【电子行业标准(SJ)】 半导体分立器件 ２ＤＷ１４～１８型低噪声硅电压基准二极管详细规范

中华人民共和国电子行业军用标准FL5961
SJ 20068—92
半导体分立器件
2DW14~18型低噪声硅电压基准
二极管详细规范
Semiconductor discrete deviceDetail specification for lower noisefor silion voltage reference diodefor type2DW14~18
1992-11-19发布免费标准下载网bzxz
中国电子工业总公司
1993-05-01实施
中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
2DW14~18型低躁声硅电压基准二极管详细规范
Semiconducior discrete derlceDetail speclicatilon for lower noiscfor silicon goltage reference dlodefar lype 2DW14 ~18
1范围
1.1主题内容
SJ 20068-92
本规范规定了 2DW14~1名型低噪声硅电压基推二极管(以下体称器件)的详细要求,该种器件按 GJB 33《半导体分立器件总规范》的规定,提供产品保证的三个等级(GP,GT和GCT).
1.2外形尺寸
外形尺寸应按GB7581《半导体分立器件外形尺寸1中的A3-02B型，见图1.中国电手工业总公司1992-11-19发布1993-05-01 实施
YIKAONIKACa-
0. 35-(ax
图1外形尺寸
SJ 20068—92
如. 30x@
A3-02B
1.3最大额定值
2DW1418
SJ 20068—92
注：1）T>25C，按1.6mW/C的速率线性地降额，1.4主要电特性(详见表5)
2DW1418
2引用文件
GB 6571--86
GB 7581—87
GJB 33—85
F=10mA
2=10mA
—55+150
小功率信号二级管、稳压及基准电压二极管测试方法半导体分立器件外形尺寸
半导体分立器件总规范
—55~+175
f 10Hr～~10kHz
Iz-1OmA
GJB33/006--89半导体分立器件电压调整和电压基准二极管宰白详细规范GJB 128—R6
3要求
3.1详细要求
半导体分立器件试验方法
各项要求应符合GB 33和本规范的规定。3. 2缩写、符号和定义
本规范中使用的缩写、符号和定义应符合GJ33和本规范的规定，3. 2. 1长期稳定性（p）lang term stabiliy在给楚的工作状态下，长时间内（t>500h）基准电压的相对变化值，3.2.2噪声电压(V.）noise Vollage在规定的测试条件下，电压基准二极管极间产生的随机变化的噪声电压峰值，3.3设计、结构和外形尺寸
器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB 33和本规范图1的规定。3.3.1引出端材料和涂层
引出端材料应是可代、杜美丝或丝等材料。引出端涂层应锡或没惕。选用的材料和涂层可在合间或订货单中规定（见6. 1条）。3.3.2器件内部结构
芯片与支架采用冶金烧结，芯片与内引线末端采用超声键合工艺。3.4标志
器件标志应按GJB33及本规范的规定。3.4.1极性
TKAONKAca
器件的负极端用白色色点表示.
