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- SJ 1225-1977 2AP11~2AP17型锗检波二极管
标准号:
SJ 1225-1977
标准名称:
2AP11~2AP17型锗检波二极管
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
1977-12-26 -
实施日期:
1978-06-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
227.55 KB
中标分类号:
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L41半导体二极管
发布部门:
中华人民共和国第四机械工业部相关标签:
二极管
点击下载
标准简介:
标准下载解压密码:www.bzxz.net
本标准适用于频率为40MHZ以下的2AP11-17锗半导体检波二极管(以下简称产品),改产品主要适用于收音机、电视机等无线电电子设备的检波整流电路中。 SJ 1225-1977 2AP11~2AP17型锗检波二极管 SJ1225-1977
部分标准内容:
中华人民共和国第四机械工业部部标准
锗检波
SJ1225-77
中华人民共和国第四机械工业部部标准
2AP11和2AP17型锗检波二极管bzxz.net
SJ1225-77
本标准适用于频率为40MHZ以下的2AP11—17储半导体检波二极管(以下简称产品),该产品主要适用于收音机、电视机等无线电电子设备的检波整流电路中。
1.产品除应符合本标准规定外,尚应符合SJ908一74《半导体二极极管(二类)总技术条件》的规定。2.产品外形尺寸符合部标准SJ206-78《半导体二极管外形尺寸》的规定,管壳上的极性符号应为。3.环境试验项目、顺序及环境试验后考核标准按SJ908-74《半导体二极管(二类)总技术条件》第23条和第24、25条。4.技术要求与试验方法:
(1)产品电参数应符合电参数规范表的规定,其测试方法应符合部标准SJ171~180--77、SJ1230~1231—77《储检波和开关二极管测试方法》的规定。
(2)产品经振动强度试验、机械冲击试验、变频振动试验、热冲击试验、交变潮热试验后,测试产品的JS类电参数,以不超过电参数规范表的规定为合格。
(3)瞬间断路试验(SJ908-74《半导体二极管(二类)总技术条件》第12条)产品不允许有瞬间断路现象。本试验应与机械冲击试验结合进行将产品管身紧固在冲击台上,其规范按SJ908一74《半导体二极管(二类)总技术条件》第6条(2)款的规定,所加正向电流应大于产品正向特性的拐点值,用显示灵敏度不低于1us的“解间断路监测仪”作监测,如试验中出现断路现象,试验后测量产品的JS类电参数,如超过电参数规范表1的规定则判为瞬间断路试验及机械冲击试验不合格、一九七八年六月一日实施
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SJ1225-77
如符合电参数规范表1的规定则仅判为瞬间断路试验不合格。(4)高温性能试验CSJ908—74《半导体二极管(二类)总技术条件》第13条),将产品置于70±2C的环境中,加最向反高工作电压和最大整流电流,工作15分钟,以此时产品的整流电流与电参数规范表规定的整流电流的变化率不超过土15%为合格。(5)低温性能试验(SJ908一74《半导体二极管(二类)总技术条件》第14条),将产品置于55土8℃的低温箱中放置1小时之后,加最高反向工作电压和最大整流电流,以此时产品的整流电流与电参数规范表规定的整流电流的变化率不超过士15%为合格,要求对每个产品在30秒内测完。
(6)短期寿命试验(SJ908-74《半导体二极管(二类)总技术条件》第16条),在室温下将产品加最高反向工作电压和最大整流电流进行该项试验,试验后考核产品的JS类电参数以不超过电参数规范表的规定为合格。(7)高温贮存试验(SJ908-74《半导体二极管(二类)总技术条件》第17条),将产品在电参数规范表规定的产品结温下连续贮存。试验后,在室温下放置2小时,考核JS类电参数,以不超过电参数规范表的规定为合格。
