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【国家标准(GB)】 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
本网站 发布时间:
1992-01-02 16:00:00
- GB/T14031-1992
- 现行
标准号:
GB/T 14031-1992
标准名称:
半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
标准类别:
国家标准(GB)
标准状态:
现行-
发布日期:
1992-01-02 -
实施日期:
1993-08-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
标准ICS号:
电子学>>31.200集成电路、微电子学中标分类号:
电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合

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标准简介:
标准下载解压密码:www.bzxz.net
本标准规定了半导体集成电路模拟锁相环电参数测试方法的基本原理。模拟锁相环与数字电路相同的静态和动态参数测试可参照GB3439《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》。 GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理 GB/T14031-1992
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