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- SJ 1226-1977 2AP9~2AP10型锗检波二极管
标准号:
SJ 1226-1977
标准名称:
2AP9~2AP10型锗检波二极管
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
1977-12-26 -
实施日期:
1978-06-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
224.36 KB
中标分类号:
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L41半导体二极管
发布部门:
中华人民共和国第四机械工业部相关标签:
二极管

点击下载
标准简介:
标准下载解压密码:www.bzxz.net
本标准适用于频率为100MHZ以下的2AP9、2AP10锗半导体检波二极管(以下简称产品),改产品主要用于通讯机、收音机、电视机的检波电路中。 SJ 1226-1977 2AP9~2AP10型锗检波二极管 SJ1226-1977

部分标准内容:
中华人民共和国第四机械工业部部标准
2AP9~2AP10型检波二极管
SJ1226—77
本标准适用于频率为100MHz以下的2AP9、2AP10锗半导体检波二钣管(以下简称产品),该产品主要用于通讯机、收音机、电视机的检波电路中。
1.产品除应符合本标准规定外,尚应符合SJ908--74《半导体二极管(二类)总技术条件》或SJ281一76《三类半导体二、三极管总技术条件》的规定。
2.产品外形尺寸应符合部标准SJ206-78《半导体二极管外形尺寸》的规定,管壳上的极性符号应为“+”。3,环境试验项目,顺序及环境试验后考核标准按SJ908-—74《半导体二极管(二类)总技术条件》第23和第24、25条。4.技术要求与试验方法:
(4)产品电参数应符合电参数规范表的规定,其测试方法应符合部标准SJ171~180—77,SJ1230~1231--77《锗检波和开关二极管测试方法》的规定。此内容来自标准下载网
(2)产品经振动强度试验、机械冲击试验、变频振动试验、热冲击试验、交变潮热试验后,测量产品的JS类电参数,以不超过电参数规范表的规定为合格。
(3)瞬间断路试验(SJ908-74《半导体二极管(二类)总技术条件》第12条)产品不允许有瞬间断路现象。本试验应与机械冲击试验结合进行。将产品管身紧固在冲击台上,其规范按SJ908—74第6条(2)款的规定,所加正向电流应大于产品正向特性的拐点值,用显示灵敏度不低于1μS的“瞬间断路监测仪”作监测,如试验中出现断路现象,试验后测量产品的JS类电参数,如超过电数规范表的规定则判为瞬间断路试一九七八年六月一日实施
SJ1226--77
验及机械冲击试验不合格,如符合电参数规范表的规定则判为瞬间断路试验不合格。
(4)高温性能试验(SJ908一74《半导体二极管(二类)总技术条件》第13条),将产品置于70土2℃的环境中,加最高反向工作电压和最大整流电流,工作15分钟,以此时产品的整流电流与电参数规范表规定整流电流的变化率不超过土15%为合格。三类产品的试验为:将产品置于50土2℃的环境中,加最高反向工作电压和最大整流电流,工作15分钟,以此时产品的整流电流与电参数规范表规定的整流电流的变化率不超过士15%为合格。(5)低温性能试验(SJ908-74《半导体二极管(二类)总技术条件》第14条),将产品置于一55士3℃的低温箱中,放置1小时之后,加最大反向工作电压和最大流电流,以此时产品的整流电流与电参数规范表规定的整流电流的变化率不超过土15%为合格要求对每个产品在30秒钟内测完。
三类产品的试验为:将产品置于一40℃土3℃的低温箱中放置1小时之后,加最高反向工作电压和最大整流电流,以此产品的整流电流与电参数规范表规定的整流电流的变化率不超过土15%为合格要求对每个产品在30秒钟之内测完
(6)短期寿命试验(SJ908一74《半导体二极管(二类)总技术条件》第16条,在室温下,将产品加最高反向工作电压和最大整流电流进行该项试验。试验后考核产品的JS类电参数,以不超过电参数规范表的规定为合格。
