【国家标准(GB)】 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

UDC621.3821681.11
中华人民共和国国家标准
GB/T14030-92
半导体集成电路时基电路
测试方法的基本原理
General principles of measuring methodsof timer circuits for semiconductorintegratedcircuits
1992-12-18发布
国家技术监督局
1993-08-01实施
中华人民共和国国家标准
半导体集成电路时基电路
测试方法的基本原理
General,principles of measuring methodsof timer circuits for semiconductorintegrated circuits
GB/T14030-92
本标准规定了半导体集成电路时基电路（以下简称器件或时基电路）电参数测试方法的基本原理。时基电路与CMOS电路相同的静态参数和动态参数测试可参照GB3834半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》。
1总的要求
1.1若无特殊说明，测试期间，环境或多考点益度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定。1.2测试期间，于被测器件的电参量应符合器件详细规范的规定、1.3测试期间，应避免外界干扰对测试精度的影哪。测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定：
1.4被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件。1.5若有要求时，应按器件详细规范规定的照序接通电源。1.6测试期间，被测器件应连接器件详细规范规定的外围电路和补偿网络。1.7若电参数值是由儿步测试的结果经计算而确定时，这些测试的时间间隔应尽可能短。1.8本标准的参数定义按如下规定的真值表给出，如被测器件与本规定不符合时，可对测试电路进行相应的调整，
引出端名称
引出券特号
阅值端
驻发端
表中为低电平，H为高电平，X为任意电平。2参数测试
2.1复位电压VR
2.1.1目的
在器件输出电压为低电平时，测试复位端施加的临界输入电压。2.1-2测试原理图
V测试原理图见图1.
国家技术监督局1992-12-18批准复位
输出类
1993-08-01实施
2-1-3测试条件
可调直流
GB/T1403092
被测器件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a，环境湿度；
b，电源电压。
2.1.4测试程序
2.1.4.1将被测器件接入测试系统中。2.1.4.2接通电源。
2.1.4.3触发端接地，在复位端接输入电压V调节V使输出电压V。翻转为低电平时，读取输入电压V，值，即为Vu
2-2复位电流1k
2-2.1目的
在复位电压范围内，测试流经复位端的最大电流。2.2.2测试原理图
R测试原理图见图2。
可调真流
2-2.3测试条件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。技测器件
环境温度；
b，电源电压：
复位电压范用。
2.2.4测试程序
2.2.4.1将被测器件接入测试系统中。2.2.4.2
即为。
接通电源。
GB/T1403092
在复位增输入电压V，调节V，在规定的复位端输入电压范围内，读敢复位端的最大电流值2.3触发电压Vm
2.3.1目的
在器件输出电压为高电平时，测试触发端施加的临界电压。2.3.2测试康理图
V测试原理图见图3.
嵌测器件
可调直范
2.3.3测试条件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a，环境湿度：
b.电源电压。
2.3.4测试程序
2.3.4.1将被测器件接人测试系统中2.3.4.2接通电源.并将复位端和国值端接电源电压2.3.4.3在触发端输入电压V..调节Vr使输出电压Vo为高电平时，读取输入电压V,值，即为VTR2.4触发电流Im
2.4.1日的
在触发电压范围内测试流经触发端的最大电流。2.4.2测试原理图
1测试原理图见图4www.bzxz.net
2.4.3测试条件
消调直减
GB/T14030-92
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境温度：
b.电源电压：
触发电压范围。
2.4.4测试程序
2.4.4.1将被测器件接入测试系统中。2.4.4.2接通电源
披测器件
2.4.4.3调节输入电压V.在规定的触发端输入电压范国内·读取触发端的最大电流值，即为12.5网值电压V
2.5.1目的
在器件输出电压为低电平时，测试関值端所施加的临界电压。2.5.2微试照理图
测试源理图见图5。
可调直流
2.5.3测试条件
满试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定，4
该测容件
环境温度：
h电源电压.
