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【电子行业标准(SJ)】 光时域反射计通用规范

本网站 发布时间: 2024-07-05 03:32:01
  • SJ20548-1995
  • 现行

基本信息

  • 标准号:

    SJ 20548-1995

  • 标准名称:

    光时域反射计通用规范

  • 标准类别:

    电子行业标准(SJ)

  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    1996-06-14
  • 实施日期:

    1996-10-01
  • 出版语种:

    简体中文
  • 下载格式:

    .rar.pdf
  • 下载大小:

    405.24 KB

标准分类号

  • 中标分类号:

    机械>>机械综合>>J01技术管理

关联标准

出版信息

  • 页数:

    12页
  • 标准价格:

    16.0 元

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SJ 20548-1995 光时域反射计通用规范 SJ20548-1995

标准内容标准内容

部分标准内容:

中华人民共和国电子行业军用标准FL6625
SJ20548-95
光时域反射计通用规范
General specification
for optical time domain reflectometers1996-06-14发布
1996-10-01实施
中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准光时域反射计通用规范
General speciricationforopticaltimedomain reflectometers1范围
1.1主题内容
SJ20548-95
本规范规定了军用光时域反射计(以下简称反射计)的要求、检验方法、质量保证规定和交货准备等。
1.2适用范围
本规范适用于光时域反射计,是光时域反射计研制、设计、生产、订货和验收的主要技术依据之一,也是制定各类光时域反射计详细规范以及其它技术文件应遵循的原则和基础。1.3应用指南
本规范应与SJ2054995《光时域反射计测试方法》配合使用。1.4分类
1.4.1按品种分类
a.按工作波段:0.85μm、1.31μm、1.55μm;b.按适用光纤:多模(MMF)、单模(SMF)。2引用文件·
GB6592—86
GB11464--89
GJB915-—90
SJ946—83
SJ2089—82
SJ2259-82
SJ20369—93
SJ20370-93
SJ20371—93
SJ20372—93
SJ20373-—93
SJ20374—93
SJ20375—93
电子测量仪器误差的一般规定
电子测量仪器术语
纤维光学试验方法
电子测量仪器电气、机械结构基本要求电子测量仪器型号命名方法
电子测量仪器随机技术文件的编制军用电子测试设备通用规范
军用电子测试设备通用规范
军用电子测试设备通用规范
军用电子测试设备通用规范
军用电子测试设备通用规范
军用电子测试设备通用规范
军用电子测试设备通用规范
中华人民共和国电子工业部1996-06-14发布设计和结构的基本要求
电源要求和试验方法
环境要求和试验方法
安全要求
电磁兼容性要求和试验方法
可靠性试验要求和方法
1996-10-01实施
SJ20376—93
SJ20377—93
SJ20549—95
3要求
3.1详细规范
SJ20548-95
军用电子测试设血通用规范识别标志包装要求军用电子测试设备通用规范质量保证规定光时域反射计测试方法
反射计的个性要求应符合详细规范的要求。若本规范的要求与详细规范的要求相抵触,则应以详细规范为准。
3.2合格鉴定
按本规范提交的反射计应是经鉴定合格或定型批准的产品。3.3可靠性
按SI20375的规定,详细规范中应给出反射计的平均故障间隔时间(MTBF)下限值m1,一般㎡不小于1500h。
3.4设计与结构
反射计应符合SJ20370的规定,要坟技术先进、性能稳定、安全可靠、使用方便、人机界面良好、易于安装和维修
3.5随机文件
随机文件的编制按SJ2259的规定。3.6性能特性
3.6.1般特性
3.6.1.1预热时间
详细规范中应规定反射计的预热时间,未规定时为20min。3.6.1.2误差
详细规范中应规定性能特性的误差且应符合GB6592中的规定。3.6.1.3连接器
光输出连接器由详细规范规定。3.6.1.4接口功能要求
具有程控功能的反射计,其接口应符合SJ20370第5.4条的要求,或有关其它接口标准,包括接口功能、电平、编码等的要求。3.6.1.5测试结果输出
显示器显示波形曲线、测试数据和测试条件。3.6.2详细性能特性
3.6.2.1输出光谱
3.6.2.1.1中心波长
在详细规范中应规定。但应满足0.85±0.03m、1.31±0.03μum、1.55±0.03um3.6.2.1.2光谱宽度
在详细规范中应规定。
3.6.2.2最大测距量程
在详细规范中应规定。
3.6.2.3最大后向散射单程动态范围-2
SJ20548-95
在详细规范中应规定。但应满足以下要求:0.85μm波段MMF≥20dB;
MMF≥20dB;
1.31μm波段
SMF≥18dB;
1.31μm波段
SMF≥15dB。
1.55μm波段
