【电子行业标准(SJ)】 ＰＩＮ、雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法

中华人民共和国电子工业部部标准雪崩光电二极管过剩
噪声指数的测试方法
本标准适用于雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试。SJ2354.14-83此内容来自标准下载网
测试过剩噪声指数总的要求应符合SJ2354.1一83《PIN、雪崩光电二极管光电参数测试方法总则》。2过剩噪声指数X的测试
2.1定义：在规定光波长、光功率测试系统中心频率和反向偏压下，反映倍增过程附加噪声大小的量。其关系式如下：
式中：e
电子电荷，
1—注人电流；
一倍增因子，
噪声均值平方电流：
-测试系统噪声等效带宽。
[i.J' = 2elBM2+x
2过剩噪声指数X的测试原理图应符合下图。2.2
单色光束
3测试步骤
指示器
校正仪表零位，将单色光束照射于器件光敏区内，被测管加上规定的反向偏压，测出1、M、1i，值，利用公式算出X值。
注：放大器带宽大于或等于1.5倍指示器带宽。中华人民共和国电子工业部1983-08-15发布1984-07-01实施
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