本部分规定了用酸处理后的抗染色吸附能力来评定阳极氧化膜封孔质量的方法。本部分适用于在大气曝晒或腐蚀环境下使用的、具有抗污染能力的阳极氧化膜的生产控制检验。本部分不适用于下列铝合金生成的阳极氧化膜；a)含铜量＞2%、含硅量＞4%的阳极氧化膜；b)重铬酸钾封孔的氧化膜；c)涂油、打蜡、上漆处理过的氧化膜

本部分规定了铝及铝合金阳极氧化膜经硝酸预浸后，于磷-铬酸溶液中浸蚀，按质量损失评定其封孔质量的方法。本部分既适用于热封孔的阳极氧化膜，又适用于冷封孔的阳极氧化膜。本部分不适用于下列工艺处理的阳极氧化膜：a) 通常不进行封孔处理的硬质阳极氧化膜；b) 在重铬酸盐溶液中封孔处理过的阳极氧化膜；c) 在铬

本部分规定了铝及铝合金阳极氧化膜在无硝酸预浸的磷-铬酸溶液中浸蚀后，按质量损失评定其封孔质量的方法。本部分适用于在大气中暴露，以装饰和保护为目的，具备抗污染能力，可抵御环境腐蚀的阳极氧化膜。本部分既适用于热封孔的阳极氧化膜，也适用于冷封孔的阳极氧化膜。本部分不适用于经下列工艺处理的阳极氧化膜：a)

本部分规定了导纳法测定铝及铝合金阳极氧化膜封孔质量的方法。本部分适用于在水溶液中封孔的，膜厚大于3 mm的铝及铝合金阳极氧化膜封孔质量的快速无损测定。本部分规定的方法既适用于热封孔的阳极氧化膜，也适用于冷封孔的阳极氧化膜。本部分可作为产品质量控制方法，也可作为供需双方商定的验收方法。 GB/T 87

GB 1553-1979 硅单晶寿命直流光电导衰退测量方法 GB1553-1979

GB 1552-1979 硅单晶电阻率直流四探针测量方法 GB1552-1979

GB 1550-1979 硅单晶导电类型测定方法 GB1550-1979

GB 1558-1983 测定硅晶体中代位碳含量的红外吸收方法 GB1558-1983

GB 5253-1985 锗单晶电阻率直流两探针测量方法 GB5253-1985

GB 5250-1985 可渗透性烧结金属材料 流体渗透性的测定 GB5250-1985