份有限公司贵州分公司负责起草。YS/T739—2010
本标准由中国铝业股份有限公司青海分公司、山东南山铝业股份有限公司、内蒙古霍煤鸿骏铝电有限公司、岛津国际贸易(上海)有限公司参加起草。本标准主要起草人:袁艺、李刚、李群、耿昭、刘海石、陈鸿钧、李志辉、吴静、苗国玉、胡晓春。+
1范围
铝电解质分子比及主要成分的测定X射线荧光光谱法
YS/T739—2010
本标准规定了铝电解生产过程中铝电解质的分子比及CaF2、MgF2、Al,O:主要成分含量的测定方法。
本标准适用于铝电解质中分子比、CaF,、MgF、Al,O:主要成分含量的测定。测定范围分子比:1.80~3.20.CaF2:1.00%~10.00%、MgF2:0.05%~5.00%、Al203:1.00%~10.00%。2方法提要
将铝电解质试样研磨成粉末,加压制成片,用(或铬、钨)靶X射线管的荧光分析仪测出元素(钠、镁、铝、钙、氧、氟)的射线强度,用标准样品制成工作曲线(计算公式)求出元素的含量。再根据计算公式计算出铝电解质的分子比及CaF2、MgF2、Al2O3的含量。3试剂wwW.bzxz.Net
无水乙醇,分析纯。
4仪器和设备
4.1研磨机及研钵。
4.2压片机及模具:压片机总压力在10MPa以上。4.3多道X射线荧光光谱仪[配有(或铬、钨)靶X射线管、分光晶体、真空系统、自动脉冲高度分析器及计数器]:工作参数参见附录A。5试样
铝电解质。
6分析步骤
6.1制样:将从电解槽中取出的铝电解质试样(5),经自然冷却后,放人研钵中(4.1),加人3~4滴无水乙醇,并用研磨机振动研磨,使试样粒度达到75um以下。6.2压片:将研磨后的试样(6.1)倒人模具(4.2),用压片机(4.2)加压至10MPa,并保持压力25s以上,将压成的试样压片取出,待测定。6.3工作曲线
6.3.1按6.1、6.2制备系列铝电解质标准样品。A
YS/T739—2010
6.3.2将仪器(4.3)预热使其稳定,根据X射线管型号调节高压和管电流,根据X射线荧光光谱仪的型号选定工作参数。将标准样品放到测量位置上,在规定的操作条件下测定每个样品的钠、镁、铝、钙、氧、氟元素的射线强度。
6.3.3分别以标准样品中各元素(钠、镁、铝、钙、氧、氟)的含量为横坐标,以所测标准样品的元素X射线强度(Ieps)为纵坐标,绘制工作曲线。将标准样品中元素的含量和X射线强度(Ie,)输人计算机,进行回归计算。
6.4测定
将制备好的压片(6.2)按(6.3.2)进行钠、镁、铝、钙、氧、氟元素的X射线强度测定。7
分析结果的计算与表述
由测得的压片(6.2)中元素的X射线强度I从工作曲线(6.3.3)查出相应的元素含量,计算出铝电解质的分子比,CaF2、MgF2、Al2O3的值。8精密度
重复性
在重复性条件下获得的两个独立测试结果的测定值,在以下给出的平均值范围内,这两个测试结果的绝对值不超过重复性限(r),超过重复性限(r)的情况不超过5%。重复性限(r)按表1数据采用线性内插法求得。
测定项目
分子比
充许差
测定值/%
实验室之间分析结果的差值应不大于表2所列允许差。重复性限(r)/%
测定项目
分子比
9质量保证与控制
测定范围/%
1.80~3.20
1.00~10.00
0.05~5.00
1.00~10.00
YS/T739—2010
允许差/%
检验时,应对控制样品进行校核,或每年用标样对分析标准有效性进行校核一次。当过程失控时,应找出原因。纠正错误后,重新进行校核。YS/T739—2010
附录A
(资料性附录)
X射线荧光光谱仪工作参数
根据设备,在真空条件下,各元素测量条件见表A.1。表A.1
仪器元件或特征
X射线管高压
X射线管电流
真空度
积分时间
YS/T739-2010
工作参数
≤18Pa
版权专有侵权必究
书号:1550662-21465
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