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【电子行业标准(SJ)】 3CD153、3CD154、3CD353型PNP硅低压低频大功率三极管
本网站 发布时间:
2024-07-13 19:11:16
- SJ2359-1983
- 现行
标准号:
SJ 2359-1983
标准名称:
3CD153、3CD154、3CD353型PNP硅低压低频大功率三极管
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
1983-08-19 -
实施日期:
1984-03-01 出版语种:
简体中文下载格式:
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标准简介:
标准下载解压密码:www.bzxz.net
SJ 2359-1983 3CD153、3CD154、3CD353型PNP硅低压低频大功率三极管 SJ2359-1983

部分标准内容:
中华人民共和国电子工业部部标准3CD153型、3CD154型3CD353型
PNP硅低压低频天功率三极管
SJ2359-83
1本标准适用于耗散功率为15W的3CD153型、3CD154型、3CD353型PNP硅三重扩散、外延基区、单扩散等工艺的低压低频大功率三极管(以下简称三极管)。三极管除应符合本标准规定外,还应符合SJ614一73《半导体三极管总技术条件》的规定。2本标准采用的参数符号一般符合SJ1400一78《半导体器件参数符号》的规定,并补充如下符号:VcEO(su)
集电极一发射极(基极开路时)的维持电压:VcER(su)-—集电极一发射极(基极一发射极接电阻时)的维持电压。3三极管的外形结构和尺寸应符合SJ139一78《半导体三极管外形尺寸》的规定。4三极管的参数应符合本标准8.1和8.2条的要求。其测量方法应符合SJ300~314一72《半导体三极管测试方法》的规定。本标准参数规范表中的电参数除注明外,均以管壳温度Tc为25℃时为准。5环境试验后,三极管的集电极一基极电压VcBO、集电极一发射极电压VcEO、发射极一基极电压VEBO应符合本标准8.1条的规定。其中VcBO、VcFo不许降档,电流放大系数hFE的相对变化应不超过±35%。下载标准就来标准下载网
6功率试验和高温贮存试验后,三极管应符合本标准8.1和8.2条的规定。集电极一基极电压VcB0集电极一发射极电压VcEO、发射极一基极电压VeBo应符合要求,其中VcBO、VcEo不许降档,反向电流IcEo不超过规范值的2倍:饱和压降VcE(sa)不超过规范值的1.2倍,电流放大系数hFE的相对变化应不超过±35%。
7生产单位在产品目录(或说明书)中提供以下特性曲线:a:安全工作区(包括直流、脉冲宽度t为1s、100ms、10ms、1ms等)曲线:b.
热循环特性曲线;
PcM一Tc的关系曲线
d.hFE—Tc的关系曲线(Tc为-55、25、100℃C时),IB-VBE的关系曲线;
f.Ic—Vce的关系曲线(Tc为25℃时);Ic-VE的关系曲线。
83CD153型、3CD154型、3CD353型PNP硅低压低频大功率三极管参数规范见表1、表2。8.1三极管的最大极限值见表1。中华人民共和国电子工业部1983-08-19发布1
1984-03-01实施
PcM(Tc=25℃)
SJ2359—83
150(金属封装),125(塑料封装)55~+150(金属封装),
注:IcM为hFE=5时的集电极直流电流。8.2三极管的电特性见表2。
-40~+125(塑料封装)
计量单位
(Te=100℃)
Vezoans
(Tc=-55℃)
VeE(t)
(fo=iMHz)
1w=1s成直流
R(金鼠封装)
R)r(塑料封装)
试验条件
测试条件
Veg=0.9Veeo
Te=75℃(金属封装)
Te=75C塑料封装)
25~50,40~80,70~140,
15~30,
Vce=-10V
Vce=-20V
VcE=-20V
注:①B档以上的器件第一个测试点的Vce选在Pcm线与PsB线的交点处,Vcg×/s:B>PeM。②B档以上的器件第二个测试点的VCE>0.9VCEO,此点不应发生二次击穿。D
Ic=-0.45A
Ic*-0.38A
3CD153
F-1型
钢底座、
3CD154
F-1型
铁底座、
3CD353
S-7型
型料封装
2359-83
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PNP硅低压低频天功率三极管
SJ2359-83
1本标准适用于耗散功率为15W的3CD153型、3CD154型、3CD353型PNP硅三重扩散、外延基区、单扩散等工艺的低压低频大功率三极管(以下简称三极管)。三极管除应符合本标准规定外,还应符合SJ614一73《半导体三极管总技术条件》的规定。2本标准采用的参数符号一般符合SJ1400一78《半导体器件参数符号》的规定,并补充如下符号:VcEO(su)
集电极一发射极(基极开路时)的维持电压:VcER(su)-—集电极一发射极(基极一发射极接电阻时)的维持电压。3三极管的外形结构和尺寸应符合SJ139一78《半导体三极管外形尺寸》的规定。4三极管的参数应符合本标准8.1和8.2条的要求。其测量方法应符合SJ300~314一72《半导体三极管测试方法》的规定。本标准参数规范表中的电参数除注明外,均以管壳温度Tc为25℃时为准。5环境试验后,三极管的集电极一基极电压VcBO、集电极一发射极电压VcEO、发射极一基极电压VEBO应符合本标准8.1条的规定。其中VcBO、VcFo不许降档,电流放大系数hFE的相对变化应不超过±35%。下载标准就来标准下载网
6功率试验和高温贮存试验后,三极管应符合本标准8.1和8.2条的规定。集电极一基极电压VcB0集电极一发射极电压VcEO、发射极一基极电压VeBo应符合要求,其中VcBO、VcEo不许降档,反向电流IcEo不超过规范值的2倍:饱和压降VcE(sa)不超过规范值的1.2倍,电流放大系数hFE的相对变化应不超过±35%。
7生产单位在产品目录(或说明书)中提供以下特性曲线:a:安全工作区(包括直流、脉冲宽度t为1s、100ms、10ms、1ms等)曲线:b.
热循环特性曲线;
PcM一Tc的关系曲线
d.hFE—Tc的关系曲线(Tc为-55、25、100℃C时),IB-VBE的关系曲线;
f.Ic—Vce的关系曲线(Tc为25℃时);Ic-VE的关系曲线。
83CD153型、3CD154型、3CD353型PNP硅低压低频大功率三极管参数规范见表1、表2。8.1三极管的最大极限值见表1。中华人民共和国电子工业部1983-08-19发布1
1984-03-01实施
PcM(Tc=25℃)
SJ2359—83
150(金属封装),125(塑料封装)55~+150(金属封装),
注:IcM为hFE=5时的集电极直流电流。8.2三极管的电特性见表2。
-40~+125(塑料封装)
计量单位
(Te=100℃)
Vezoans
(Tc=-55℃)
VeE(t)
(fo=iMHz)
1w=1s成直流
R(金鼠封装)
R)r(塑料封装)
试验条件
测试条件
Veg=0.9Veeo
Te=75℃(金属封装)
Te=75C塑料封装)
25~50,40~80,70~140,
15~30,
Vce=-10V
Vce=-20V
VcE=-20V
注:①B档以上的器件第一个测试点的Vce选在Pcm线与PsB线的交点处,Vcg×/s:B>PeM。②B档以上的器件第二个测试点的VCE>0.9VCEO,此点不应发生二次击穿。D
Ic=-0.45A
Ic*-0.38A
3CD153
F-1型
钢底座、
3CD154
F-1型
铁底座、
3CD353
S-7型
型料封装
2359-83
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