【电子行业标准(SJ)】 半导体分立器件 管座管帽引线框架总规范

中华人民共和国电子工业部部标准SJ2850-88
半导体分立器件
管座管帽引线框架总规范
小功率管管座管帽详细规范
大功率管管座管帽详细规范
螺栓形管座管帽详细规范
塑封引线框架详细规范
1988-02-25发布
中华人民共和国电子工业部
1988-10-01实施
1范围
中华人民共和国电子工业部部标准半导体分立器件管座管帽引线框架总规范
SJ2850-88
本规范适用于半导体分立器件封装用管座、管帽、塑封引线框架及玻璃塑封二极管引线（以下简称外壳），它规定了对外壳进行质量评定时的总程序，亚给出了下述测试和试验应遵循的总原则。
外观检验
—电特性测试
一气候和机械试验
特定种类外壳的详细规范和本规范构成对外壳质量的完整要求。2总则
2.1优先顺序
当文件的规定发生矛盾时，文件的权力应按以下优先顺序排列a.详细规范
b，总规范
C中国电子元器件质量认证委员会有关文件（适用时）d、需要参考的其它文件
2.2有关文件
详细规范应规定适用的文件。
GB3100
ISO2015
GB7581
GB4937
SJ/Z9007（IEC410）
2.3标志
国际单位制及其应用
周的编号
半导体分立器件外形尺寸
半导体分立器件机械和气候试验方法计数检查抽样方案和程序
包装储运图示标志
低压电器基本试验方法
外壳包装盒（袋）上，应有如下标志：a，型号、质量类别（见2.4）；b制造单位名称、代号或商标（见2.3，1）：中华人民共和国电子工业部1988-02-25发布1988-10-01实施
c.检验批识别代码（见2.3.2）；d.详细规范号：
SJ2850-88
e，需要时的其它特殊标志，例如：“小心轻放”等。2.3.1制造单位名称、代号或商标应能根据标志方便地追溯到外壳的制造单位。2.3.2检验批识别代码
检验批识别代码一般由四位数字表示，其前两位数字为年份的最后两位数字，后面两位数字为按ISO2015号标准规定的周（例如8245表示1982年的第45周）。打印的日期应是检验批提交检验的日期。如果在同一周内提交检验的同一型号外壳多于一批时，则可采用一检验批识别后缀（例如一个字母）来区别。2.4质量评定类别
本规范中质量评定分为I、I、耳三类。各检验批的外壳应按规定的质量类别进行检验。间一检验组的AQL和LTPD可依类别而异，但应符合详细规范的规定（见3.4,2），对各类外壳的最低要求如下：
I类该类外壳应符合Ⅱ类或Ⅲ类的鉴定批准要求。各批都应符合A组逐批检验要求。每三个月对一批进行B4、B41、B5分组检验亚符合要求。每年至少对一批进行B组和C组检验应符合规定要求。
1类一—该类外壳应符合A组和B组逐批检验及C组周期检验要求。类一该类外壳应经过百分之百的筛选，并符合A组和B组逐批检验及C组周期检验要求。
详细规范可以规定包括筛选在内的附加要求和严格程度不低于本规范规定的替代要求。2.5筛选
筛选是对一批中的全部外壳进行的检验或试验。当详细规范要求时，应按3.4.2中规定的相应类别的筛选程序对一批中的所有外壳进行筛选，单剔除全部有缺陷的外壳。只有当筛选程序与公认的失效机理无关或相矛盾时，才采用本规范尚未规定的其它筛选程序。如果规定的筛选程序的某部分已按规定构成生产工序的一部分时，则可不再进行。
3质量评定程序
质量评定包括鉴定批准程序和质量一致性检验。如申请质量认证，应按详细规范、本规范和中国电子元器件质量认证委员会的有关文件进行。质量评定试验分为逐批进行的A组和B组检验。周期进行的C组检验及规定时的D组试验3.1鉴定批准的适用性
在外壳制造过程中，从制造的初始阶段开始，总是在质量管理负责人的监督下进行的，该外壳即具备了鉴定的条件。
注：质量资负亢人由制造单位任命，经上级监督检查机构认可，对一个或若平个型导外光质量负盘。，力加工管管竭的材料落料的第一道工序，称为外尧制造的初始阶段。2
3.2检验批的构成
S32850-88
一个检验批可由一个生产批构成，或由符合下述条件的几个生产批构成a，这些生产批是在基本相同的材料、工艺、设备等条件下制造出来的：b，按照制造单位的有关部门与质量管理负责人协商所做的规定，将生产过程中的质量管理和检验进行到必要的程度；C，每个生产批的检验结果表明，材料和工序的质量均能保证生产预期质量类别的外壳。d，若干个生产批构成一个检验批的时间通常不得超过一周。除非有关详细规范允许，但也不得超过一个月。
3.3鉴定批准程序
应按本规范和详细规范中关于质量一致性检验的逐批和周期检验的规定，对尽可能短的时间内的至少三个指定的检验批进行逐批的检验。从这些批里的至少一批中抽取样品进行周期检验。需要时可规定进行D组检验。如上述检验合格，即应认为鉴定试验已获通过。3.4质量一致性检验
质量一致性检验由A组、B组和C组检验组成。3.4.1检验组和分组的划分
制订详细规范时，应遵循以下原则：3.4.1.1A组检验
A组检验应逐批进行外部目检和特性测试。A组检验中分组的划分见表1.
