【GB国家标准】 电子设备用固定电阻器第1部分:总规范

GB/T5729—2003/IEC60115-1.2001本规范等同采用IEC60115-1（QC400000）：2001电子设备用固定电阻器第1部分：总规范3英文版）。固定电阻器系列国家标准的预计结构及其对应的IEC标准由下列规范组成：第1部分：总规范（GB/T5729—2003，IEC60115-12001，IDT）：一第2部分：分规范低功率非线绕固定电阻器（GB/T5730-1985idtIEC60115-2：1982）：空白详细规范低功率非线绕固定电阻器评定水平E（GB/T5731-1985.idtEC 60115-2-1,1982);
空白详细规范低功率非线绕固定电阻器评定水平F（GB/T17034—1997，idtIEC 60115-2-2:1992):
第4部分：分规范功率型固定电阻器（GB/T5732--1985.idtIEC60115-4：1982）：空白详细规范功率型固定电阻器评定水平E（GB/T5733-1985.idtIEC60115-4-1:1983):
空白详细规范功率型固定电阻器评定水平FGB/T15885--1995.idtIEC60115-4-2:1992)
空白样细规范带散热器的功率型固定电阻器评定水平H(GB/T17035—1997，idtIEC60115-4-3.1993):
第5部分：分规范精密固定电阻器（GB/T5734-1985/IEC60115-5：1982）：空白详细规范
精密固定电阻器评定水平E（GB/T5735-1985.idtIEC601155-1:1983);
空百详细规范
5-2:1992)
暑评定水平F（GB/T15884—1995.idtIEC60115精密固定电阻器
第6部分：分规范各电阻器可单独测量的固定电阻网络（GB/T7338-1996.idtIEC60115-6.1987):
空白详细规范阻值和功耗相同，各电阻器可单独测量的固定电阻网络评定水平
E(GB/T7339-1987.idtIEC60115-6-1.1983):空白详细规范阻值和功耗不同，各电阻器可单独测量的固定电阻网络评定水平
E(GB/T7340—1987.idtIEC60115-6-2:1983)——第7部分：分规范各电阻器不可单独测量的固定电阻网络（GB/T12276-一1990，idtIEC60115-7:1984)
空白详细规范各电阻器不可单独测量的固定电阻网络评定水平E（GB/T
12277—1990,eqvIEC60115-7-1:1984)—第8部分：分规范片式固定电阻器（GB/T9546-1995，idtIEC60115-8：1989）；空白详细规范片式固定电阻器评定水平E（GB/T9547—1994.idtIEC601158-1:1989)1
一第9部分：分规范各电阻器可单独测量的表面安装固定电阻网络：空白详细规范各电阻器可单独测量的表面安装固定电阻网络评定水平EZ。本规范与GB/T5729—1994相比，主要变化如下：“规范性引用文件”中更多地引用了相应的国家标准：一“定义”中增加了“额定温度”“电阻电压系数”和“表面安装电阻器”日
GB/T5729—2003/IEC60115-1:2001一一“标志”内容中增加了“电阻温度系数”一“质量评定程序”中增加了“能力批准程序”“返工和返修”等内容；一一“试验和测量程序”中对表面安装电阻器的绝缘电阻和耐电压试验夹具、可焊性试验和耐焊接热试验等试验内容进行了更改：一“试验和测量程序”中，“寒冷”“干热”分别改为“低温”和“高温”，-—“试验和测量程序”中的标准大气条件的相对湿度由“45%~75%”改为25%～75%”：—增加了附录D的内容。
为便于使用，本规范作了如下编辑性修改：删除了[EC60115-1：2001的前言：一一“本标准一词改为本规范”本规范的附录A，附录B和附录D是规范性附录附录C是资料性附录。本规范由中华人民共和国信息产业部提出。本规范由全国电子设各用阻容元件标准化技术委员会归口。本规范起草单位：中国电子技术标准化研究所（CESI）。本规范主要起草人：彭伟，陈兵惠。本规范所代替规范的历次版本发布情况为：-GB/T5729--1985电子设备用固定电阻器第1部分：总规范》：——-GB/T5729—1994电子设各用固定电阻器第1部分：总规范》。1总则
