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- SJ 2355.3-1983 半导体发光器件测试方法 反向电流的测试方法
标准号:
SJ 2355.3-1983
标准名称:
半导体发光器件测试方法 反向电流的测试方法
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
1983-08-15 -
实施日期:
1984-07-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
36.78 KB
部分标准内容:
中华人民共和国电子工业部部标准半导体发光器件测试方法
反向电流的测试方法
本标准适用于发光二极管、数码管、符号管的反向电流的测试。1测试反向电流总的要求应符合SJ2355.1一83《半导体发光器件测试方法2反向电流IR的测试
2.1定义bzxz.net
在被测管两端加规定电压,每个发光单元所通过的电流。2.2电原理图
反向电流的测试电原理图应符合下图。稳压源
2.3测试步骤
SJ2355.3-83
总则》。
调节稳压源,使直流电压表的电压为规定值。此时流过与被测管串联的电流表的电流值即为所测的反向电流。
中华人民共和国电子工业部1983-08-15发布1984-07-01实施
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
反向电流的测试方法
本标准适用于发光二极管、数码管、符号管的反向电流的测试。1测试反向电流总的要求应符合SJ2355.1一83《半导体发光器件测试方法2反向电流IR的测试
2.1定义bzxz.net
在被测管两端加规定电压,每个发光单元所通过的电流。2.2电原理图
反向电流的测试电原理图应符合下图。稳压源
2.3测试步骤
SJ2355.3-83
总则》。
调节稳压源,使直流电压表的电压为规定值。此时流过与被测管串联的电流表的电流值即为所测的反向电流。
中华人民共和国电子工业部1983-08-15发布1984-07-01实施
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标准图片预览:

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