表1A组检验
3.4.1.2B组检验
检检或试验
镀层厚度
绝缘电阻
耐压强度
引用标摊
附录CC2
附录C
附录C
附录C.C5
条件和规定
在详细规范中具体规定
除1类外壳外，B组检验应逐步进行或按3.4。31条的规定，以评定外壳经受机械、气候和试验的能力。
B组检验中分组的划分见表2
检验戚试验
引出端强度
可焊性
温度变化继之以密封
机械冲击或振动
继之以恒定加速度
键合强度
放行批证明记录
C组检验
SJ2850-88
表2B组检验
引用标准
GB49372.1
GB49372.2
GB49373.1.2附录CC5
GB4937-85
2,3,2,4#2,5
附录CC6
GB49372.6
条件和规定
在详细规范中具体规定
除I类外壳外，C组检验应每三个月进行一次或按3.4.3.2的规定。C组检验中分组的划分见表3.
C组检验
检验或试验
引出端强度
可焊性
温度变化继之以密封
机械冲击或振动继之以
恒定加速度
稳态激热
键合强度
放行批证明记录
3.4.1.4D组试验正在考虑中
3.4.2检验和筛选要求
引用标准
GB49372.1
GB49372.2
GB49473.1.1
附录Cc5
GB4937
2.3;2.4,2.5
GB49373.5
GB49372.6
条件和要求
在详细规范中具体规定
最终检验外观和密封，其它
在详细规范中具体规定
在详细规范中具体规定
A组检验的抽样要求见表4，详细规范应确定A组检验是采用AQL方案，还是LTPD方案。
B组和C组检验的抽样要求见表5。采用AQL抽样方案时，应根据IEC标准410号确定抽样方案；采用LTPD抽样方案时：应根据本规范附录A确定抽样方案。AQL值及LTPD值是对整个分组或整个次分组而言的，不是对其中的任一单项试验而言的。
逐批检验的样品应从该检验批中抽取。周期检验的样品应从一个或几个检验批中抽取，这些批也通过A组和B组检验。
B41C41Www.bzxZ.net
LTPD·
SJ2850-88
表4A组检验的抽样要求
B组和C组捡验的抽样要求
若无其它规定，对于Ⅲ类外壳，应按表6规定的项目、条件和顺序进行百分之百的筛选筛选通常在A组、B组、C组检验前进行，如果在符合A组，B组和C组检验要求后进行时，应重新进行可焊性和A组检验，并符合要求。表6筛选
检验或试验
温度变化
绝续电阻
耐压强度
·对LTPD方案的最大合格判定数为4。引用标准
GB4937
附录CC5
附录CC3
附录CC4
条件和规定
在详细规范中具体
3.4.2.1批拒收判据
SJ2850-88
不符合A组和B组检验要求的批为不合格批。如果外壳在质量一致性检验中不符合某分组中的一项试验要求，将导致该批外壳被拒收，质量一致性检验即可停止。如果一检验批在质量一致性检验中不符合^组和B组检验要求，而且未被重新提交，则该批即判为拒收批。3.4.2.2董新提交的批
如果技术上可能，初次提交不符合A组和B组检验要求的批可经过返工后重新提交。重新提交的批应只包括原批中的外壳。每个检验组（A组和B组）只能重新提交一次。重新提交的批应与其它的批分开，并清楚地标明为重新提交的批。重新提交的批对初次提交时全部不合格试验分组，应采用加严检验的办法重新随机抽样。B组检验不合格而重新提交时，应包括A组检验。
34,2.3试验设备故障或操作人员失误时的程序如果确认外壳失效是由于试验设备的故障或操作人员失误引起的，应将失效记入试验记录，并将失效情况及为什么确认失效不应记入外壳不合格数的详细说明提交上级监督检查机构。质量管理负责人应决定是否可将同一检验批中抽取别的外壳替代样品中被损坏的外壳。替代外壳应进行规定的全部试验。3.4.2.4周期检验不合格时的程序如果B组检验不合格，则相应的C组检验即无效。如果C组检验不合格，耳不是由于设备故障或操作人员失误所引起，则；34.2.4,1质量管理负责人应：
a，立即停止外壳的放行；
b，调查不合格的原因，并报告上级监督检查机构。3.4.2.4.2.质量管理负责人应继续停止放行，直到调查结束并通知了上级监督检查机构后，再按以下程序进行。