1.1范围
GB/T5729-2003/1EC60115-1:2001电子设备用固定电阻器
第1部分：总规范
本规范适用于电子设备用固定电阻器。本规范规定了适用于电子元器件质量评定或其他用途的分规范及详细规范中使用的标准术语，检验程序和试验方法。
1.2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本规范的引用而成为本规范的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本规范，然而，鼓励根据本规范达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本，凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本规范。注：IEC60068采用指定版车，
GB/T2421-1999电工电子产品环境试验第1部分：总则（idtIEC60068-1：1988）GB/T2423.1-2001
60068-2-1:1990)
GB/T2423.2—2001
60068-2-2.1974)
GB/T2423.3-1993
60068-2-31984)
GB/T2423.41993
60068-2-30:1980)
GB/T2423.5—1995
IEC 60068-2-27:1987)
GB/T2423.6—1995
IEC60068-2-29:1987)
电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温（idtIEC电工电子产品环境试验
第2部分：试验方法试验B：高温（idtIEC试验Ca：恒定湿热试验方法（eqvIEC电工电子产品基本环境试验规程电工电子产品基本环境试验规程试验Db：交变湿热试验方法（eqvIEC电工电子产品环境试验
电工电子产品环境试验
GB/T2423.22-2002
电工电子产品环境试验
60068-2-141984.JDT)
GB/T2423.29—1999
电工电子产品环境试验
装件强度（idtIEC60068-2-21：1992）GB/T2423.30-1999电工电子产品环境试验剂中浸渍（idtIEC60068-2-451993）第2部分：试验方法
第2部分：试验方法
试验Ea和导则：冲击（idt
试验Eb和导则：碰撞d
第2部分：试验方法
第2部分：试验方法
第2部分：试验方法
GB/T2471-1995
电阻器和电容器优先数系（idtIEC60063：1963）GB/T2691--1994
电阻器和电容器的标志代码（idtIEC60062：1992)试验N：温度变化IEC
试验U引出端及整体安
试验XA和导购：在清洗
GB/T5076—1985
真有两个轴向引出端的固柱体元件的尺寸测量（idt1EC60294：1969）GB/T70161986
GB/T7017—1986
固定电器电流噪声测量方法（idtIEC60195：1965）电阻器非线性测量方法（idtIEC60440：1973）IEC60027（所有部分）
电工技术用文字村号
IEC60050（所有部分）
国际电工技术词汇（IEV）
GB/T57292003/1EC60115-1.2001IEC60060-1:1989
高压试验技术第1部分：一般定义和试验要求IEC60060-2：1994高压试验技术第2部分：测量体系IEC60068-2-6：1995电子电工产品环境试验 第2部分：试验方法试验Fc：振动（正弦）IEC60068-2-201979
电子电工产品环境试验第2部分：试验方法试验T：锅焊第1次修改单（1987)
IEC60068-2-21:1983
电子电工产品基本环境试验第2部分：试验方法试验M：低气压