三类产品的试验为:在室温下,将产品加最高反向工作电压和最大整流电流进行100小时的该项试验,试验后考核产品的JS类电参数,以不超过电参数规范表的规定为合格。(7)高温贮存试验(SJ908—74《半导体二极管(二类)总技术条件》第17条),将产品在电参数规范表规定的产品结温下连续贮存240小时。试验后在室温下放置2小时,考核JS类电参数,以不超过电参数规范表的规定为合格。
三类产品的试验为:将产品在规定的产品结温下连续贮存100小时。2
SJ1226-77
试验后在室温下放置2小时,考核JS类电参数,以不超过电参数规范表的规定为合格。
SJ1226--77
(829)
(Vw)(A)
2HWO-J2HN01-
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2AP9~2AP10型检波二极管
SJ1226—77
本标准适用于频率为100MHz以下的2AP9、2AP10锗半导体检波二钣管(以下简称产品),该产品主要用于通讯机、收音机、电视机的检波电路中。
1.产品除应符合本标准规定外,尚应符合SJ908--74《半导体二极管(二类)总技术条件》或SJ281一76《三类半导体二、三极管总技术条件》的规定。
2.产品外形尺寸应符合部标准SJ206-78《半导体二极管外形尺寸》的规定,管壳上的极性符号应为“+”。3,环境试验项目,顺序及环境试验后考核标准按SJ908-—74《半导体二极管(二类)总技术条件》第23和第24、25条。4.技术要求与试验方法:
(4)产品电参数应符合电参数规范表的规定,其测试方法应符合部标准SJ171~180—77,SJ1230~1231--77《锗检波和开关二极管测试方法》的规定。此内容来自标准下载网
(2)产品经振动强度试验、机械冲击试验、变频振动试验、热冲击试验、交变潮热试验后,测量产品的JS类电参数,以不超过电参数规范表的规定为合格。
(3)瞬间断路试验(SJ908-74《半导体二极管(二类)总技术条件》第12条)产品不允许有瞬间断路现象。本试验应与机械冲击试验结合进行。将产品管身紧固在冲击台上,其规范按SJ908—74第6条(2)款的规定,所加正向电流应大于产品正向特性的拐点值,用显示灵敏度不低于1μS的“瞬间断路监测仪”作监测,如试验中出现断路现象,试验后测量产品的JS类电参数,如超过电数规范表的规定则判为瞬间断路试一九七八年六月一日实施
SJ1226--77
验及机械冲击试验不合格,如符合电参数规范表的规定则判为瞬间断路试验不合格。
(4)高温性能试验(SJ908一74《半导体二极管(二类)总技术条件》第13条),将产品置于70土2℃的环境中,加最高反向工作电压和最大整流电流,工作15分钟,以此时产品的整流电流与电参数规范表规定整流电流的变化率不超过土15%为合格。三类产品的试验为:将产品置于50土2℃的环境中,加最高反向工作电压和最大整流电流,工作15分钟,以此时产品的整流电流与电参数规范表规定的整流电流的变化率不超过士15%为合格。(5)低温性能试验(SJ908-74《半导体二极管(二类)总技术条件》第14条),将产品置于一55士3℃的低温箱中,放置1小时之后,加最大反向工作电压和最大流电流,以此时产品的整流电流与电参数规范表规定的整流电流的变化率不超过土15%为合格要求对每个产品在30秒钟内测完。
三类产品的试验为:将产品置于一40℃土3℃的低温箱中放置1小时之后,加最高反向工作电压和最大整流电流,以此产品的整流电流与电参数规范表规定的整流电流的变化率不超过土15%为合格要求对每个产品在30秒钟之内测完
(6)短期寿命试验(SJ908一74《半导体二极管(二类)总技术条件》第16条,在室温下,将产品加最高反向工作电压和最大整流电流进行该项试验。试验后考核产品的JS类电参数,以不超过电参数规范表的规定为合格。
三类产品的试验为:在室温下,将产品加最高反向工作电压和最大整流电流进行100小时的该项试验,试验后考核产品的JS类电参数,以不超过电参数规范表的规定为合格。(7)高温贮存试验(SJ908—74《半导体二极管(二类)总技术条件》第17条),将产品在电参数规范表规定的产品结温下连续贮存240小时。试验后在室温下放置2小时,考核JS类电参数,以不超过电参数规范表的规定为合格。
三类产品的试验为:将产品在规定的产品结温下连续贮存100小时。2
SJ1226-77
试验后在室温下放置2小时,考核JS类电参数,以不超过电参数规范表的规定为合格。
SJ1226--77
(829)
(Vw)(A)
2HWO-J2HN01-
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