【电子行业标准(SJ)】 半导体发光器件测试方法 发光峰值波长和光谱半宽度的测试方法

中华人民共和国电子工业部部标准半导体发光器件测试方法
发光峰值波长和光谱半
宽度的测试方法
SJ2355.7—83
本标准适用于半导体发光二极管、数码管等的发光峰值波长与光谱半宽度的测试。1测试发光峰值波长与半宽度总的要求应符合SJ2355.1-83《半导体发光器件测试方法总则》。2发光峰值波长入p与光谱半宽度△^的测试2.1定义
2.1.1发光峰值波长的定义此内容来自标准下载网
发光光谱曲线上发光强度值最大时所对应的波长，如图1所示。2.1.2光谱半宽度的定义
发光光谱范围内，曲线上两个半光强度所对应的波长差，如图1所示。1.0
2.2发光峰值波长与光谱半宽度的测试方框图应如图2所示。中华人民共和国电子工业部1983-08-15发布1984-07-01实施
2. 3测试步骤
恒流源
SJ2355.783
指示器
2.3.1如图2所示，当被测器件的正向工作电流达到规定值时，旋转单色仪转鼓，使指示器达最大值，读出波长数值，即为该器件的发光峰值波长。2.3.2测出发光峰值后，再旋转单色仪转鼓使指示器读数为最大值一半时，读出最大值的二个一半值，两者之差即为光谱半宽度值。2
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