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【电子行业标准(SJ)】 3DG121型NPN硅外延平面高频小功率三极管
本网站 发布时间:
2024-07-11 04:51:43
- SJ790-1974
- 现行
标准号:
SJ 790-1974
标准名称:
3DG121型NPN硅外延平面高频小功率三极管
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
1974-10-01 -
实施日期:
1974-01-01 出版语种:
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标准简介:
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本标准适用3DG121硅NPN外延平面型高频小功率半导体三极管。该产品用于电子设备的高频放大和振荡电路中 SJ 790-1974 3DG121型NPN硅外延平面高频小功率三极管 SJ790-1974

部分标准内容:
中华人民共和国第四机械工业部部标准
3DG121型NPN硅外延平面
高频小功率三极管
SJ790-74
1、本标准适用于8DG121硅NPN外延平面型高频小功率半导体三极管。该产品用于电子设备的高频放大和振荡电路中。2、该产品除本标准规定外,应符合半导体三极管总技木条件SJ614—73的规定。
8、外型结构和尺寸,应符合SJ139-70的B3型。4,技木要求和试验方法:
(1)电参数应符合参数规范表的规定。电参数的测试方法,应符合部颁标准SJ155--65~SJ170--65的规定。(2)hFE分档标志:
50~110
90~160
应符合参数规范表
(8)环境试验后,按顺序测量下列电参数,的规范值。
a)反向电流
b)饱和压降;
c)电流放大系数
d)反向赤穿电压。
(4)高温储存和额定功率试验条件:a)高温储存试验条件:按TjM为175°C下进行一九七四年十月一日实施
SJ790-74
b)额定功率试验条件:功率为PcM值,电压VcB为10V。(5)高温储存和额定功率试验后,按下列标准考核:a)IcBo不得大于规范值的两倍,b)hFE
的相对变化,不得超过±35%;
C)VBES的相对变化,不得超过+20%,d)VcES的变化不得超过0.1V+VcES初·20%。5、说明:
(1)本标准参数表中的电参数,均以25°C为准。(2)生产单位应在产品目录中提供KP、Cob的典型值。(3)生产单位应在产品目录中提供下列特性曲线:a)IB—VBE
b)Ic—VcE
c)BVcEO、BVcBO-TA,
d)hFE—TA,
e)hrE—Ic!
f)fr-Ic,
g)Kp-Ic,
h)Cob-VcB,
I)IcEO、IcBO-TA
3DG121A
3DG121B
8DG121C
8DG121D
试验类别
极限参数
(mW)l
SJ790-74
8DG121型NPN硅外
≤0.2≤0.11
VcEs!hFE
延平面三极管规范表
100μA
100μA
SJ790-74
100μA
≥300
VcB-10V
Ie-30mA
f-100MHz
VcB-10V
VcB-10V
IE-30mA
f-100MHz
中华人民共和国第四机械工业部部标准
3DG121型NPN硅外延平面
高频小功率三极管
SJ790—74
(补充部份)
1,本标准适用于3DG121硅NPN外延平面型高频小功率半导体三极管。当产品用于电子设备的高频放大和振荡电路中。2、该产品除本标准规定外,应符合半导体三极管总技术条件SJ28176的规定。
3、外型结构和尺寸,应符合半导体三极管外形尺寸SJ139一70的B-8型。
4、技术要求和试验方法:
(1)电参数应符合参数规范表的规定。电参数的测试方法,应符合部颁标准半导体三极管测试方法SJ155-65~SJ170—65的规定。(2)hm分档标志:
hpe范围
允许测试误为士10%。
80~120
120~180
180~270
(8)环境试验后,按顺序测量下列电参数,a)、b)、d)三项应符合参数规范表的规范值,h的相对变化不得超过士20%。a)反向电流;
b)饱和压降,
c)电流放大系数;
d)反向击穿电压。
(4)高温储存和额定功率试验条件一九七七年三月实施
3DG121M
3DG121A
3DG121B
3DG121C
3DG121D
试验类别
极限参数
(mw))ld
SJ790-74
3DG121型NPN硅外
延平面三极管规范表
SI790-70
VcB-10V
Ig=300mA
f100MHz
VeB-10V
Von-10Y
Ig=30mA
f100MHz
SJ790-74
a)高温储存试验条件:按Tm℃为175下进行b)额定功率试验条件:功率为Pcsr值,电压VcB为10V。(5)高温储存和额定功率试验后,按下列标准考核:a)IoBo不得大于规范值的两倍;b)hr的相对变化,不得超过士40%;c)VBns的相对变化,不得超过+30%;d)Vozs的变化不得超过0.2V+Vans初·20%。5、说明
