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【国家标准(GB)】 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
本网站 发布时间:
2025-01-09 19:10:33
- GB/T14032-1992
- 现行
标准号:
GB/T 14032-1992
标准名称:
半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
标准类别:
国家标准(GB)
标准状态:
现行-
发布日期:
1992-01-02 -
实施日期:
1993-08-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
3.11 MB
标准ICS号:
电子学>>31.200集成电路、微电子学中标分类号:
电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合

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标准简介:
标准下载解压密码:www.bzxz.net
本标准规定了半导体集成电路数字锁相环电参数测试方法的基本原理。 GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理 GB/T14032-1992

部分标准内容:
UDC621.382
中华人民共和国国家标准
GB/T14032-92
半导体集成电路数字锁相环
测试方法的基本原理
General principles of measuring methodsofdigitalphase-lockedloop
for semiconductor integrated circuits1992-12-18发布
1993-08-01实施
国家技术监督局发布
中华人民共和国国家标准
半导体集成电路数字锁相环
测试方法的基本原理
General principles of measuringmethodsof digital phase-locked loop forsemiconductor integrated circuitsGB/T14032—92
本标准规定了半导体集成电路数字锁相环(以下简称器件或数字锁相环)电参数测试方法的基本原数字锁相环与数字电路相同的静态和动态参数测试可参照GB3834&半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》。
1总要求
1.1若无特殊说明,测试期间,环境或参考点温度编离规定值的范应符台器件详细规范的规定。1.2测试期间,施于被测器件的电参量应符合器件详细规范的规定。1.3测试期间,应避免外界干扰对测试精度的影响,测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定。
1.4被测器件与测试系统连接或断开时,不应超过器件的使用极限条件。1.5若有要求时,应接器件详细规范规定的廉序接通电源。1.6测试期间,被测器件应连接器件详细规范规定的外围电路和补偿网络。1.7若电参数值是由儿步测试的结果经计算面确定时,这些测试的时间间隔应尽可能短。1.8、测试期间应避免因静电感应而引起器件失效。2参数测试
2.1动态功耗P..
2.1-1.目的
测试器件动态工作时的功率,
2.1.2测试原理图
P,测试原理图见图1。
国家技术监督局1992-12-18批准1993-08-01实施
2.1.3测试条件
GB/T14032-92
效测器件
定频网络
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度;
压控振荡器输入电压;
定频网络的电阻和电容;
压控荡器输出数率。
2.1.4测试程序
将被测器件接入测试系统中。
接通电源,
调节直流信号源的输出电压,使压控报荡器输入电压V,为电源电压V.的调节定额网络中的电容,使压控报荡器输出赖率为规范值。在电源端读取电流1的平均值。
2.1.4.6按式(1)计算P.:
2.2压控振荡器最高工作颖率fm
2.2.1月的
测试压控系替器输入电压为最大值时的输出额率。2-2.2测试原理图
了品测试原理图见图2.
2.2.3测试条件
GB/T14032-92
植测器件
定频网络
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a-
环境湿度:
电源电压:
压控振荡器输入电压:
定频网络的电阻和电容;
压控振荡器输出端电平和波形,2.2.4
测试程序
将被测器件接入测试系统中,
接通电源。
调节直流信号源的输出电压使压控输入电压V.为电源电压V+2.2.4.3
2.2.4.4读取压控报荡器输出端频率邸为压控振荡器最高工作题率了品ce2.3压控振荡器输出频率温度系数%2.3.1目的
在规定的温度范围内测试单位温度变化所引起的压控振荡器输出频本的相对变化,2.3.2测试原理图
a,测试原理图见图3。
2.3.3测试条件
GB/T14032-92
恒置箱
被测容件
定额网络
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a,环境温度,
电源电压:
压控报满器输入电压:
定频网络的电阻和电容。
2.3.4测试温度
将被测器件接入测试系统中,
接通电源。
调节压控报荡器的直流输入电压V.为V.的将器件置于规定的环境温度T,下,读取压控报荡器的输出频率f将器件置于规定的环境温度T,下,读取压控振满器的输出频率f按式(2)计算af:
5×100%
2.4压控振荡器线性误差E
2.4.1目的
测试压控振满器传输特性曲线对于其最佳拟合直线的最大偏差2-4.2测试原理图
EL满试原理图见图4。
-(2)
2.4.3测试条件
GB/T14032-92
被测器作
宜靓国格
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.
环境温度;
电源电压:
定频网络的电阻和电容:
压控报荡器输入电压范围。
测试程序
将被测器件接入测试系统中
接通电源。
2.4.4.3调节直流信号源的输出电压,在规定的压控输入电压范围内分别测试压控振荡器输入电压V,和输出赖本T.
