【国家标准(GB)】 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

本网站 发布时间: 1984-04-12 16:00:00
  • GB/T4326-1984
  • 已作废

基本信息

  • 标准号:

    GB/T 4326-1984

  • 标准名称:

    非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

  • 标准类别:

    国家标准(GB)

  • 标准状态:

    已作废
  • 发布日期:

    1984-04-12
  • 实施日期:

    1985-03-01
  • 作废日期:

    2006-11-01
  • 出版语种:

    简体中文
  • 下载格式:

    .rar.pdf
  • 下载大小:

    KB

标准分类号

  • 标准ICS号:

    29.040.30
  • 中标分类号:

    冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法

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出版信息

  • 页数:

    11页
  • 标准价格:

    12.0 元

其他信息

  • 复审日期:

    2004-10-14
  • 起草单位:

    有色金属研究总院
  • 归口单位:

    中国有色金属工业协会
  • 发布部门:

    国家标准局
  • 主管部门:

    中国有色金属工业协会
标准简介标准简介/下载

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标准简介:

本标准适用于在非本征半导体单晶试样中确定载流子霍尔迁移率。为获得霍尔迁移率必须测量电阻率和霍尔系数,因此本标准也分别适用于这些参数的测量。本方法仅在有限的范围内和对锗、硅和砷化镓进行了实验室测量,但该方法也可适用于其他半导体单晶材料。所述的测量技术至少适用于室温电阻率高达104Ωcm的试样。 GB/T 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 GB/T4326-1984 标准下载解压密码:www.bzxz.net
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