【电子行业标准(SJ)】 ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵音区宽度的测试方法

中华人民共和国电子工业部部标准PIN、雪崩光电二极管列阵盲区
宽度的测试方法
本标准适用于PIN、雪崩光电二极管列阵育区宽度的测试。SJ2354.11-83
1测试盲区总的要求应符合SJ2354.1一83《PIN、雪崩光电二极管光电参数测试方法总则》。2盲区宽度B。的测试
2.1定义：在规定光波长和反向偏压下，两单元连接处光电流相对于光敏区最大值下降3dB区域的宽度。
2.2育区Ba大小的测试原理图应符合图1、图2。2.2.1P型衬底材料所作器件测试原理如图1。Rc
单色光束
恒压源
微动装置
2.2.2N型衬底材料所作器件测试原理如图2。中华人民共和国电子工业部1983-08-15发布1984-07-01实施
3测试步骤
2354.11—83bzxZ.net
单色光束
微动装置
恒压源
校正仪表零位，被测管加上规定的反向偏压，转动微动台使光点连续扫过两相邻单元，在电流表上指示出光电流下降3dB时微动台移动的宽度，即为盲区B。值。注：光点要求：光点直径不大于工艺盲区宽度的10%。2
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