【国家标准(GB)】 硅抛光片表面颗粒测试方法

本网站 发布时间: 2005-09-19 15:00:00
  • GB/T19921-2005
  • 现行

基本信息

  • 标准号:

    GB/T 19921-2005

  • 标准名称:

    硅抛光片表面颗粒测试方法

  • 标准类别:

    国家标准(GB)

  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    2005-09-19
  • 实施日期:

    2006-04-01
  • 出版语种:

    简体中文
  • 下载格式:

    .rar.pdf
  • 下载大小:

    KB

标准分类号

  • 标准ICS号:

    冶金>>金属材料试验>>77.040.01金属材料试验综合
  • 中标分类号:

    冶金>>金属化学分析方法>>H17半金属及半导体材料分析方法

关联标准

  • 采标情况:

    SEMI M25-1995 NEQ SEMI M35-0299 NEQ SEMI M50-1101 NEQ ASTM F1620-1996 NEQ ASTM F1621-1996 NEQ

出版信息

  • 出版社:

    中国标准出版社
  • 书号:

    155066.1-26924
  • 页数:

    16开, 页数:10, 字数:16千字
  • 标准价格:

    10.0 元
  • 出版日期:

    2005-12-16
  • 计划单号:

    20000544-T-610

其他信息

  • 首发日期:

    2005-09-19
  • 起草人:

    孙燕、卢立延、董慧燕、刘红艳、翟富义
  • 起草单位:

    北京有色金属研究总院
  • 归口单位:

    全国有色金属标准化技术委员会
  • 提出单位:

    中国有色金属工业协会
  • 发布部门:

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
  • 主管部门:

    中国有色金属工业协会
标准简介标准简介/下载

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标准简介:

本标准规定了应用扫描表面检查系统(SSIS)对硅抛光片表面颗粒进行测试、计数和报告的程序。本标准适用于硅抛光片,也可适用于硅外延片或其他镜面抛光片(如化合物抛光片)。本标准也适用于观测硅抛光片表面的划痕、桔皮、凹坑、波纹等缺陷,但这些缺陷的检测、分类依赖于设备的功能,并与检测时的初始设置有关。 GB/T 19921-2005 硅抛光片表面颗粒测试方法 GB/T19921-2005 标准下载解压密码:www.bzxz.net
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