资料名称: | SJ/T11399-2009 SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法 |
标准类别: | 电子行业标准(SJ) |
语 言: | 简体中文 | ||
授权形式: | 免费下载 | ||
标准状态: | 现行 | ||
作废日期: | ◎ | ||
发布日期: | 2009-11-17 | ||
实施日期: | 2010-01-01 | ||
首发日期: | ◎ | ||
复审日期: | ◎ | ||
出版日期: | 2010-01-01 |
标准编号: | SJ/T 11399-2009 | |
标准名称: | 半导体发光二极管芯片测试方法 | |
下载文件: | .rar .pdf .doc | |
标准简介: | 主要规定了电学参数、热学参数、色度学参数以及静电放电敏感性测试等主要性能参数的测试方法。 SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法 SJ/T11399-2009 标准下载解压密码:www.bzxz.net | |
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替代情况: | (参考) | |
采标情况: | (参考) | |
发布部门: | 工业和信息化部(参考) | |
提出单位: | (参考) | |
归口单位: | 工业和信息化部电子工业标准化研究所(参考) | |
主管部门: | 工业和信息化部电子工业标准化研究所(参考) | |
起草单位: | 中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司、杭州浙大三色仪器有限公司、深圳淼浩高新科技有限公司(参考) | |
起 草 人: | 鲍超、胡爱华、牟同升、李明远、彭万华(参考) | |
出 版 社: | 电子工业出版社(参考) |
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页 数: | 11页(参考) | |
书 号: | (参考) | |
计划单号: | (参考) | |
下载次数: | 22次 |