【电子行业标准(SJ)】 半导体发光器件测试方法 总则

中华人民共和国电子工业部部标准SJ 2355.183
半导体发光器件测试方法
1983-08-15发布
1984-07-01实施
中华人民共和国电子工业部bzxz.net
中华人民共和国电子工业部部标准半导体发光器件测试方法
SJ2355.1-83
本标准适用于半导体发光器件光、电参数的测试。其光电参数的测试按相应的标准的规定进行。1测试光学参数时，光参数的测试系统的误差不大于25%。2对测试仪表的要求
2.1直流电表的误差
2.1.1电参数指示用电表（包括扩展量程后的电表）的误差不超过土1.5%。2.1.2工作点指示用电表的误差不超过±2.5%。2.1.3测试10uA以下的直流电流时，允许采用误差不超过±4%的电表。2.1.4参数指示用的直流电压表的内阻应足够大，使其流过的电流小于被测管T作电流的10%。2.1.5参数指示用的直流电流表的内阻应足够小，使其流过的电流在其上产生的最大压降不超过被测管的5%。
2.2电容测试仪表的误差不大于20%。3对电源的要求
3.1在测试设备中用交流整流作直流电源时，其波纹系数不大于0.5%。3.2恒流源和稳压源的电流、电压在给定范围内的误差不大于2%。4测试环境条件
4.1除已有的规定外，所有的试验测量和恢复均在下列大气条件下进行。环境温度：15~35℃l
相对湿度：45%~75%；
大气压力：86~106kPa。
4.2若被测系数依赖于温度、湿度及压力，可按下列判定大气条件：环境温度：25±1℃：
相对湿度：48%~52%；
大气压力：86~106kPa。
中华人民共和国电子工业部1983-08-15发布1984-07-01实施
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。