(8)频率特性试验:此试验按部标准SJ177-77《锗检波二极管频率特性的测试方法》的规定进行。所加负载为752。按定义用标准电压表作监视,以频率为0.1MHz时的整流电压为标准,然后坛加频率到40MHz,此时产品的整流电压下降不得超过0.1MHz时整流电压的20%。该试验每半年进行一次,从成品检验合格的产品中抽取十只,频率特性试验后,允许有二只不合格,若不合格产品数超过2只时,应另抽取加倍数量产品进行该项试验,若仍有二只以上产品不合格,则该产品应停产整顿质量,直到此项试验合格。2
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SJ1225—77
面&-va
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锗检波
SJ1225-77
中华人民共和国第四机械工业部部标准
2AP11和2AP17型锗检波二极管bzxz.net
SJ1225-77
本标准适用于频率为40MHZ以下的2AP11—17储半导体检波二极管(以下简称产品),该产品主要适用于收音机、电视机等无线电电子设备的检波整流电路中。
1.产品除应符合本标准规定外,尚应符合SJ908一74《半导体二极极管(二类)总技术条件》的规定。2.产品外形尺寸符合部标准SJ206-78《半导体二极管外形尺寸》的规定,管壳上的极性符号应为。3.环境试验项目、顺序及环境试验后考核标准按SJ908-74《半导体二极管(二类)总技术条件》第23条和第24、25条。4.技术要求与试验方法:
(1)产品电参数应符合电参数规范表的规定,其测试方法应符合部标准SJ171~180--77、SJ1230~1231—77《储检波和开关二极管测试方法》的规定。
(2)产品经振动强度试验、机械冲击试验、变频振动试验、热冲击试验、交变潮热试验后,测试产品的JS类电参数,以不超过电参数规范表的规定为合格。
(3)瞬间断路试验(SJ908-74《半导体二极管(二类)总技术条件》第12条)产品不允许有瞬间断路现象。本试验应与机械冲击试验结合进行将产品管身紧固在冲击台上,其规范按SJ908一74《半导体二极管(二类)总技术条件》第6条(2)款的规定,所加正向电流应大于产品正向特性的拐点值,用显示灵敏度不低于1us的“解间断路监测仪”作监测,如试验中出现断路现象,试验后测量产品的JS类电参数,如超过电参数规范表1的规定则判为瞬间断路试验及机械冲击试验不合格、一九七八年六月一日实施
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如符合电参数规范表1的规定则仅判为瞬间断路试验不合格。(4)高温性能试验CSJ908—74《半导体二极管(二类)总技术条件》第13条),将产品置于70±2C的环境中,加最向反高工作电压和最大整流电流,工作15分钟,以此时产品的整流电流与电参数规范表规定的整流电流的变化率不超过土15%为合格。(5)低温性能试验(SJ908一74《半导体二极管(二类)总技术条件》第14条),将产品置于55土8℃的低温箱中放置1小时之后,加最高反向工作电压和最大整流电流,以此时产品的整流电流与电参数规范表规定的整流电流的变化率不超过士15%为合格,要求对每个产品在30秒内测完。
(6)短期寿命试验(SJ908-74《半导体二极管(二类)总技术条件》第16条),在室温下将产品加最高反向工作电压和最大整流电流进行该项试验,试验后考核产品的JS类电参数以不超过电参数规范表的规定为合格。(7)高温贮存试验(SJ908-74《半导体二极管(二类)总技术条件》第17条),将产品在电参数规范表规定的产品结温下连续贮存。试验后,在室温下放置2小时,考核JS类电参数,以不超过电参数规范表的规定为合格。
(8)频率特性试验:此试验按部标准SJ177-77《锗检波二极管频率特性的测试方法》的规定进行。所加负载为752。按定义用标准电压表作监视,以频率为0.1MHz时的整流电压为标准,然后坛加频率到40MHz,此时产品的整流电压下降不得超过0.1MHz时整流电压的20%。该试验每半年进行一次,从成品检验合格的产品中抽取十只,频率特性试验后,允许有二只不合格,若不合格产品数超过2只时,应另抽取加倍数量产品进行该项试验,若仍有二只以上产品不合格,则该产品应停产整顿质量,直到此项试验合格。2
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