【电子行业标准(SJ)】 ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法

中华人民共和国电子工业部部标准PIN、雪崩光电二极管列阵串
光因子的测试方法
本标准适用于PIN、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试。SJ2354.10-83
1测试串光因子总的要求应符合SJ2354.1--83《PIN、雪崩光电二极管光电参数测试方法总则》。
2串光因子S的测试
2.1定义：在规定光波长、光功率和反向偏压下，列阵巾光照单元的光电流1，与任意个相邻单元光电流I：之比。其关系式如下：SL=IB/IA
2.2串光因子S的测试原理图应符合图1、图2。2.2.1P型衬底材料所作器件测试原理如图1。RG
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2.2.2N型衬底材料所作器件测试原理如图2。中华人民共和国电子工业部1983－08-15发布1984-07-01实施
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3测试步骤
SJ2354.1083
恒压爵
校正仪表零位，被管加上规定反向偏压，将单色光束照射于器件个单元的光敏区内，分别读出光照单元和任一相邻单元的光电流1和1：。利用公式算出串光因子S，值。
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