4质量保证规定
4.1 抽样和检验
SJ 20068—92
抽样和检验应按GJB 33和本规范的规定。4.2鉴定检验
鉴定检验应符合 GJB33 的规定，4. 3 筛选(仅对GT和 GCT级)
筛选应符合 GJB 33 的表 2 和本规范的规定，下列测量应按本规范表 4 的规定进行,过本规范表至中极限值的器件应别出。筛
1.内部目稳
(幅前)
2. 高益寿命
3势冲击
(激度循环)
4. 恒定加度
5. 密对
的,期检据
b. 粗检渐
6. 高益反偏
常,中间电参数测试
8.电老化
9, 斑后测试
试验方法
(GB 128)
150±2c.96h
试验条件:除低髓为一 55 ℃ ,糖环 10 次外,其余同试验条伴 F+高低耀之间转换时削不大于
高低温持续时间不少于 30mim
Y1方向196000m/*
20g60s
a. 试验涤件 H
最大滞准率, 5mPz~ cm /s
b, 试验条件 C
氨视化合物检确
按规定
试验录件 Bat 96h
必须在去辑老化条件之后 96h
内完成全部参数测试，按表1 步覃避行
见3. 2.1条
100%,不超过
表 4 规定的极
按要求测量
11.外观检查
4.4质量一致性检验
SJ 20068--92
试验方法
(GJB128)
打标志之后进行,用10倍双目
立体显微镜或放大镜检查器件
外观质量,别除管充和管显生
锈,变形、开裂及有其它缺陷的
质量一致性检验应符合 GJB 33 及本规范表 1、2和 3的规定。4.4.1A组检验
A 组检验应按 GJB 33和本规范表 1 的规定进行4.4.2B组检验
B 组检验应按 GJB 33 和本规范表 2 的规,定进行。后测试和变化量(4)的要求应符合本规范表4有关步骤的规定。
4. 4. 3 C组检验
C组检验应按GJB33和本规范表3的规定进行，最后测试和变化量（A>的要求应符合本规范表4有关步骤的规定。
4.5检验和试验方法
检验和试验方法应符合相应的表和下述规定，4.5. 1电压-温度稳定性
每个型号器件的基准电压在各个规定的湿度下测量，测量时应记录。对于每个器件从测量出的最高电压减去出的最低电压，获得△V，值，该△V，值应在本规范规定的极限内。其测量温度不能翅过规定的极龈温度一55～100℃的范围。4. 5. 2 基准电压(V2)
测试时应加试验电流达到平衡（至少15s），然后读出基推电压值。对于试验器件的安装，应将其引线置于尖座的内侧，光具距管体10mm，夹具的温度应维持在25℃。4.5.3电压福度系数
先在T=25士1r下，施恒定测试电流12,测得热稳定后的基准电压V21（有效位数等于或人于5位）：再在T—75±1℃下，施加同一测试电流，测得热稳定后的基准电压Vz（有效位数等于或大于5位);并按下述公式计算：A
要求钜流电源的电流变化值14Izl≤0.005mA，4.5.4长期稳定性
在规定的测试电流Izo及恒温描温度T=55℃下，分别测出时间t二0h的基准电压值Vzfz—165h 的 V2vts=336h的 V23*t,- 504h 的 Vz4t; -672h 的 V25*t,= 840h 的 Vz,和 t -1000h的V并按下述公式计算：
TKAONKAca
SJ20068--92
Va - Vhu
式中,V—表示七个时间检测点中的最大基准电压值V表示七个时间检测点中的最小基准电压值，V\表示该产品的标称基准电压值P.长期稳定性.
测试环境溢度应为25士2℃相对提度<65%恒温槽相度 T55℃,误递IAT|≤0. 101测试电流的变化值4Iz0.0005mA，长期稳定性测试原理应按 GJB 33/006 的附录 A中 A3 规定，4.5.5声电压
在规定的测试电流下，在规定的频带范国内将噪声放大，然后借助于具有平衡响应的均方根电压表避出效大嗪声电压，再除以系统增益,从而确定被测器件的噪声电压有效值Y。测量程序：
先取一个与被测器件微分电阻等值的低噪声电阻装入测试夹具，并调节测试电流 12=10mA,测出输出噪声电压 V
然后取出上述低噪声电阻，将被测器件装入测试夹具，再调节测试电流12=10mA，并测出其噪声电压V然后根据下式计算噪声电压：V, - Ym-
式中:A,系统增益。
骤声电压测试原理应按 GJB 33/006的附录A中A1规定。6
检验或试验
A1分组
外观及机被检
A2分组
基准电压
反向电流
