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【电子行业标准(SJ)】 3CD157、3CD158、3CD357型PNP硅低压低频大功率三极管

本网站 发布时间: 2024-07-13 19:09:54
  • SJ2361-1983
  • 现行

基本信息

  • 标准号:

    SJ 2361-1983

  • 标准名称:

    3CD157、3CD158、3CD357型PNP硅低压低频大功率三极管

  • 标准类别:

    电子行业标准(SJ)

  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    1983-08-19
  • 实施日期:

    1984-03-01
  • 出版语种:

    简体中文
  • 下载格式:

    .rar.pdf
  • 下载大小:

    191.82 KB

标准分类号

  • 中标分类号:

    能源、核技术>>能源、核技术综合>>F01技术管理

关联标准

  • 采标情况:

    美RCA标准 NEQ

出版信息

  • 页数:

    3页
  • 标准价格:

    8.0 元

其他信息

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SJ 2361-1983 3CD157、3CD158、3CD357型PNP硅低压低频大功率三极管 SJ2361-1983

标准内容标准内容

部分标准内容:

中华人民共和国电子工业部部标准3CD157型、3CD158型、3CD357型PNP硅低压低频大功率三极管
SJ2361—83
1本标准适用于耗散功率为45W的3CD157型、3CD158型、3CD357型PNP硅三重扩散、外延基区、单扩散等工艺的低压低频大功率三极管(以下简称三极管)。三极管除应符合本标准规定外,还应符合SJ614一73《半导体三极管总技术条件》的规定。2本标准采用的参数符号一般符合SJ1400一78《半导体器件参数符号》的规定,并补充如下符号:VCEO(ms)
集电极一发射极(基极开路时)的维持电压,VCERSuS)
集电极一发射极(基极一发射极接电阻时)的维持电压。3三极管的外形结构和尺寸应符合SJ139一78《半导体三极管外形尺寸》的规定。4三极管的参数应符合本标准8.1和8.2条的要求。其测量方法应符合SJ300~314一72《半导体三极管测试方法》的规定。本标准参数规范表中的电参数除注明外,均以管壳温度Tc为25℃时为准。5环境试验后,三极管的集电极一基极电压VcBO、集电极一发射极电压VcEO、发射极一基极电压VEBO应符合本标准8.1条的规定。其中VcBo、VcEo不许降档,电流放大系数hpE的相对变化应不超过±35%。
6功率试验和高温贮存试验后,三极管应符合本标准8.1和8.2条的规定。集电极一基极电压VcBo、集电极一发射极电压VcEO、发射极一基极电压VEBO应符合要求,其中VCBO、VcEO不许降档;反向电流IcEo不超过规范值的2倍;饱和压降VcE(a不超过规范值的1.2倍,电流放大系数hFE的相对变化应不超过±35%。
7生产单位在产品目录(或说明书)中提供以下特性曲线:安全工作区(包括直流、脉冲宽度1w为1s、100ms、10ms、1ms等)曲线,a.
热循环特性曲线:
Pcm-Tc的关系曲线:
d.hFE—Tc的关系曲线(Tc为-55、25、100℃时),IB-VBE的关系曲线:
f.IcVcE的关系曲线(Tc为25℃时),g.Ic-VBE的关系曲线。
83CD157型、3CD158型、3CD357型PNP硅低压低频大功率三极管参数规范见表1、表2。8.1三极管的最大极限值见表1。中华人民共和国电子工业部1983-08-19发布1
1984-03-01实施
PcM(Tc=25℃)
2361-83
150(金属封装),125(塑料封装)-55~+150(金属封装),-40~+125(塑料封装)注:Icm为hFE=5时的集电极直流电流。..2三极管的电特性见表2。
计量单位
(Te=100r)
(R=50Q)
(Te#-55℃)
Veeuet
VeEuers
(Jo=1MHz)
1w=15或直流
Ruaixc(金属封装)
R.ag(型料封装)
试验条件
测试条件
Veg=0.9Vcmo
Te=75℃(金属封装)
Te=75c(塑料封装)
15~30,25~50,
4080,70~140,120~240,
Vce=-10V
VeE--10V
Vce=20V
VeE20V
1c=-1.35A
注,①B档以上的器件第一个测试点的Vce选在Pcm线与Ps/B线的交点处,Vce×Is/a>PcM②B档以上的器件第二个测试点的VcE>0.9Vezo,此点不应发生二次击穿。min此内容来自标准下载网
3CD157
F-2型
铜底座、
3CD158
F-2型
铁底座、
3CD357
S-7型
塑料封装
2361-83
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