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- SJ 2356-1983 3CD347型PNP硅低压低频大功率三极管
标准号:
SJ 2356-1983
标准名称:
3CD347型PNP硅低压低频大功率三极管
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
1983-08-15 -
实施日期:
1984-03-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
198.66 KB
部分标准内容:
中华人民共和国电子工业部部标准SJ2356-83
PNP硅低频大功率三极管
1983-08-19发布
中华人民共和国电子工业部
1984-03-01实施
中华人民共和国电子工业部部标准3CD347型
PNP硅低压低频大功率三极管
SJ2356—83
1本标适用于耗散功率为1.5W的3CD347型PNP硅三重扩散、外延基区、单扩散等工艺的低压低频大功率三极管(以下简称三极管)。三极管除应符合本标准规定外,还应符合SJ614一73《半导体三极管总技术条件》的规定。2本标准采用的参数符号一般符合SJ1400一78《半导体器件参数符号》的规定,并补充如下符号:VcEO(sus)———集电极一发射极(基极开路时)的维持电压:一集电极一发射极(基极一发射极接电阻时)的维持电压。VCER(Su)
3三极管的外形结构和尺寸应符合SJ139-78《半导体三极管外形尺寸》的规定。4三极管的参数应符合本标准8.1和8.2条的要求。其测量方法应符合SJ300~314一72《半导体三极管测试方法》的规定。本标准参数规范表中的电参数除注明外,均以管壳温度Tc为25℃时为准。5环境试验后,三极管的集电极一基极电压VCBO、集电极一发射极电压VCEO、发射极一基极电压VEBO应符合本标准8.1条的规定。其中VcB0、VcEo不许降档,电流放大系数hFE的相对变化应不超过±35%。
6功率试验和高温贮存试验后,三极管应符合本标准8.1和8.2条的规定。集电极一基极电压VcBO、集电极一发射极电压VCEO、发射极一基极电压VEBO应符合要求,其中VCBO、VCEo不许降档,反向电流IcEo不超过规范值的2倍;饱和压降VcE(sar不超过规范值的1.2倍:电流放大系数hFE的相对变化应不超过±35%。
7生产单位在产品目录(或说明书)中提供以下特性曲线:a。安全工作区(包括直流、脉冲宽度tw为s、100ms、10ms,1ms等)曲线,热循环特性曲线:
PcM一Tc的关系曲线,
hFE一Tc的关系曲线(Tc为-55、25、100℃时),IB-VBE的关系曲线;
Ic—Vce的关系曲线(Tc为25C时),f.
g.Ic—Vh的关系曲线。
83CD347型PNP硅低压低频大功率三极管参数规范见表1、表2。8.1三极管的最大极限值见表1。中华人民共和国电子工业部1983-08-19发布1984-03-01实施
Pcm(Tc=25℃)
SJ2356--83
150(金属封装),125(塑料封装)-55~+150(金属封装),-40~+125(塑料封装)注:IcM为hFE=5时的集电极直流电流。8.2三极管的电特性见表2。
计量单位
(Tc=100℃)
VeeRAnbzxZ.net
(R=50Q)
(Te=-55℃)
Vaesan
(fo=iMHz)
tw-1s或直流
Ramje(塑料封装)
试验条件
测试条件
VcE=0.9VeeO
To=75℃(塑料封装)
15~30,25~50,40~80,70~140,120~240,
VCE--10V
Ic--0.075A
VcE=-20V
注:①B档以上的器件第一个测试点的VcE选在Pca线与Ps/a线的交点处,Vee×Is/B>Pem。②B档以上的器件第二个测试点的VcE>0.9VcE0,此点不应发生二次击穿。3
Ic=-0.038A
3CD347
S-6型塑
料封装
2856—83
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PNP硅低频大功率三极管
1983-08-19发布
中华人民共和国电子工业部
1984-03-01实施
中华人民共和国电子工业部部标准3CD347型
PNP硅低压低频大功率三极管
SJ2356—83
1本标适用于耗散功率为1.5W的3CD347型PNP硅三重扩散、外延基区、单扩散等工艺的低压低频大功率三极管(以下简称三极管)。三极管除应符合本标准规定外,还应符合SJ614一73《半导体三极管总技术条件》的规定。2本标准采用的参数符号一般符合SJ1400一78《半导体器件参数符号》的规定,并补充如下符号:VcEO(sus)———集电极一发射极(基极开路时)的维持电压:一集电极一发射极(基极一发射极接电阻时)的维持电压。VCER(Su)
3三极管的外形结构和尺寸应符合SJ139-78《半导体三极管外形尺寸》的规定。4三极管的参数应符合本标准8.1和8.2条的要求。其测量方法应符合SJ300~314一72《半导体三极管测试方法》的规定。本标准参数规范表中的电参数除注明外,均以管壳温度Tc为25℃时为准。5环境试验后,三极管的集电极一基极电压VCBO、集电极一发射极电压VCEO、发射极一基极电压VEBO应符合本标准8.1条的规定。其中VcB0、VcEo不许降档,电流放大系数hFE的相对变化应不超过±35%。
6功率试验和高温贮存试验后,三极管应符合本标准8.1和8.2条的规定。集电极一基极电压VcBO、集电极一发射极电压VCEO、发射极一基极电压VEBO应符合要求,其中VCBO、VCEo不许降档,反向电流IcEo不超过规范值的2倍;饱和压降VcE(sar不超过规范值的1.2倍:电流放大系数hFE的相对变化应不超过±35%。
7生产单位在产品目录(或说明书)中提供以下特性曲线:a。安全工作区(包括直流、脉冲宽度tw为s、100ms、10ms,1ms等)曲线,热循环特性曲线:
PcM一Tc的关系曲线,
hFE一Tc的关系曲线(Tc为-55、25、100℃时),IB-VBE的关系曲线;
Ic—Vce的关系曲线(Tc为25C时),f.
g.Ic—Vh的关系曲线。
83CD347型PNP硅低压低频大功率三极管参数规范见表1、表2。8.1三极管的最大极限值见表1。中华人民共和国电子工业部1983-08-19发布1984-03-01实施
Pcm(Tc=25℃)
SJ2356--83
150(金属封装),125(塑料封装)-55~+150(金属封装),-40~+125(塑料封装)注:IcM为hFE=5时的集电极直流电流。8.2三极管的电特性见表2。
计量单位
(Tc=100℃)
VeeRAnbzxZ.net
(R=50Q)
(Te=-55℃)
Vaesan
(fo=iMHz)
tw-1s或直流
Ramje(塑料封装)
试验条件
测试条件
VcE=0.9VeeO
To=75℃(塑料封装)
15~30,25~50,40~80,70~140,120~240,
VCE--10V
Ic--0.075A
VcE=-20V
注:①B档以上的器件第一个测试点的VcE选在Pca线与Ps/a线的交点处,Vee×Is/B>Pem。②B档以上的器件第二个测试点的VcE>0.9VcE0,此点不应发生二次击穿。3
Ic=-0.038A
3CD347
S-6型塑
料封装
2856—83
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