2.4.4.4根据各测试点的测试结果,确定最佳拟合直线。2.4.4.5计算所测数据中各点压控输出锁率与最佳拟合直线之间的偏差,找出其中绝对值最大者[4+用式(3)计算E.
X100(%FSR)
FSR)
式中:J.(FSR)-满量程输出频率,2.5解调输出端失调电压Voo
2.5.1目的
测试解测输出电压与压控输入电压的偏差。2.5.2测试原理图
Voo测试原理图见图5
2.5.3测试条件免费标准下载网bzxz
GB/T14032—92
被调器件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度,
电源电压:
压控振荡器输入电压:
解调输出负载电阻RL。
2.5.4测试程序
将被测器件接入测试系统中。
接通电源.
调节直流信号源输出电压使压控输入电压V,为规定值,读取解调输出端电压V,
按式(4)计算Voo
Vor=V,-V.
2.6相位比较器交流输入跟踪电压VTRA2.6-1目的
测试在规定的中心频率和频筛下能镇定的最小交流输入电压。2.6.2测试原理图
VTa测试原理图见图6。
2.6-3测试条件
GB/T14032--92
被菌器件
楚频网络
低速波器
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定,a.
环境温度:
电源电压:
压控振荡器中心频率:
定额网络的电阻和电容;
低通滤波器:
调频信号的中心额率和频销:
输入辆合电容。
测试程序
2.6.4.1将被测器件接入测试系统中,2.6.4.2
接通电源。
承技器
在无调赖信号输入时,调节压控探荡器的定膜网络,使压控报荡器的中心频率。为规范值。调节调规信号发生器使调频波输出为于、按式(5)计算:2.6.4.4
f=.+afsin(2xft)
式中:一一规定的中心额率;
4/—规定的频偏;
.—一调制信号额率,
(5)
2.6.4.5调节调频信号发生器的输出幅度,使锁相环处于跟踪状态,用示波器监视相位锁定指示端的输出,调节调频信号发生器的输出幅度,使其由大到小连续缓侵变化,当环路失锁的一瞬间,此时读取调额信号发生器的输出幅度即为环路能锁定的最小交流输入电压。8
附加说明:
GB/T14032--92
附录A
参数符号对照表
(补充件)
本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提出。本标准由上海元件五厂负责起草。本标准主要起草人王庆光、高信龄。食
压控报荐器线性误差
压控报落器最高工作规率
动态功耗
解调输出端失调电压
相位比较器交流输人跟踪电压
压控报荡器输出频率遵度系数
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中华人民共和国国家标准
GB/T14032-92
半导体集成电路数字锁相环
测试方法的基本原理
General principles of measuring methodsofdigitalphase-lockedloop
for semiconductor integrated circuits1992-12-18发布
1993-08-01实施
国家技术监督局发布
中华人民共和国国家标准
半导体集成电路数字锁相环
测试方法的基本原理
General principles of measuringmethodsof digital phase-locked loop forsemiconductor integrated circuitsGB/T14032—92
本标准规定了半导体集成电路数字锁相环(以下简称器件或数字锁相环)电参数测试方法的基本原数字锁相环与数字电路相同的静态和动态参数测试可参照GB3834&半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》。
1总要求
1.1若无特殊说明,测试期间,环境或参考点温度编离规定值的范应符台器件详细规范的规定。1.2测试期间,施于被测器件的电参量应符合器件详细规范的规定。1.3测试期间,应避免外界干扰对测试精度的影响,测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定。
1.4被测器件与测试系统连接或断开时,不应超过器件的使用极限条件。1.5若有要求时,应接器件详细规范规定的廉序接通电源。1.6测试期间,被测器件应连接器件详细规范规定的外围电路和补偿网络。1.7若电参数值是由儿步测试的结果经计算面确定时,这些测试的时间间隔应尽可能短。1.8、测试期间应避免因静电感应而引起器件失效。2参数测试
2.1动态功耗P..
2.1-1.目的
测试器件动态工作时的功率,
2.1.2测试原理图
P,测试原理图见图1。
国家技术监督局1992-12-18批准1993-08-01实施
2.1.3测试条件
GB/T14032-92
效测器件
定频网络
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度;
压控振荡器输入电压;
定频网络的电阻和电容;
压控荡器输出数率。
2.1.4测试程序
将被测器件接入测试系统中。
接通电源,
调节直流信号源的输出电压,使压控报荡器输入电压V,为电源电压V.的调节定额网络中的电容,使压控报荡器输出赖率为规范值。在电源端读取电流1的平均值。
2.1.4.6按式(1)计算P.:
2.2压控振荡器最高工作颖率fm
2.2.1月的
测试压控系替器输入电压为最大值时的输出额率。2-2.2测试原理图
了品测试原理图见图2.