3.4.2.4.3如果不合格是由于试验程序中的错误引起的：a，立即恢复放行：
b，以正确的试验程序对从上述检验后的第一个检验批中抽取的一组样品进行试验。3.4.2.4.4如果不合格是由于一个可以立即矫正的制造错误引起的：a。立即恢复已矫正了错误的批的放行：b，对矫正了错误的第一个检验批重新进行检验。如果检验结果不能令人满意，则按以下程序进行。
3.4.2.4.5如果不合格是由于不能立即矫正的错误引起的，但可以采用质量管理负责人满意的筛选试验剔除不合格外壳，则质量管理负责人应决定：a，立即恢复已筛选合格的外壳的放行：b，继续筛选直到制造错误已被矫正，并对矫正了制造错误且未再进行筛选的第一个检验批获得了正常周期检验的满意结果为止。3.4.2.4.6如果确认不合格是由于不能立即矫正的制造错误引起的，也不能通过筛选剔除不合格外壳则应停止质量一致性检验。当制造单位将生产的外壳提交周期检验获得成功，从-6-
SJ2850-88
而证明已克服了制造错误时，经上级督检查机构批准后方可恢复质量一致性检验。如果不能确认不合格是试验程序或制造中的某一错误引起的，则应从以后各检验批中逐批独服样品进行周期检验中不合格分组的全部试验，试验合格的批可以放行。只有连续三个检验批通过这些分组的检验后，才能恢复正常的周期检验。3.4.2.4.7如果在合理的一段时间内不能慢行以上程序，上级监督检查机构将重新检查鉴定批。
3.4.2.4.8热果执行董新检查鉴定后撤消了鉴定批准，上级监督检在机构可以采用简化程序恢复鉴定批准。
3.4.2.4.9如果有问题的周期检验的持续时间超过三个月，对于该类外壳、失效机理和失效范围的特殊情况所采用的特殊程序，应经上级监督检查机构同意。3.4.3放宽检验程序
3.4.3.1B约
如果连续十批通过了B组逐批检验时：则制造单位可采用在不超过三个月的期限内，每隔三批检验一批的程序来代替逐批检验。在采用放宽检验程序期间，如某一分组的检验不合格，该分组即应恢复为正常的逐批检验。3.4.3.2C组
如果连续三次通过了间隔为三个月的周期检验时，则检验周期可延长为六个月。在采用放宽检验程序期间，如某一分组的检验不合格，检验周期应恢复为三个月（同时见3.4.2.4)。3.4.4小批量抽样要求
批量等于或小于200时，可按附录A和附录B的相应要求，采用以下程序之一（如原规定采用AQL抽样方案，应首先从表B3中套得相应的LT！D值）：a，百分之百的外壳进行各项非破坏性试验；b.根据表B2选取相应的LTPD一次抽样方案；C，根据表B2选取相应的LTPD两次抽样方案。3.4.5放行批证明记录（CRRL）
制造单位应编写放行批证明记录，在不超过六个月的期限内呈报上级监督检查机构。质量管理负责人应对该记录的准确性负责。放行批证明记录的内容应包括：a，制造单位名称，商标和地址：b，外壳的型号和执行的详细规范；C，该批制造的起止日期；
d，所做检验的项目；
e，当详细规范规定时，应列入某些环境试验及其它试验的结果。放行批证记录的篇幅一般不超过两页。当外究使用方要求时，制造单位可提供有关放行批的证明记录的副本。放行批证明记录中所含资料为制造单位所有，未经制造单位同意任何人不得泄露。3.4.6承受过磁坏性或非破坏性试验的外壳的交货7
SJ2850-88
在详细规范中应指出试验是破坏性的（D）或非破坏性的（ND）。交货批中不得包含经受过破坏性试验的外壳。经受过非破坏性环境试验的外壳，重新进行A组检验合格后可以交货。
3.4.7延期交货
贮存超过一年的批，在交货前需要对这些批或批中即将交货的外壳重新进行A组检验和B组键合强度试验，检验合格方可交货。当整批外壳都进行过上述检验合格后，则贮存的下：一个一年不要求再进行这些检验。3.4.8交货补充程序
制造单位可自愿将质量评定类别较高的外壳作为质量评定类别或等级较低的外壳交货。3.5统计抽样程序
3.5.1AQL抽样方案