IEC60068-2-58：1989电子电工产品环境试验第2部分：试验方法试验Td：可焊性，金属化层耐熔性及表面安装元器件（SMD)耐焊接热IEC60249-2-4：1987印制电路用材料第2部分：规范第4章：通用的环氧玻璃纤维覆铜层压板1EC60410：1973计数检查抽样方案和程序IECQC001002-3：1998IEC电子元器件质量评定体系（IECQ）程序规则第3部分：批准程序IECQC001003：1998IEC电子元器件质量评定体系（IECQ）导则文件IECQC001005：1998按IECQ体系（包ISO9000）批准的制造商，产品及服务的注册表ISO1000：1992国际单位制及其倍数单位和某些其他单位用法的建议2技术信息
2.1单位和符号
本规范采用下列定义。此外，单位、图形符号，文字符号和术语应尽可能从下列标准中选取：IEC60027:
—IEC60050
-ISO1000
需要更多的项目时，应按上述文件的原则导出。2.2定义
本规范采用下列定义。
型号type
具有相似的设计特往和制造工艺，在鉴定批准或质量一致性检验中可以特它们组合在一起的一组电子元件。
这些元件通常用一个单独的详细规范来覆盖，注1，在某些情况下，几个详细规范中的元件可以认为是属于同一型号的：因此，可以将它们组合在一起，以便进行质量评定
注2：只要安转配件对试验结果无太大影响，则可忽略安装配件。注3：额定值包括下列组合：
电气额定值：
尺寸！
-环境类别。
额定值的范国应在详细规范中见定，2.2.2
品种style
通常根据尺寸因素对某一型号元件的再划分，一个品种可以包括儿个派生品种，通常是机械方面的。2.2.3
等级grade
根据预定用途所表示的一股特性的附加术语，例如：长寿命用2
GB/T5729—2003/IEC60115-1:2001“等级”这个术语只能与一个或几个词组合起来使用（如长寿命用），而不能单独用字母或效字来表示，加在“等级”这个术语后面的数字应是阿拉伯数字。2.2.4
门类（电子元器件的）family（of electroniccomponents）突出地表现某一特定的物理特性和（或）完成某一规定功能的一组电子元件。2.2.5
分门类（电子元器件的）subfamily（ofelectroniccomponents）在一个门类内用相似的工艺方法制造的一组电子元件2.2.6
标称阻值rated resistance
电阻器设计所确定的，通常在电阻器上标出的阻值。2.2.7
临界阻值critical resistance
额定电压等于元件极限电压时的阻值（见2.2.15和2.2.16）。注：在70℃的环境温度下，允许加在电阻器两个引出端上的最大电压，当阻值小于临界阻值时是计算出的额定电压，当阻值大于或等丁临界阻值时则是元件极限电压。当温度不是70C时，计算能加的电压应考忠降功耗曲线和元件极限电压。
类别温度范围categorytemperature range电阻器设计所确定的能够连续工作的环境温度范围，该范围取决于它的相应类别的温度极限值。2.2.9
上限类别温度uppercategorytemperature电阻器设计所确定的，用类别功耗标出的那部分额定功耗下能够连续工作的最高环境温度。2.2.10
下限类别温度lower categorytemperature电阻器设计所确定的能够连续工作的最低环境温度。2.2.11
maximum surfacetemperature
表面最高温度
当电阻器在70℃环境温度和额定功耗下连续工作时，该型号中任何一个电阻器的表面所允许的最高温度。
额定温度
rated temperature
在该温度的耐久性试验条件下，可连续施加额定功耗的最高环境温度。除非详细规范另有规定，额定温度为70℃。
颜定功耗rated dissipation
在70℃环境温度下进行70℃耐久性试验，而且阻值变化不超过该试验的充许值时所允许的最大功耗。2.2.14
类别功耗 category dissipation考虑到详细规范规定的降功耗曲线，由详细规范明确规定的在上限类别温度下施加的那一小部分额定功耗。
注：类别功耗可以为零。
GB/T5729—2003/IEC60115-1:20012.2.15
颜定电压（U或Ug）rated voltage用标称阻值和额定功耗乘积的平方根计算出来的直流电压或交流电压有效值。注：由于电阻器的尺寸和结构上的原因，在阻值时不允许施加额定电压（见2.2.16）。2.2.16
