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【国家标准(GB)】 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
本网站 发布时间:
1992-01-02 16:00:00
- GB/T14028-1992
- 现行
标准号:
GB/T 14028-1992
标准名称:
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
标准类别:
国家标准(GB)
标准状态:
现行-
发布日期:
1992-01-02 -
实施日期:
1993-08-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
标准ICS号:
电子学>>31.200集成电路、微电子学中标分类号:
电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合

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标准简介:
标准下载解压密码:www.bzxz.net
本标准规定了MOS和结型场效应半导体集成电路模拟开关电参数测试的基本原理。模拟开关与CMOS电路相同的静态参数和动态参数测试可参照GB3834《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》。 GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T14028-1992
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