本标准规定了砂状氧化铝在流化床内进行磨损以测定其磨损指数的方法。本标准适用于砂状氧化铝磨损指数的测定。 YS/T 438.2-2001 砂状氧化铝物理性能测定方法 磨损指数的测定 YS/T438.2-2001
本标准规定了用干筛法测定砂状氧化铝粒度分布的方法。本标准适用于砂状氧化铝粒度分布的测定。测定范围: 150μm不大于20.0%和-45μm不大于20.0%。 YS/T 438.1-2001 砂状氧化铝物理性能测定方法 筛分法测定粒度分布 YS/T438.1-2001
YS/T 478-2005 铜及铜合金导电率涡流检测方法}
本标准规定了涡流法检测铜及铜合金导电率的原理、检测要求和操作方法等内容。本标准适用于用涡流导电仪进行铜及铜合金导电率的快速检测。 YS/T 478-2005 铜及铜合金导电率涡流检测方法 YS/T478-2005
GB/T 8753.4-2005 铝及铝合金阳极氧化氧化膜封孔质量的评定方法 第4部分:酸处理后的染色斑点法}
本部分规定了用酸处理后的抗染色吸附能力来评定阳极氧化膜封孔质量的方法。本部分适用于在大气曝晒或腐蚀环境下使用的、具有抗污染能力的阳极氧化膜的生产控制检验。本部分不适用于下列铝合金生成的阳极氧化膜;a)含铜量>2%、含硅量>4%的阳极氧化膜;b)重铬酸钾封孔的氧化膜;c)涂油、打蜡、上漆处理过的氧化膜
GB 1553-1979 硅单晶寿命直流光电导衰退测量方法}
GB 1553-1979 硅单晶寿命直流光电导衰退测量方法 GB1553-1979
GB 1552-1979 硅单晶电阻率直流四探针测量方法}
GB 1552-1979 硅单晶电阻率直流四探针测量方法 GB1552-1979
GB 1550-1979 硅单晶导电类型测定方法}
GB 1550-1979 硅单晶导电类型测定方法 GB1550-1979
CopyRight 2025 www.bzxz.net All Rights Reserved
本网站所展示的内容均由用户自行上传发布,本站仅提供信息存储服务。若您认为其中内容侵犯了您的合法权益,请及时联系我们处理,我们将在核实后尽快删除相关内容。