-
GB/T 43313-2023碳化硅抛光片表面质量和微管密度的测试 共焦点微分干涉法
-
GB/T 6624-2009 硅抛光片表面质量目测检验方法
-
GB/T 4058-2009 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法
-
YS/T 25-1992 硅抛光片表面清洗方法
-
-
硅抛光片表面清洗方法
2024-07-01 类别：有色金属行业标准(YS)+ 查看标准
-
-
GB/T 19921-2005 硅抛光片表面颗粒测试方法
-
GB/T 12964-1996 硅单晶抛光片
-
GB/T 12964-1996 硅单晶抛光片}
-
硅单晶抛光片
1996-11-04 类别：国家标准(GB)+ 查看标准
-
-
GB 6622-1986 硅化学抛光片漩涡缺陷和条纹的测试方法
-
GB 6622-1986 硅化学抛光片漩涡缺陷和条纹的测试方法}
-
硅化学抛光片漩涡缺陷和条纹的测试方法
1999-01-01 类别：国家标准(GB)+ 查看标准
-
-
GB 6624-1986 硅抛光片表面质量目测检验方法
-
GB 6624-1986 硅抛光片表面质量目测检验方法}
-
硅抛光片表面质量目测检验方法
1999-01-01 类别：国家标准(GB)+ 查看标准
-
-
GB 6623-1986 硅抛光片表面热氧化层错的测试方法
-
GB 6623-1986 硅抛光片表面热氧化层错的测试方法}
-
硅抛光片表面热氧化层错的测试方法
1999-01-01 类别：国家标准(GB)+ 查看标准
-
-
GB 6621-1986 硅抛光片表面平整度的非接触式测试方法
-
GB 6621-1986 硅抛光片表面平整度的非接触式测试方法}
-
硅抛光片表面平整度的非接触式测试方法
1999-01-01 类别：国家标准(GB)+ 查看标准
-
热门标准
更多+
- GB/T 26804.6-2011工业控制计算机系统 功能模块模板 第6部分：数字量输入输出通道模板性能评定方法 07-29
- GB/T 26804.1-2011工业控制计算机系统 功能模块模板 第1部分：处理器模板通用技术条件 07-29
- GB/T 36413.1-2018自动化系统 嵌入式智能控制器 第1部分：通用要求 07-29
- GB/T 17614.3-2018工业过程控制系统用变送器 第3部分：智能变送器性能评定方法 07-29
- GB/T 37391-2019可编程序控制器的成套控制设备规范 07-29
- GB/T 26804.4-2011工业控制计算机系统 功能模块模板 第4部分：模拟量输入输出通道模板性能评定方法 07-29
- GB/T 26804.5-2011工业控制计算机系统 功能模块模板 第5部分：数字量输入输出通道模板通用技术条件 07-29
- GB/T 26804.3-2011工业控制计算机系统 功能模块模板 第3部分：模拟量输入输出通道模板通用技术条件 07-29
- GB/T 26803.3-2011工业控制计算机系统 总线 第3部分：系统外部总线 并行接口通用技术条件 07-29
- GB/T 26803.2-2011工业控制计算机系统 总线 第2部分：系统外部总线 串行接口通用技术条件 07-29
- GB/T 20819.2-2015工业过程控制系统用模拟信号调节器 第2部分：检查和例行试验导则 07-28
- GB/T 26802.2-2017工业控制计算机系统 通用规范 第2部分：工业控制计算机的安全要求 07-28
- GB/T 30245.1-2013工业过程测量和控制系统用远程输入输出设备 第1部分：通用技术条件 07-28
- GB/T 17614.1-2015工业过程控制系统用变送器 第1部分：性能评定方法 07-28
- GB/T 15969.6-2015可编程序控制器 第6部分：功能安全 07-28
- GB/T 17614.2-2015工业过程控制系统用变送器 第2部分：检查和例行试验方法 07-28
- GB/T 30245.2-2013工业过程测量和控制系统用远程输入输出设备 第2部分：性能评定方法 07-28
- GB/T 15969.3-2017可编程序控制器 第3部分：编程语言 07-28