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【电子行业标准(SJ)】 PIN、雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法
本网站 发布时间:
2024-07-13 19:17:52
- SJ2354.12-1983
- 现行
标准号:
SJ 2354.12-1983
标准名称:
PIN、雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
1983-08-15 -
实施日期:
1984-07-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
47.79 KB

部分标准内容:
中华人民共和国电子工业部部标准雪崩光电二极管反向击穿
电压温度系数的测试方法
本标准适用于雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试。SJ2354.12-83
1测试温度系数总的要求应符合SJ2354.1一83《PIN、雪崩光电二极管光电参数测试方法总则》。2反向击穿电压温度系数α的测试2.1定义:无光照,在规定的温度范围内,温度改变1℃时,反向击穿电压的改变量,其关系式如下:
QV=AVBR/AT
温度系数T的测试原理图应符合下图。2.2
恒温箱
温度精示器
3测试步骤
宽光器
恒流源bzxz.net
校正仪表零位,调节恒温箱温度,在规定的T,、T,处恒温,每次恒温时间不小于30分钟,然后测定相应的反向击穿电压VBRI、VBR2。使VBR2-VBRI=△VBR,T2-T,=△T。利用公式算出温度系数a值。
中华人民共和国电子工业部1983-08-15发布1984-07-01实施
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
电压温度系数的测试方法
本标准适用于雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试。SJ2354.12-83
1测试温度系数总的要求应符合SJ2354.1一83《PIN、雪崩光电二极管光电参数测试方法总则》。2反向击穿电压温度系数α的测试2.1定义:无光照,在规定的温度范围内,温度改变1℃时,反向击穿电压的改变量,其关系式如下:
QV=AVBR/AT
温度系数T的测试原理图应符合下图。2.2
恒温箱
温度精示器
3测试步骤
宽光器
恒流源bzxz.net
校正仪表零位,调节恒温箱温度,在规定的T,、T,处恒温,每次恒温时间不小于30分钟,然后测定相应的反向击穿电压VBRI、VBR2。使VBR2-VBRI=△VBR,T2-T,=△T。利用公式算出温度系数a值。
中华人民共和国电子工业部1983-08-15发布1984-07-01实施
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标准图片预览:

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