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【电子行业标准(SJ)】 PIN、雪崩光电二极管倍增因子的测试方法
本网站 发布时间:
2024-07-13 19:17:23
- SJ2354.13-1983
- 现行
标准号:
SJ 2354.13-1983
标准名称:
PIN、雪崩光电二极管倍增因子的测试方法
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
1983-08-15 -
实施日期:
1984-07-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
40.91 KB

部分标准内容:
中华人民共和国电子工业部部标准雪崩光电二极管倍增
因子的测试方法
本标准适用于雪光电二极管倍增因子的测试。SJ2354.13—83
1测试倍增因子总的要求应符合SJ2354.1一83《PIN、雪崩光电二极管光电参数测试方法总则》。2倍增因子M的测试此内容来自标准下载网
2.1定义:在规定光波长、光功率和反向偏压下,倍增时光电流I与无倍增时光电流1o之比。其关系式如下:
M=IL/ILO
2.2倍增因子M的测试原理图应符合下图。R
单色光束
3测试步骤
恒压源
校正仪表零位,被测管加上规定的反向偏压,将光束照射于二极管光敏区内,在电流表上分别读出无倍增时的光电流!Lo和倍增时的光电流L,利用公式算出M值。中华人民共和国电子工业部1983-08-15发布1
1984-07-01实施
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
因子的测试方法
本标准适用于雪光电二极管倍增因子的测试。SJ2354.13—83
1测试倍增因子总的要求应符合SJ2354.1一83《PIN、雪崩光电二极管光电参数测试方法总则》。2倍增因子M的测试此内容来自标准下载网
2.1定义:在规定光波长、光功率和反向偏压下,倍增时光电流I与无倍增时光电流1o之比。其关系式如下:
M=IL/ILO
2.2倍增因子M的测试原理图应符合下图。R
单色光束
3测试步骤
恒压源
校正仪表零位,被测管加上规定的反向偏压,将光束照射于二极管光敏区内,在电流表上分别读出无倍增时的光电流!Lo和倍增时的光电流L,利用公式算出M值。中华人民共和国电子工业部1983-08-15发布1
1984-07-01实施
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标准图片预览:

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