本标准规定了膜集成电路和混合膜集成电路的术语。本标准适用于膜集成电路和混合膜集成电路的生产、使用、科研、教学和贸易。 GB/T 12842-1991 膜集成电路和混和膜集成电路术语 GB/T12842-1991

本标准规定了半导体集成电路封装在生产制造、工程应用和产品交验等方面使用的基本术语。本标准适用于与半导体集成电路封装相关的生产、科研、教学和贸易等方面的应用。 GB/T 14113-1993 半导体集成电路封装术语 GB/T14113-1993

本规范规定了半导体集成电路塑料双列封装冲制型引线框架的技术要求及检验规则。本规范适用于双列(DIP)冲制型引线框架，单列冲制型引线框架亦可参照使用。 GB/T 14112-1993 半导体集成电路 塑料双列封装冲制型引线框架规范 GB/T14112-1993

本标准规定了半导体集成电路数字锁相环电参数测试方法的基本原理。 GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理 GB/T14032-1992

本标准规定了半导体集成电路模拟锁相环电参数测试方法的基本原理。模拟锁相环与数字电路相同的静态和动态参数测试可参照GB3439《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》。 GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理 GB/T14031-1992

本标准规定了半导体集成电路时基电路电参数测试方法的基本原理。 GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

本标准规定了半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理。乘法器与运算放大器相同的静态与动态参数测试，可参照GB3442《半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理》。 GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理 GB/T14029-1992

本标准规定了MOS和结型场效应半导体集成电路模拟开关电参数测试的基本原理。模拟开关与CMOS电路相同的静态参数和动态参数测试可参照GB3834《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》。 GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T14028-1992

本规范规定了编制膜集成电路和混合膜集成电路(采用鉴定批准程序)详细规范的基本原则。 GB/T 13062-1991 膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范 (采用鉴定批准程序) GB/T13062-1991

本标准规定了半导体集成电路的外形尺寸。本标准适用于器件的成品尺寸的检验。 GB/T 7092-1993 半导体集成电路外形尺寸 GB/T7092-1993