只要符合规定的AQL值和检验水平，可采用一次、两次和多次抽样方案中的任何一种（见IEC410号标准的9.5条）。
3.5.2LTPD抽样方案
见附录A和附录B
36包装、运输和贮存
3.6.1外壳必须有良好的包装，以保证在贮存、运输过程中不受损伤。包装外壳的材料应为化学中性。
3.6.2外壳应贮存在温度为一10～+45°C、相对湿度不大于80%的干燥通风、且无腐蚀性气氛的仓库内。
4标准测试条件
4.1标准测试条件
若无其它规定，应在下述条件下进行所有的测试或试验。环境温度
相对湿度
大气压力
25±5℃
45%~75%
86~106kPa
4.2仲裁测试条件
环境温度
相对湿度
大气压力
5物理检查
25±1'C
48%~52%
86~106kPa
5.1外观目检
若无其它规定，应在正常照明和正常视力条件下进行外观日检，亦可根据外壳实际尺寸，放大3～10倍进行目检。
检查项目如下，
a，机械缺陷；
b.过接质量：
c，表面镀层.
检验要求在详细规范中具体规定。尺寸
SJ2850-88
若无其它规定，应按SJ2849—88《半导体分立器件封装件结构尺寸》进行检验。检验方法在详细规范中具体规定。A1概述
SJ2850-88
附录A
批充许不合格品率（LTPD）抽样方案（补充件）
本附录中规定的程序适用于所有的质量一致性检验。A1.1样品的抽样
应从检验批或子批中随机抽取样品。在连续生产的情况下，只要符合检验批的构成要求，制造单位可在生产期间按确定的周期方式抽取样品。A1.2不合格
一个样品在一个分组的一项或几项试验中不合格，均判为一个不合格。A2抽样方法
逐批检验的数据（抽样数和发现的不合格品数）应从单一检验批中积累，以证明该批外壳符合各个分组的要求。周期检验的样品可从一个或几个检验批中抽取。A2.1样品量
每个分组的抽样数量根据规定的LTPD值由附录B的表B1或表B2中查得。制造单位可以选取多于规定的抽样数量，但允许不合格数不得超过表B1或表B2中与所选择的抽伴数相应的合格判定数。
表B2中确定抽样数量的LTPD的列，应是最接近实际提交批量的批量栏中的那一列。如果实际批量正好界于表中两栏之间，制造单位可在这两栏中任选一栏：如果在表B2相应的批量栏中找不到等于或小于规定的LTPD的值，则应采用百分之百检验。应用表B2中相应批量栏中最接近规定值的LTPD值确定样品量。A2.2合格判定程序
第一次抽样时，选定一个合格判定数，根据规定的LTPD定相应的抽样数并进行检验。如果样品中出现的不合格数不超过预先选定的合格判定数，则判为该检验合格。如果出现的不合格数超过预选的合格判定数，可确定一个追加样品量，使总的样品量符合本附录A，2.1条的规定。表B1或表B2适用于给定分组的第一次抽样，也适用于包括追加样品量在内的总样品量的确定，
A3追加样品
制造单位可在原有样品的基础上追加一定的样品量，但每一检验分组只能追加一次，且追加的样品应经受该分组所包括的全部试验。总的样品量（最初的加上追加的样品量）应根据表B1或表B2中选定的新的合格判定数确定。如果总的不合格数（最初样品的加上追加伴品的）不超过新的合格判定数，则判为该检验合格。如果总的不合格数超过新的合格判定—10
数，则判为该检验不合格。
A4多无判据
SJ2850-88
如果一组样品有一个以上的合格判据，则这一组样品中的全部样品应受约于这一分组的全部判据。在表B1中，合格判定数应对应于规定的LTPD列中小于或等于实际抽样数的最大抽样数。在表B2中，合格判定数应使相应的批量栏中与实际抽样数对应的LTPD值符合规定的LTPD。
A5百分之百检验
允许制造单位对“非破坏性”的各检验分组进行百分之百检验。如果检验批的不合格率超过规定的LTPD值，则认为该分组检验不合格。经百分之百检验的批重新提交时，必按加严检验的LTPD值进行百分之百检验。A6加严检验
加严检验应按附录B的表B1或表B2中比规定的严一级的LTPD值进行。11
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