元件极限电压limitingelementvoltage可以连续施加在电阻器两个引出端上的最大直流电压或交流电压有效值（元件极限电压通常取决于电阻器的尺守和制造工艺
本规范使用“交流电压有效值”这个术语时，峰值电压不超过其电压有效值的1.42倍。注：当阻值大于或等于临界阻值时，只对电阻器施加元件极限电压。2.2.17
绝缘电压（仅适用于绝缘型电阻器）insulation voltage在连续工作的条件下，在电阻器的各个引出端与任何导电安装面之间可以施加的最大峰值电压。2.2.18
绝缴型电阻器
insulatedresistor
是一种满足耐电压和绝缘电阻测试要求的，且安装在金属板上进行稳态提热试验时加有极化电压的电阻器。
络缘电阻insulation resistance在考中。
阻值随温鹿变化variation of resistance with temperature阻值随温度变化按照下述定义可以表示为电阻温度特性或电阻温度系数。2.2.20.1
temperature characteristic of resistance电阻温度特性
相对于基准温度20亡，在类别温度之间规定的温度范围内产生的阻值最大可逆变化。2.2.20.2
电阻温度系数atemperature coefficient of resistance两个规定温度之间的阻值相对变化除以产生这个变化的温之差，注：应该说明，采用该术语并不意味着这个西数的线性程度如何，也不作任何假设。2.221
电阻电压系数voltage coefticient of resistance施加电压而产生的阻值可逆变化，用每施加一伏电压阻值变化的百分数表示。2.2.22
visibledamage
可见损伤
对于电阻器的预定用途来说，降低了其使用性的可看得见的损伤，2.2.23
表面安装电阻器
surface mount resistor
是一种尺寸小，引出端形状和特征适用于混合电路和印制电路板的固定电阻器。2.2.24
带散热器的电阻器heat-sinkresistor是一种设计成安装在独立做热器上的电阻器。4
额定功耗（仅对带散热器的电阻器）rateddissipationGB/T5729--2003/IEC60115-1.2001对于带散热器的电阻器，在25C环境温度下当安装在标准散热器上进行室温耐久性试验引起的阻值变化不大于该项耐久性试验规定值时所允许的最大功耗。2.2.26
元件最高温度maximumelementtemperature在允许工作的任一条件下，电阻器表面或其内部任一点上的最高温度。2.3优先值
2.3.1概述
每个分规范应规定适用于该分门类的优先值，对于标称阻值还应见2.3.22.3.2标称阻值的优先值
标称阻值的优先值应从GB/T2471一1995规定的数系中选取。2.4标志
2.4.1概述
2.4.1.1标志中给出的内容通常从下述项目中选取，每项的相对重要性由它在项目顺序中的位置来表示a）标称阻值：
b）标称阻值允许偏差：
电阻温度系数（适用时）：
制造年，月（或周）：
详细规范号和品种标记：
制造厂的名称或商标
2.4.1.2电阻器上应清楚地标出2.4.1.1中a)和b)，并应尽量标出其余各项。电阻器上的标志内容应避免重复
2.4.1.3电阻器的包装件上应清楚地标出2.4.1.1全部内容。2.4.1.4增加任何标志应不致引起混滑。2.5代码
当阻值，允许偏差或制造日期采用代码时，其方法应从GB/T2691—1994中选取。3质量评定程序
3.1概述
当本规范和相关规范用于完整的质量评定体系时，如IEC电子元器件质量评定体系（IECQ）应遵守3.5和3.6的要求
当本规范和相关规范不用于IECQ这类质量评定体系时，如设计验证或定型试验时，可以采用3.5.1和3.5.3b）的程序和要求，但各项试验和试验的各个部分应按试验一览表给出的顺序进行。在电阻器能按本条程序鉴定之前，制造广应按IECQC001002-3的规定扶得鉴定机构批准，对电阻器质量评定的批准可采用两种方法，一种是接1ECQC001002-3的第3章进行鉴定批准：一种是按ECQC001002-3的第4章进行能力批准。对于电阻器的一个分门类，鉴定批准和能力批准必须有独立的分规范，并且，只有已经填布了有关分规范时才能使用能力批准。3.1.1监定批准的范围
