本标准规定了贵金属及其合金电触点材料接触电阻的测量方法(静态接触)。本标准适用于贵金属及其合金电触点材料接触电阻的测量。其他金属及合金电触点材料亦可参照使用。 GB/T 15078-1994 贵金属电触点材料接触电阻的测量方法 GB/T15078-1994

本标准规定了贵金属及其合金板、带、管、线、棒材和复合材料几何尺寸的测量方法。本标准适用于贵金属及其合金板、带、管、线、棒材和复合材料几何尺寸的测量。本标准也可用于其他金属材料几何尺寸的测量。 GB/T 15077-1994 贵金属及其合金材料几何尺寸测量方法 GB/T15077-1994

本标准规定了重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法。本标准适用于衬底室温电阻率小于0.02Ω·cm和外延层室温电阻率大于0.1Ω·cm且外延层厚度大于2μm的硅外延层厚度的测量。 GB/T 14847-1993 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法 GB/T14847-1993

本部分规定了用针孔箱检测铝箔针孔的方法。本方法适用于铝箔针孔数量及针孔直径的检测。 YS/T 455.2-2003 铝箔试验方法 第2部分 铝箔的针孔 YS/T455.2-2003

本标准规定了铝箔的直流电阻测定方法。本方法适用于电力、无线电电容器用铝箔20℃时标准试样的直流电阻检测。 YS/T 455.5-2003 铝箔试验方法 第5部分 铝箔的直流电阻试验方法 YS/T455.5-2003

本标准适用于吸气用锆铝合金粉、吸气用锆铝合金环件和片件、吸气用锆铝合金复合带材、释汞吸气用复合带材及室温吸气用锆石墨材料及制品等非蒸散型吸气材料及制品的吸气速率和吸气量的测定。 GB/T 8763-1988 非蒸散型吸气材料及制品吸气性能测试方法 GB/T8763-1988

本标准适用于用光透法测定氧化钇、氧化铕的粒度分布。 GB/T 8761-1988 氧化钇、氧化铕粒度分布测定光透沉降法 GB/T8761-1988

本标准适用于砷化镓外延层厚度的测定。可测厚度大于2μm。要求衬底电阻率小于0.02Ω·cm，外延层的电阻率大于0.1Ω·cm。 GB/T 8758-1988 砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法 GB/T8758-1988

本标准规定用击穿电位检验铝及铝合金阳极氧化膜的绝缘性。本标准适用于检验阳极氧化膜的绝缘性能，主要检验下列两种阳极氧化膜：a. 对绝缘性能有一定要求的阳极氧化膜。B.?以击穿电位为原则，而制定的阳极氧化工艺所生产的阳极氧化膜。 GB/T 8754-1988 铝及铝合金阳极氧化-应用击穿电位测定法检验绝

本标准规定了一种含润滑剂金属粉末中润滑剂含量的测定方法。这种方法也适用于测定素含量，例如石墨和氧，其测定值可排除因存在润滑剂而受到的干扰。应用此方法的条件是：用于萃取润滑剂的适宜溶剂已知并易于得到。 GB/T 8643-2002 含润滑剂金属粉末中润滑剂含量的测定 修正的索格利特(Soxhlet)萃