2.5.4测试程店
2-.5.4.1将被测器件接入测试系统中。2-5.4.2接通电源.复位端接电源电压GB/T14030—92
2-5.4.3在阔值端输人电压V.调节V.使Vr足够低，并抵动开关K，融发端接地，使输出电压V。为高电平。
2.5.4.4调节输入电医V.使输出电压V。翻转为低电平，读取输人电压V,值，即为Vt。2.6阅谊电流1t
2.6.1目的
在附值电压范围内，测试流经期端的最大电流，2-6.2测试原理图
1测试原理图见图6.
敏测降件
可调直流
2.6.3测试条件
副试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.
环境温度：
电源电压
阔值电压范围。
2.6.4测试程序
2.6.4.1将被测器件接入测试系统中，2.6.4.2接通电源
2.6.4.3在阅值端输入电压V调节输入电压V在规定的周值端输入电压范围内·读取隔值端的最大电流值，即为It.
2.7控制端电压Vc
2-7.1日的
测试器件整制端的电压。
2-7.2测试原理阅
Vc测试原理图见图7.
2.7.3测试条件
GB/T14030-92
被测器件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a。环境温度：
b.电源电压。
2.7.4测试程序
2.7.4.1将被测器件接入测试系统中。2.7.4.2接通电源，
2.7.4.3在控制端读取Vc值。
2-8静态电源电流1
28.1目的
测试输出端空载条件下电源流过器件的电流2.8.2测试原理图
14测试原理图见图8.
可润连液
2.8.3测试条件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。6
嵌测器件
环镜温度：
电源电压：
触发端和网值端输人电压范围。2.8.4测试程序
2.8.4.1将被测器件接入测试系统中。2.8.4.2接通电源。
GB/T14030-92
2.8.4.3在阔值端和触发输入电压V，并调节V在规定的输入电压范围内读取电源电流的最大值，即为
2.9最高报落频率fm
2.9.1目的
在输出波形符合规定的条件下，测试器件作自激振涝器时的最高振荡频率。2.9.2测试原理图
f测试原理图见图9
2.9.3测试条件
嵌测器件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a环境溢度：
电源电压：
外接的定额元件RA、RB、C
2.9.4测试程序
将被测器件接入测试系统中。
2.9.4.2接通电源，并将复位端接电源电压，小
2.9.4.3调节电位器R，在保证输出波形符合规定的条件下，读取辅出端的最高抵荡频率值，即为Fre
2.10预率偏差F
2.10.1目的
测试器件作自激报荡器时的振荐频率与设计值之间的相对偏离。2.10.2测试原理图
A/测试原理图见图10。
2.10.3糖试条件
GB/T14030-92
拉润器件
测试期间，下列测试条件应符合器件详期规范的规定。环境混度：
h.电源电压：
外接的定赖元件RR.C。
2.10.4测试程序
将被测器件接入测试系统中。
接通电源，并将复位缩接电源电压。210.4.3
在输出端读取自激报满模率
计算自搬振荔规率理论值了。。2.10.4.4
2.10.4.5计算
2.11电源电压灵敏度Ks
2.11.1月的
器件作为自激瓶荐器时，测试单位电源电压变化所引起的亲荐题率的相对变化，2.11-2测试原理图
Kw测试原理图泡图1。
2.11.3测试条件
GB/T14030-92
酸测器件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度：
电源电压：
外接的定频元件R、RB、C。
2.11.4测试程序
将被测器件接入测试系统中。
接通电源，将电源电压调至，在输出潮读取自激振荡频率。将电源电压调至V在输出端读取自激振满领率了计算Kss：
7.V-V×100%
2.12兼满频率温度系数a
2.12.1目的
.......(2)
在规定工作温度范围内，器件作为自激娠荡器时单位温度变化所引起的报荡频赖率的相对变化。2-12.2测试康理图
可测试原理图见图12.
2-12-3测试条件
GB/T14030-92
敏离密件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定，a。环境温度；
b.电源电压：
e外接的定频元件R.、R、C。
2.12.4测试程序
将被测器件接入测试系统中。
接通电源，并将复位端接电源电压。承
2.12.4.3将器件置于规定的环境溢度T，下，在输出端读取自激操荡额率了。2.12.4.3
将器件置于规定的环境温度T，下，在输出端读取自激振涝频率。计算街1
×100%
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