整定批准适用于同一详细规范中采用相似设计和工艺制造的一个规定范的电阻器。按3.5和相关分规范规定，详细规范针对相应的评定水平和性能水平规定的试验程序直接用于被鉴定的电阻器。
GB/T5729—2003/1EC60115-1.20013.1.2能力批准的鉴定范围
能力批准适用于基于同一设计规则，采用同一工艺制造的电阻器。当按用户定制的要求生产电阻器时，能力批准特别适用，
在能力批准条件下，详细规范应分为下列三类3.1.2.1能力鉴定元器件（CQCs），包括过程确认的试验装置国家监存检查机构NIS）认可的每个能力批准元器件应纳制一份详细规范。详细规范应舰定CQC的用途，并包括所有的相关试验严酷等级和范围。3.1.2.2标准目录元器件
当制造厂要求接能力批准程序获得批准的电阻器列人IECQ注册目录时，应缩写与空白详细规范相一致的能力批准详细规范。这种规范应由IECQ注册，且电阻器应列人IECQC001005中。3.1.2.3用户定制元器件
详细规范（一股栋为定制详细规范(CDS力的内容应按TECQC001002-3中4.4.3现定?由制造厂与用户协商
详细规范中较详细内容由相关分规范给出。能力批准是在确认设计规范，工艺和质量控制程序，以及能力批准元器件的试验结果，包括所有过程确认的试验装置的基础上，对制造设施给于批准。详细内容见3.6和相关分规范。3.2物始制造阶段
对于固定电阻器的规范而言，初始制造阶段是：一膜型电阻器：
在基体上淀积电阻膜：
一碳合成型电阻器：
粘合剂在案合过程中产生最大变化的工序：一线绕型电阻器：
电阻线（或带）在骨架上的绕制：金属箔电阻器：
电阻箱在基体上的固定。
3.3分承包
如果初始制造阶段和（或）后续阶段是采用分承包方式，则应符合IECQC001002-3中4.2.2的规定。分规范可按1ECQC001002-3中4.2.2.2要求限制分承包。3.4结构类似元件
对于鉴定批准或能力批准的鉴定批准试验或质量一致性检验的结构相似元器件的分组，应在相关分规范中规定。
3.5鉴定批准程序
3.5.1鉴定批准的资格
制造厂应符合IECQC001002-3的3.1.1的要求。3.5.2鉴定批准的电请
制造厂应执行IECQC001002-3的3.1.3的规定。3.5.3鉴定批准的试验程序
应采用下列两种程序中的一种：制造厂应在尽可能短的时间内进行三个批次的逐批检验和一个批次的周期检验，以证实符合a
规范的要求。在组成检验批的周期之内，制造工艺应无重大改变。样本应按IEC60410的规定从批中抽取（见附录A）。样本中应包括该批中具有代表性的最高阻值和最低阻值及临界阻值（当临界阻值处于最高值和最低值之间时）的样本单位，最低值和最高值的选取6
决定了授予鉴定批准的阻值范围。GB/T5729-2003/IEC60115-1.2001应使用正常检查，但当样本大小是接零个不合格品子以接收，应增加样本单位以满足一个不合格品予以接收所需要的样本大小。
b）制造厂应按分规范中给出的固定样本大小试验一览表进行试验，以证实符合规范要求。构成样本的样本单位应从现行生产的产品中随机抽取或按NSI批准的方式抽取。3.5.4鉴定批准的授予
当IECQC001002-3的3.1.4的程序已圆满完成时，应授子鉴定批准。3.5.5鉴定批准的维持
应用质量一致性（见3.5.6）的常规试验来维持鉴定批准。3.5.6质量一致性检验bzxZ.net
与分规范相关的空白详细规范应规定质量一致性检验的试验一览表。此表应规定连批和周期检验的分组，抽样和周期。
除耐久性试验之外，在C组检验的所有分组中，允许采用转换程序以减少C组检验的频度。若需要，可规定多个一览表。
3.6能力批准程序
3.6.1概选
固定电阻器技术的能力批准包括：完整的设计，材料制备和制造技术（包括控制程序和检验）一对过程和产品所阐明的性能范围，也就是对能力鉴定元器件（CQCs）和过程控制参数（PCPs）的性能范围：
获得批准的机械结构范围。
