【商检行业标准(SN)】 电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定　第1部分:X射线荧光光谱定性筛选法

前 言

本部分为 SN/T 2503 的第 1 部分。

本部分的附录 A 为资料性附录。

本部分由国家认证认可监督管理委员会提出并归口。

本部分由中华人民共和国深圳出入境检验检疫局起草、中华人民共和国广东出入境检验检疫局、中华人民共和国吉林出入境检验检疫局参加起草。

本部分主要起草人：刘贤杰、孔志红、吴景武、刘丽、宋武元、米全、李树华、张珠娟。

本部分系首次发布的出入境检验检疫行业标准。

电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定
第1部分：X射线荧光光谱定性筛选法

1 范围

本部分规定了电子电气产品中铅、铬、汞、镉和溴的波长色散 X 射线荧光光谱定性筛选方法。

本部分适用于电子电气产品中铅、铬、汞、镉和溴的定性筛选。

2 规范性引用文件

下列文件中的条款通过 SN/T 2003 的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可以使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。

GB/T 16597 射线荧光光谱法通则

3 方法提要

样品经制备后，在各元素定性筛选条件下用 X 射线荧光光谱仪进行测定，根据元素特征谱峰确定待检测元素是否存在。

4 试剂和材料

1. 4.1 硼酸(H₃BO₃)：分析纯，105℃烘 1 h，置于干燥器中储存。
2. 4.2 甲烷氩气混合气体(1—9)。

5 仪器

1. 5.1 波长色散 X 射线荧光光谱仪：符合 GB/T 16597 规定，铑靶 X 射线光管。
2. 5.2 研磨机。
3. 5.3 金属切割机。
4. 5.4 压片机：压力不小于 400 kN。

6 样品制备

1. 6.1 均匀材质样品
   经切割机切割或机械破碎成 Ø20 mm～Ø40 mm 大小，直接用 X 射线荧光光谱仪测定。
2. 6.2 非均匀材质及较小尺寸样品
   经机械破碎和研磨机研磨，制成粒径不超过 1 mm 的粉末样；混匀后用硼酸衬底压片制样（样品厚度不低于 1 mm），压力 300 kN。

7 测定

待仪器稳定后，将制备好的样品按定性筛选条件（参见附录 A）进行测定。测定结果以是否出现铅、铬、汞、镉和溴的特征谱峰来表示。

附录 A

（资料性附录）
波长色散 X 射线荧光光谱定性筛选条件

波长色散 X 射线荧光光谱定性筛选条件如表 A.1 所示：

表 A.1 波长色散 X 射线荧光光谱定性筛选条件

注：其他元素对部分谱线有干扰，应注意分析排除。铅分析过程中 $L_{\alpha}$ 分析线常出现砷干扰，应选取 Pb $L_{\beta}$ 分析线作辅助分析；汞分析过程中 $L_{\alpha}$ 分析线常出现铊和镓干扰，应选取 Hg $L_{\beta}$ 分析线作辅助分析；铬、镉和铁一般无干扰。