【电子行业标准(SJ)】 半导体分立器件 大功率管管座管帽详细规范

中华人民共和国电子工业部部标准半导体分立器件大功率管管座管帽详细规范S.J2852-88
本规范适用于半导体分立器件菱形大功率管管座管帽，它与SJ2850-88《半导体分立器件管座管帽引线框架总规范》一起，构成对管座管帽质量的完整要求。2尺寸与外观
2.1尺寸
若无其他规定，管座管帽的尺寸应符合SJ2849-88《半导体分立器件封装件结构尺寸》中有关B2系列的规定
2.2外观
管座管帽应具有良好的外观，金属表面应无明显缺陷，绝缘子封接面应光洁、致密、均匀。
3性能
3.1材料
管座管帽所选用的材料，应能保证其具有良好的机械、密封和电性能。3.2镀层厚度
管座管帽镀镍其厚度为：管座≥5μm，管帽≥4μm。3.3绝缘电阻
管座的绝缘电阻应符合表1的规定。表1
结构代号
B2-01C-Z4
3.4耐压强度
绝缘电阻（α）
管座的耐压应符合表2的规定，且不出现闪络、击穿。2
结构代号
B2-01A-Z,~Z,
B2-01B-Z,~Z.
B2-01C-Z1~Z,
B2-02B-Z,
B2-01C--Z.
注（1)：B2-01C-2.除外
≥2400
中华人民共和国电子工业部1988-02-25发布测试电压（V）
最大漏电流（μA）
1988-10-01实施
3.5密封
管座的漏率应符合表3的规定。
质量评定类别
B3-02B
SJ2852-88
管座管帽的质量评定按SJ2850中2。4条的类进行，标志
设大漏泄率（Pa，cm/s）
除按SJ2850中2。3条规定外，每个包装单位内应有检验合格标志。6
订货资料
订购一种具体管座管帽，至少需要以下资料：a.
数量：
型号规格：
详细规范号：
质量评定类别（不同于本规范时）：任何其他细节（适用时）。
7试验条件和检验要求
A组检验除A1、A2a分组采用AQL独样方案外，其余采用LTPD抽样方案，c=1.B、C组检验采用LTPD抽样方案，c=1。各组检验的抽样要求按SJ2850中3.4.2表4、表5的规定。在本中除非另有规，引用的条文号对应于SJ2850的条文号。A组-—逐批
全部试验都是非破坏性的（见3·4·6）检
+A1分组
按规定。
有争议时15倍放大镜检验。
检验要求
（1）资感管间金属面不允许有缺边、缺角起皱、国抗、起、裂纹及明显的机械划痕（2）管幽引线压焊增面平整、光洁、不氧化，外引线平直。
（3)管座绝缘子流面光洁玫密，毛孔洞、麻，裂和剥离，内部0.3mm以下的气泡不超过2个，绝续不允许口出管座涨平前。（4)管座管相镀层均匀致密，不允诈发花、变总、起皮、起泡及局部无镀层。（5）管座各部分舒焊处郊接牢周，虚焊，焊补跑和均习，无礼洞、随隙。（6）管座压花部分花衰清晰：正孕物残留。铝片装面赞砂均勺，不氧化。
A2a分组，
A2b分组+
镀层草度
A3分组
绝缘电阻
A4分组
解压强度
A5分组
引用探准
附录C
附录c
附录C
附录c
SJ2852-83
月应的度的
整具成专量
规检验。
管座在上引线压理端面和至
线中部各测一点，智帽在外表面任测二点。其余接规定。Www.bzxZ.net
测试电压：
其余按规定
创压时间：103
其余按规定
按规定
注：管相只进行标有*的检验和试验。赖验婴求
按本规范2.1规定
按本规范3.2规定
按本规范3.3规定
按本规范3.4规定
按本规范35规定
B3分组
引出端强度
B5分组
温度变化
继之以
B10分组
B41分组
键合强度
SJ2852-88
B组一逐批
只有标明（D）的试验是破坏性的（见3·4·6）引用标准
GB4937
DB4937
附录C
附录C
GB4937
拉力与引线直径的对应关系
引线直径
在二根引线七分别进行。
其余按规定。
TA=0°C
Tg=100°C
循环次数：10次
没渍时间：t>5mis
转移时间t3~10S
恢复时间：2h
其余按规定。
按规定
在氢气或氮气中进行。
温度：400±5°℃
时间：10min
试验方法A。
试验前进行高温处理，
条件同B10分组。
引线成分：钳。
检验要求
不允许断裂（除密封弯月形外）、松动或引出端与管座本体之间的相对移动。
绝缘子无裂纹和剩离。
按本规范3.5规定
镀镶层不允许起皮、起泡、脱落。逐步增加拉力到规定的
最小值，键合点不脱落。
CRRL分组
G5分组
引用标准
S21852-88
引线直径
(mm）
最小拉力
PW(mN)
共余按规定
B5、B10.B41分组的计数检查结果C组一周期
只有标明（D）的试验是破坏性的（见3.4.6）引用标准
温度变化
C6分组
GB4937
附录C
GB4937
TA=-55\C
Ta=125°C
循环次数：5次
暴露时间t，：10mln
转移时间t2:2~3min
恢复时闻：2h
其余按规定
按规定
降值幅度：980m/s
(100g)
持续时间：6ms
波形：半正弦波
冲击次数，X，Y、乙轴三个互相垂直的方向上，每个方向3次，总计18次。检验要求
检验要求
绝象子不允许出
现裂绞、破裂及
零件脱落现象。
按本规范3.5规定
继之以
C7分组*
稳态鼠热
CRRL分组
引用标准
CB4937
附加说明：
SJ2852-88
其余按规定。
试验程序：B4
加速度：196m/S
（20g）
频率范围：100~2000Hs
扫描时间：X，Y、乙轴三个互相垂直的方间上，每个方向2h，总计6h其余按规定。
最后检查外观和检测气密性。
试验箱湿度：40±2°℃
相对盈度：90%~95%
样品加热到4D+5°C再进人试验箱。严格度：4 d
试验后用酒精棉球轻轻擦拭样品。以清除表面水汽。
恢复时间，2h
其余按规定
验验要求
结构完整性不受破坏，引出线与绝缘子封按部分牢同不松动。绝缘子不碎裂、剥落。
漏泄率符合A5分组要求
管康管辑金属装面不铸蚀。
绝激电阻允许比资前下降
1个数量级。
最后检查外观和按A3分组测景绝缘电C6,C7分组的计激检查结果。
本标准由临安电子器材厂、电子工业部标准化研究所负资起草-6
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