3.6.2能力批准的资格
制造厂应符合IECQC001002-3的4.2.1的要求。3.6.3能力批准的申请
制造厂应执行IECQC001002-3的4.2.4及相关分规范的要求。3.6.4能力描述
应按IECQC001002-3的4.2.5的能力手册及相关分规范的要求描述能力。NSI应将能力手册视为保密文件。制造厂若愿意，可以对第三方公开手册的部分或全部内容。3.6.5能力证实和验证
为证实和验证能力，制造厂应按IECQC001002-3的4.2.6及相关分规范的要求，以及下列细则进行。3.6.5.1证实能力用的CQCs
根据能力手册规定的需证实的能力范围，制造厂与NSI应协商过程控制参数和能力鉴定元件的范围。通过试验来证实按照能力手册设计，生产和过程控制参数所确定CQCs的范围，CQCs应满足下列要求：
采用的CQCs的范围应代表中请能力的全范围，所选择的CQCs应能证实各种获取范围的组合。
CQCs应属下列情况一种：
一按证实的能力范围组合而特殊设计的电阻器！一采用常规生产设计的电阻器：一上述两种情况组合，但应满足乱）的要求。当专门为能力批准设计和生产CQCs时，制造厂应采用与敬行产品相同的设计规范，材料和生产工艺。应对每一CQC制定一份详细规范，并应按附录D的格式进行编写。详细规范应表明CQC的目的，并应包括所有相关严酷等级和试验范围，这些可参照内部控制文件。内部控制文件所规定的生产试GB/T5729—2003/IEC60115-1.2001验和记录用以证实对过程的控制和维持及能力的范围。3.6.5.2能力范国
相关分规范中应规定能力范围。3.6.6能力批准的程序
按IECQC001002-3的4.2.6的规定，制造厂应对申请能力的评定编写一份程序，该程序的设计应使得用一个相关的CQC来验证每一申请能力范围。程序应包括下列内容：
一表明批准活动的计划时间表的直方图或其他方式：一所有CQCs参照其各自详细规范所采用的细节：一由每一CQC证实的直方图所示的特性一一涉及到对工艺控制所采用的控制方案。3.6.7能力批准的试验报告
按照IECQC001002-3的4.2.6.3的规定，能力报告应为正式出版物。报告应符合本规范的要求并应包括下列内容：
能力手册的版本号和日期：
一接3.6.6规定的能力批准的程序：一在执行程序期间获得的所有试验结果：一采用的试验方法！
失效（见3.6.10.1)时采取措施的报告。报告应由指定的管理者代表（DMR）签字，作为获取结果的事实证明，并提交给国家授权的能力批机构。
3.6.8能力描送的摘要
在获取能力批准后，摘要将成为IECQC001005中的正式出版物。摘要应包括对制造厂能力的简要描述，并对制造厂获得批准的技术、产品的结构方式及产品范围给出足够的信息。
3.6.9可能影响能力批准的更改
可能影响能力批准的任何更改应满足IECQC001002-3的4.2.1.1。3.6.10初始能力批准
授于能力批准的条件
CQCs所选的范围已完全满足CQC详细规范的评定要求，不允许有不符合项！一一过程控制体系已完全按控制方案执行，能力批准一般过程见图1。
3.6.10.1失效处理程序
见IECQC001002-3及下列细则：
当样本单位不符合试验要求时制造厂应通知NSI.并明确采取下列a）和b)项规定的措施之一：a）对已计划的能力范围进行了更改：b）对下列之一的失效原因进行了研究：试验本身失效，如试验设备失效或操作错误：设计或过程失效。
如果确定的失效原因为试验本身失效，那么在采取了必要的纠正措施后，用失效的样本单位或一个新的样本单位进行试验一览表的试验。如果采用新的样本单位，应将其按失效样本单位采用的试验一览表规定的顺序进行所有试验项目。如果确定的失效原因是设计或过程失效，应实施一个试验程序来验证失效原因已消除，且已实施包8
GB/T5729—2003/IEC60115-1.2001括文件在内的所有纠正措施。当采用纠正措施之后，用新的CQCs重复进行发生失效的试验程序。制造厂全部完成上述活动后，应向NSI报告，并附上能力批准试验报告的复印件（见3.6.7）。电阳器范国
选择过程控制参数
制定控制方案
开始过程控制
过程控制
初输能力批准
范围验证
