本标准适用于位错密度为0--100000个/CM 的砷化镓单晶的位错密度的测量。检验面为[111]面和[100]面。 GB/T 8760-2006 砷化镓单晶位错密度的测量方法 GB/T8760-2006

本标准适用于砷化镓外延层厚度的测量，测量厚度大于2μm。要求衬底材料的电阻率小于0.02Ω·cm，外延层的电阻率大于0.1Ω·cm。 GB/T 8758-2006 砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法 GB/T8758-2006

本标准适用于掺杂砷化镓单晶中载流子浓度的测量。 GB/T 8757-2006 砷化镓中载流子浓度等离子共振测量方法 GB/T8757-2006

本标准适用于位错密度0 --100000 的 型和 型锗单晶棒或片的位错密度或其他缺陷的测量。观察面为[111]、[100]和[113]面。 GB/T 5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法 GB/T5252-2006

GB 2124-1980 硒中硒量的测定(硫代硫酸钠容量法) GB2124-1980

GB 2119-1980 硒中硫量的测定(蒸馏还原吸光光度法) GB2119-1980

GB/T 4373.1-1984 砷化学分析方法 溴酸钾容量法测定砷量 GB/T4373.1-1984

本标准规定了用红外线吸收法及燃烧碘酸钾滴定法测定硫量。本标准适用于硅钙合金中硫量的测定。测定范围：0.005%~0.070%。 GB/T 4700.7-1998 硅钙合金化学分析方法 红外线吸收法和燃烧碘酸钾滴定法 测定硫量 GB/T4700.7-1998

本标准规定了红外线吸收法测定碳量。本标准适用于硅钙合金中碳量的测定。测定范围：0.025%~1.200%。 GB/T 4700.5-1998 硅钙合金化学分析方法 红外线吸收法测定碳量 GB/T4700.5-1998

本标准规定了用磷钼蓝分光光度法测定磷量。本标准适用于硅钙合金中磷量的测定，测定范围：≤0.06%。 GB/T 4700.4-1998 硅钙合金化学分析方法 磷钼蓝分光光度法测定磷量 GB/T4700.4-1998