微分电阻
A3分组
电压温度系数
A4分组
噪声电压
GB 6571
GJB12B中
2. 2. 1. 1
2. 2. 2, 1
2. 2.3. 1
本规范
检验或试验
B1分组
可焊性
标志的耐久性
B2分组
热神击
(溢度环)
区细检循
b.粗检漏
最后测试：
33 分组
稳态工作寿命
最后测试：
SJ 20068—92
表 1 A 组检验
用 10 倍故大
Iz-10mA
直流法：
TA25'C
直流法：
1z一表5第5栏
f10Hz~10kH
12=10mA
最小值
表5第1栏，！
公差取—5%
表 2 B组捡验
GJE128
最大值
表5第4栏，
公差取+5%
表5第3栏
表5第2栏
表5第5栏
表5第4档
试验条件;除低温为55C,循环10 次外,其余后试验条件 F
试验条件 H
试验紊性 C,意碳化合物
死表 4 步显 1. 2 和 3
Izm—30mAV表5第1栏
见表 4 步骤 1,2,5 和 6
-rKAONKAca-
B4分组
检验或试验
开辑内部目检
(设计验证)
键合强度
B5 分组
不适用
B6 分组
高温寿命
《非工作状态）
最后测试
检验或试验
C1分组
外形尺寸
C2 分组
热冲击(玻璃应力)
引出端强度
m.细检漏
b.粗检漏
外观及机触检验
最后飚试，
C3分组
变频摄动
恒定加速度
最后测试：
C4 分组
基气（慢蚀）
(适用时)
SJ20068—92
续表2
GJB128
TA=:75C
见表重步骤 1.2.5和 6
表 3 C组检验
GJB12B
见图1
试验条件 A
试验条作A,W-2000g= 5s
按B3分组
按B2分组
接A1分组
见表 4 步骤1.2和 3
非工作状态，加速度14700m/s*,—0.5tmsx,Y1方向冲击各5次
非工作状态
196000m/g*,X,Y,向
见表4步骤 [、2 和 4
每批担检一
只/0失效
20(C-0)
检验或试验
C5分组
不适用
C6分组
稳态工作寿命
最后测试：
验验或试验
基准电压
搬分电阻
基准电压温度
反向电流
SJ 20068--92
续表3
GJB 128
Iz# ** 30 11. 5mA
Vz-表5第1栏
按表 4 步骤 1., 2,5 和 6
表 4 B 组和 C 组的最后测试
GB6571
2, 2、2. 1
2. 2. 3. 1
基准电压变化9. 2. 1. 1
噪产电压
本规范
真游法:1z=10mA
Iz=10mA
真流法，
Ta-25C
Ta-75t
Iz- I2
（表5第5栏）
直流法：
TA-25±3℃
流法：
T -25±3r
f=10Hz~-j0kHz
I=10mA
极限馆
表5第1
琵，公羞欧
轰5菱
稔，公蔡取
初妒值的
表 5的第 5
表5 3
[初始道的
初始的
度5的第 4
TKAONKAca
2DW14B
2DW14C
2DW14D
2DW15A
2DW15B
2DW15C
2DW15D
2DW16A
2DW16B
2DW16C
2DW17A
2DW1?B
2DW17C
2DW17D
2DW18A
2DW18B
2DW180
2DW18D
基准电压
±5%(V)
微分电阻
SJ 20068--92
表5电梦数规范表
反向电
噪声电压
Vr=3. fV f=10Hz
Iz= 10mA |Iz=10mA
1z=10mA
5交货准备
5.1包装要求
包装要求应按GJB33的规定。
5.2贮存要求
贮存要求应按GJB33的规定
5.3运输要求
运辅要求应按 GJB 33的规定。
(10-*/℃)
电压凝度系数
最佳测
试电流
测试温度
-55.25.100
55,25,100
—55,25,100
—65,26,100
55,25,100
长期秘定性
(△YL/Y)
(10-/1000h)
6说明事项
SJ 20068—92
61对引出端徐层有特殊要求时应在合同或订货单中规定、如需要典型特性曲线，可在合同或订货单中规定6.23
附加说明：
本规范由中国电子工业总公司科技质量局提出。本规范由中国电子技术标准化研究所归口、本规范由中国电子技术标推化研究所、杭州无线电二厂负责起草。本规范主要起草人，王萱文、于志贤，计划项目代号B01001。
1 —
TTKAONTKAca-
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