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【国家标准(GB)】 工业硅化学分析方法 第4部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法测定素含量
本网站 发布时间:
2008-06-09 15:00:00
- GB/T14849.4-2008
- 现行
标准号:
GB/T 14849.4-2008
标准名称:
工业硅化学分析方法 第4部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法测定素含量
标准类别:
国家标准(GB)
标准状态:
现行-
发布日期:
2008-06-09 -
实施日期:
2008-12-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
标准ICS号:
冶金>>有色金属>>77.120.10铝和铝合金中标分类号:
冶金>>金属化学分析方法>>H17半金属及半导体材料分析方法
出版社:
中国标准出版社书号:
155066·1-32554页数:
平装16开/页数:8/字数:7标准价格:
10.0 元出版日期:
2008-12-01计划单号:
20073440-T-610

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标准简介:
标准下载解压密码:www.bzxz.net
GB/T 14849《工业硅化学分析方法》分为四部分,本部分为第4部分。本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、钛、锰、镍含量的测定方法。本部分也适用于以上其含量的测定。 GB/T 14849.4-2008 工业硅化学分析方法 第4部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法测定素含量 GB/T14849.4-2008
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