2.2.3测试条件
GB/T14032-92
植测器件
定频网络
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a-
环境湿度:
电源电压:
压控振荡器输入电压:
定频网络的电阻和电容;
压控振荡器输出端电平和波形,2.2.4
测试程序
将被测器件接入测试系统中,
接通电源。
调节直流信号源的输出电压使压控输入电压V.为电源电压V+2.2.4.3
2.2.4.4读取压控报荡器输出端频率邸为压控振荡器最高工作题率了品ce2.3压控振荡器输出频率温度系数%2.3.1目的
在规定的温度范围内测试单位温度变化所引起的压控振荡器输出频本的相对变化,2.3.2测试原理图
a,测试原理图见图3。
2.3.3测试条件
GB/T14032-92
恒置箱
被测容件
定额网络
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a,环境温度,
电源电压:
压控报满器输入电压:
定频网络的电阻和电容。
2.3.4测试温度
将被测器件接入测试系统中,
接通电源。
调节压控报荡器的直流输入电压V.为V.的将器件置于规定的环境温度T,下,读取压控报荡器的输出频率f将器件置于规定的环境温度T,下,读取压控振满器的输出频率f按式(2)计算af:
5×100%
2.4压控振荡器线性误差E
2.4.1目的
测试压控振满器传输特性曲线对于其最佳拟合直线的最大偏差2-4.2测试原理图
EL满试原理图见图4。
-(2)
2.4.3测试条件
GB/T14032-92
被测器作
宜靓国格
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.
环境温度;
电源电压:
定频网络的电阻和电容:
压控报荡器输入电压范围。
测试程序
将被测器件接入测试系统中
接通电源。
2.4.4.3调节直流信号源的输出电压,在规定的压控输入电压范围内分别测试压控振荡器输入电压V,和输出赖本T.
2.4.4.4根据各测试点的测试结果,确定最佳拟合直线。2.4.4.5计算所测数据中各点压控输出锁率与最佳拟合直线之间的偏差,找出其中绝对值最大者[4+用式(3)计算E.
X100(%FSR)
FSR)
式中:J.(FSR)-满量程输出频率,2.5解调输出端失调电压Voo
2.5.1目的
测试解测输出电压与压控输入电压的偏差。2.5.2测试原理图
Voo测试原理图见图5
2.5.3测试条件免费标准下载网bzxz
GB/T14032—92
被调器件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度,
电源电压:
压控振荡器输入电压:
解调输出负载电阻RL。
2.5.4测试程序
将被测器件接入测试系统中。
接通电源.
调节直流信号源输出电压使压控输入电压V,为规定值,读取解调输出端电压V,
按式(4)计算Voo
Vor=V,-V.
2.6相位比较器交流输入跟踪电压VTRA2.6-1目的
测试在规定的中心频率和频筛下能镇定的最小交流输入电压。2.6.2测试原理图
VTa测试原理图见图6。
2.6-3测试条件
GB/T14032--92
被菌器件
楚频网络
低速波器
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定,a.
环境温度:
电源电压:
压控振荡器中心频率:
定额网络的电阻和电容;
低通滤波器:
调频信号的中心额率和频销:
输入辆合电容。
测试程序
2.6.4.1将被测器件接入测试系统中,2.6.4.2
接通电源。
承技器
在无调赖信号输入时,调节压控探荡器的定膜网络,使压控报荡器的中心频率。为规范值。调节调规信号发生器使调频波输出为于、按式(5)计算:2.6.4.4
f=.+afsin(2xft)
式中:一一规定的中心额率;
4/—规定的频偏;
.—一调制信号额率,
(5)
2.6.4.5调节调频信号发生器的输出幅度,使锁相环处于跟踪状态,用示波器监视相位锁定指示端的输出,调节调频信号发生器的输出幅度,使其由大到小连续缓侵变化,当环路失锁的一瞬间,此时读取调额信号发生器的输出幅度即为环路能锁定的最小交流输入电压。8
附加说明:
GB/T14032--92
附录A
参数符号对照表
(补充件)
本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提出。本标准由上海元件五厂负责起草。本标准主要起草人王庆光、高信龄。食
压控报荐器线性误差
压控报落器最高工作规率
动态功耗
解调输出端失调电压
相位比较器交流输人跟踪电压
压控报荡器输出频率遵度系数
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