选择配力鉴定元量件
制定COCs详通规范
制定能力整定元器件
试验程序
逐批检验
图1能力批准一览表
3.6.10.2选择PCPs和COCs的总体方案每个制造厂应按相关分规范中给定的示例编制过程流程图。对过程流程图中所包括的所有步骤，制造厂应规定相应的过程控制。制造厂应按相关分规范中给定示例注明控制点。3.6.10.3过程控制试验方案
试验方案应构成制造厂采用的过程控制体系的一部分。当采用统计过程控制（SPC）时，应按SPC基本要求完成。在过程节点中，SPC方案为强制控制点。对使用产品设备的每一过程步骤，制造厂应按规定的间隔监测过程参数，并将读取的数据与已确定的控制和执行范围相比较，
3.6.10.4对CQCs验证能力范围的试验方案为验证CQCs能力范围的试验方案应在相关分规范中规定。3.6.11能力批准的授予
当已符合IECQC001002-3的4.2.6规定的程序及相关分规范的要求时·应授于能力批准。3.6.12能力批准的维持
能力批准的维持应满足IECQC001002-3的4.2.9的要求，能力手册中申请的要求及相关分规范中规定的维持一览表的要求。
此外应采用下列细则：
能力批准有效期为两年，两年内不需重新试验。应由制造厂规定CQCs重新试验的程序。对过程控制，制造厂应建立一控制体系。控制程序图的示例可在分规范中给出。对能力范围的验证，制造厂应确保3.6.10.4中与其能力批准相关的所有试验9
GB/T5729—2003/LEC60115-1:2001方案至少每两年重复一次。
交货电阻器的质量一致性检验可用于相关能力批准的维持。特别是对制造厂采用相同的工艺，并在其能力批准范围内鉴定批准的电阻器，其能力批准的过程控制试验结果和质量一致性周期试验结果可用于能力批准的维持
制造厂应确保CQCs的范围代表交货产品并符合相关分规范的规定。制造厂应维持生产，使得
能力手册中规定的过程维持不变，按3.6.9程序经NSI同意增加或删除的内容除外！生产及最终试验的场所没有改变！一在能力批的情况下，制造厂不间断地生产超过六个月。制造厂应对能力维持程序的过程予以记录，以便在任何规定的周期内都能确定已完成验证的能力范围及将要进行验证的能力范围。3.6.13能力批准的扩展
制造厂可以通过完成3.6.10.4中扩展型号范围的试验方案来扩展能力批准的范围。如果建议的扩展与3.6.10.4所规定的型号范围不同，制造厂应提出所采用的抽样及试验，并经NSI批准，制造厂还应对新的范国所需新的工艺建立过程控制。能力打扩展的申请应与原始批准的方式相同，3.6.14质量一致性检验
质量一致性检验要求应在详细规范中规定，并应符合IECQC001002-3的4.3.1的要求，3.7返工和返修
3.7.1返工
如果相关分规范中禁止，则不执行IECQC001002-3中4.1.4定义的返工，如果对特定元件在一些限定情况下可采用返工，相关分规范中应说明。返工不允许分承包。
3.7.2返修
按IECQC001002-3的4.1.5定义，经返修后的电阻器在IECQ体系中不得放行。3.8交货放行
3.8.1概述
电阻器在完成详细规范中规定的质量一致性检验后，应按IECQC001002-3的3.2.6和4.3.2的规定进行交货放行。
3.8.2已鉴定批准的产品在B组检验完成前交货放行对B组检验而言，当IEC60410的转移放宽条件成立时，则制造厂在完成B组试验前允许放行这些元器件。
3.9放行批的合格验证记录
当采购方要求合格验证记录时，该记录应在详细规范中规定。注，对于能力批准，合格验证记录仅提供对能力鉴定元器件所进行的试验记录。3.10延期交货
除非分规范中另有规定·随散行批一同放行的忙存期超过二年的电阻器，在交货前应接详细规范A组和B组的规定，重新进行可焊性试验和阻值测量。由制造厂DMR采取的重新检验程序应得到NSI批准。一旦某一批满意地通过重新检查，则其质量在规定的周期内可以得到保证。3.11替换的试验方法
见IECQC001002-3的3.2.3.7及下列细则：在有争议的情况下，只能使用规定的方法进行判定和仲裁，10
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