本标准规定了用直排四探针方法测量硅单晶片径向电阻率变化的方法。本标准适用于硅片厚度小于探针平均间距。 GB/T 11073-1989 硅片径向电阻率变化的测量方法 GB/T11073-1989

本标准规定了砷化镓外延层载流子浓度电容?电压法的测量方法。本标准适用于砷化镓外延层及体材料中载流子浓度的测量。 GB/T 11068-1989 砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法 GB/T11068-1989

本标准规定了铁矿石(烧结矿、球团矿)物理试验试样的取样、制样方法和程序，以及对一个交货批量的物理性能的确定。本标准适用于高炉用铁矿石、烧结矿、球团矿以及其他代用品的物理试验用试样的取样和制样工作。 GB/T 10122-1988 铁矿石(烧结矿、球团矿)物理试验用试样的取样和制样方法 GB/T101

本标准规定了金属材料高温弹性模量测量方法圆盘振子法的术语、定义、符号、测量原理与公式、测量器具与装置、试样、测量条件与操作要求、数据处理、精度与偏差以及试验报告等。本标准适用于室温至 2000℃间材质均匀的金属材料圆盘状试样共振频率的测量，由此可确定试样的动态杨氏模量、动态切变模量及动态泊松比。也适

本标准规定了两个测定方法，用来测定天然的和人造铁矿石的容积密度。方法1适用于最大粒度在40.0mm以下的铁矿石。方法2适用于任何最大粒度的铁矿石。注：这里测得的容积密度并不一定能够代表天然矿或人造矿在紧密状态或堆存状态下的实际容积密度。 GB/T 14202-1993 铁矿石(烧结矿,球团矿)容积密

本标准规定了铁矿球团抗压强度测定方法的适用范围、定义、原理、试验设备、试样制备、试验程序、试验结果和试验报告。本标准适用于铁矿石焙烧球团抗压强度的测定。本标准不适用于圆柱形和其他团矿及铁矿石还原球团抗压强度的测定。 GB/T 14201-1993 铁矿球团抗压强度测定方法 GB/T14201-199

本标准规定了硅外延层载流子浓度汞探针电容—电压测量方法。本标准适用于同质的硅外延层载流子浓度测量。 GB/T 14146-1993 硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容--电压法 GB/T14146-1993

本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于10.0mm用外延、扩散、离子注入到硅圆片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。硅片基体导电类型与被测薄层相反。对于厚度为0.2~3μm的薄层，测量范围为250~5000Ω；对于厚度不小于3μm的薄层，

本标准规定了用千分尺测量硅片直径的方法。本标准适用于测量圆形硅片的直径。本标准不适用于测量硅片的不圆度。本标准不作为仲裁测量方法。 GB/T 14140.2-1993 硅片直径测量方法 千分尺法 GB/T14140.2-1993

本标准规定了用光学投影仪测量硅片直径的方法。本标准适用于测量圆形硅片的直径。测量范围为声φ40～φ100mm本标准不适用于测量硅片的不圆度。本标准用作仲裁测量方法。 GB/T 14140.1-1993 硅片直径测量方法 光学投影法 GB/T14140.1-1993