(1)本标参数表中的电参数,均以25℃为准。(2)生产单位应在产品目录中提供Kp、C。的典型值。(8)生产单位应在产品目录中提供下列特性曲线:a)Ig-Ven
b)Ia-Vam,
c)BVcO,BVcB0—Tx
d)hre--Ta,
e)hFm-—lo,
f) fr-Io,
g)Kp-Ior
h)CobVonwww.bzxz.net
I)IBO,IaBO-TA
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3DG121型NPN硅外延平面
高频小功率三极管
SJ790-74
1、本标准适用于8DG121硅NPN外延平面型高频小功率半导体三极管。该产品用于电子设备的高频放大和振荡电路中。2、该产品除本标准规定外,应符合半导体三极管总技木条件SJ614—73的规定。
8、外型结构和尺寸,应符合SJ139-70的B3型。4,技木要求和试验方法:
(1)电参数应符合参数规范表的规定。电参数的测试方法,应符合部颁标准SJ155--65~SJ170--65的规定。(2)hFE分档标志:
50~110
90~160
应符合参数规范表
(8)环境试验后,按顺序测量下列电参数,的规范值。
a)反向电流
b)饱和压降;
c)电流放大系数
d)反向赤穿电压。
(4)高温储存和额定功率试验条件:a)高温储存试验条件:按TjM为175°C下进行一九七四年十月一日实施
SJ790-74
b)额定功率试验条件:功率为PcM值,电压VcB为10V。(5)高温储存和额定功率试验后,按下列标准考核:a)IcBo不得大于规范值的两倍,b)hFE
的相对变化,不得超过±35%;
C)VBES的相对变化,不得超过+20%,d)VcES的变化不得超过0.1V+VcES初·20%。5、说明:
(1)本标准参数表中的电参数,均以25°C为准。(2)生产单位应在产品目录中提供KP、Cob的典型值。(3)生产单位应在产品目录中提供下列特性曲线:a)IB—VBE
b)Ic—VcE
c)BVcEO、BVcBO-TA,
d)hFE—TA,
e)hrE—Ic!
f)fr-Ic,
g)Kp-Ic,
h)Cob-VcB,
I)IcEO、IcBO-TA
3DG121A
3DG121B
8DG121C
8DG121D
试验类别
极限参数
(mW)l
SJ790-74
8DG121型NPN硅外
≤0.2≤0.11
VcEs!hFE
延平面三极管规范表
100μA
100μA
SJ790-74
100μA
≥300
VcB-10V
Ie-30mA
f-100MHz
VcB-10V
VcB-10V
IE-30mA
f-100MHz
中华人民共和国第四机械工业部部标准
3DG121型NPN硅外延平面
高频小功率三极管
SJ790—74
(补充部份)
1,本标准适用于3DG121硅NPN外延平面型高频小功率半导体三极管。当产品用于电子设备的高频放大和振荡电路中。2、该产品除本标准规定外,应符合半导体三极管总技术条件SJ28176的规定。
3、外型结构和尺寸,应符合半导体三极管外形尺寸SJ139一70的B-8型。
4、技术要求和试验方法:
(1)电参数应符合参数规范表的规定。电参数的测试方法,应符合部颁标准半导体三极管测试方法SJ155-65~SJ170—65的规定。(2)hm分档标志:
hpe范围
允许测试误为士10%。
80~120
120~180
180~270
(8)环境试验后,按顺序测量下列电参数,a)、b)、d)三项应符合参数规范表的规范值,h的相对变化不得超过士20%。a)反向电流;
b)饱和压降,
c)电流放大系数;
d)反向击穿电压。
(4)高温储存和额定功率试验条件一九七七年三月实施
3DG121M
3DG121A
3DG121B
3DG121C
3DG121D
试验类别
极限参数
(mw))ld
SJ790-74
3DG121型NPN硅外
延平面三极管规范表
SI790-70
VcB-10V
Ig=300mA
f100MHz
VeB-10V
Von-10Y
Ig=30mA
f100MHz
SJ790-74
a)高温储存试验条件:按Tm℃为175下进行b)额定功率试验条件:功率为Pcsr值,电压VcB为10V。(5)高温储存和额定功率试验后,按下列标准考核:a)IoBo不得大于规范值的两倍;b)hr的相对变化,不得超过士40%;c)VBns的相对变化,不得超过+30%;d)Vozs的变化不得超过0.2V+Vans初·20%。5、说明
(1)本标参数表中的电参数,均以25℃为准。(2)生产单位应在产品目录中提供Kp、C。的典型值。(8)生产单位应在产品目录中提供下列特性曲线:a)Ig-Ven
b)Ia-Vam,
c)BVcO,BVcB0—Tx
d)hre--Ta,
e)hFm-—lo,
f) fr-Io,
g)Kp-Ior
h)CobVonwww.bzxz.net
I)IBO,IaBO-TA
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