3.6.2.4最大菲涅尔反射单程动态范围在详细规范中应规定。但应满足以下要求:0.85μm波段MMF≥30dB;
1.31um波段
MMF≥25dB;
1.31um波段
SMF≥22dB;
SMF≥20dB。
1.55μm波段
3.6.2.5分辨率
a。测长读数分辨度:在详细规范中应规定。但最高测长读数分辨度应不大于1m。b。测长空间分辨率:在详细规范中应规定。3.6.2.6测长准确度
应在详细规范中规定。
3.6.2.7测损耗线性
应在详细规范中规定。
3.6.2.8盲区
应在详细规范中规定。
3.6.2.9实时处理时间
应在详细规范中规定。
3.6.2.10光反射损耗测量准确度应在详细规范中规定。
3.6.2.11打印功能
应在详细规范中规定。
3.7安全性
应符合SJ20373的规定,在详细规范中按设计制造分类可规定开路电压、漏电流和激光辐射等要求。
3.8环境要求
除另有规定外,应按SJ20372的规定,在详细规范中应规定使用环境级别。3.9电源要求
应符合SJ20371的规定,在详细规范中应规定电池种类及相应的电压和频率允许偏差。由电源供电应说明使用电池的规格和电池保持正常工作的小时数。3.10电磁兼容性
应按SJ20374在详细规范中规定。3.11尺寸
详细规范中应以长(1)、宽(6)、高(h)的顺序规定产品的最大外形尺寸或局部尺寸。3.12重量
详细规范中应规定整机重量或分别规定主机、插入单元等的重量。单位:kg3
3.13产品的标志和型号命名
产品标志应符合SJ20376的规定。SJ20548-95
产品型号命名应符合SJ2089的规定。3.14外观及机械结构要求
应符合SJ946的要求。反射计结构应完整、表面无明显机械损伤和镀层、涂层损坏现象;面板图形符号和文字符号正确清晰;各控制件均应安装正确、牢固可靠、操作灵活。机械稳定性应符合SJ20370中5.6.4条的要求。4质盘保证规定
应符合SJ20377的规定。
4.1检验贵任
除合同或订单中另有规定外,承制方应负责完成本规范规定的所有检验。除非合同或订单另有规定,承制方可以使用自已的或任何其它适合完成本规范规定检验要求的其它试验设备。必要时,订购方或上级鉴定机构有权对规范所述任何检验项目进行检查。4.1.1合格责任
所有产品必须符合规范第3章和第5章的所有要求。本规范中规定的检验应成为承制方整个检验体系或质量大纲的一个组成部分。若合同中包括本规范未规定的检验要求,承制方还应保证所提交检验的产品符合合同要求。质量一至性检验不充许提交明知有缺陷的产品,也不能要求订购方接收有缺陷的产品。4.1.2试验设备和检验设施
承制方应具有和维持足够准确度、数量的试验设备和检验设施,以便进行所要求的检验。应建立和维持符合规定的校准系统以控制测试设备准确度。试验设备和检验设施应在计量周检有效日期内。
4.2检验分类
本规范规定的检验分为:
a,鉴定检验。
b。质量一致性检验。
4.3环境条件
除另有规定外,应按本规范中第3.8条的规定进行各种试验。4.4鉴定检验
鉴定检验应在鉴定认可的试验室进行,所有样本应是在生产中用通常使用的设备和工艺所产生的产品。
4.4.1检验抽样
检验抽样应按SI20377中第5.2.2条规定进行,鉴定试验样本至少5台。4.4.2检验项目和顺序
鉴定检验的项目和顺序应按表1和详细规范的规定进行。4.4.3合格判据
合格判据按SI20377中5.2.3条规定进行。4.5质量一致检验
4.5.1检验项目和顺序
SJ20548-95
质量一致性检验的项目和顺序应按表2和详细规范的规定进行。4.5.2A组检验
4.5.2.1检验方案
A组检验按表2和产品详细规范的规定逐台进行,详细规范中应规定产品的轻缺陷数和重缺陷数。
4.5.2.2合格判据
按SI20377中5.3.2.2条及产品详细规范的有关规定进行。4.5.3B组检验
4.5.3.1检验抽样
按SJ20377中5.3.3.1条及产品详细规范的规定进行。4.5.3.2合格判据
按SJ20377中5.3.3.2条及产品详细规范的规定进行。4.5.4C组检验
4.5.4.1检验抽样
按SJ20377中5.3.4.1条及产品详细规范的规定进行。4.5.4.2合格判据
按SJ20377中5.3.4.2条及产品详细规范的规定进行。4.5.5D组检验
4.5.5.1检验抽样
按SJ20377中5.3.5.1条及产品详细规范的规定进行。4.5.5.2合格判据
按SJ20377中5.3.5.2条及产品详细规范的规定进行。4.5.6E组检验
4.5.6.1检验抽样
按SJ20377中5.3.6.1条及产品详细规范的规定进行。4.5.6.2合格判据
按SJ20377中5.3.6.2条及产品详细规范的规定进行。4.5.7F组检验
按SI20375的规定进行。
4.6包装检验
除另有规定外,按SJI20376的进行。25
检验项目
工作前检验
功能正常性
维修性试验
接口功能
输出光谱
后向散射单程动态范围
菲湟尔反射单程动态范围
测长读数分辨率
测长空间分辨率
测长准确度
测损耗线性
实时处理时间
测光反射损耗准确度
打印功能
开路电压试验
漏电流试验
激光辐射
电压和频率变化
电压瞬态
额率瞬态
电源中断
[尺寸
25重量
26机械稳定性试验
27|外观及机械结构要求
28包装试验
SJ20548-95
鉴定检验项目
表中:表示必须进行的项目;
避修靠
O——表示详细规范中有规定时应进行的项目。6-
要求的章条号
5.1、5.2
检验或试验
方法的章条号
按SJ20370的规定
按SI20370的规定
按SJ20370的规定
按SJ20370的规定
检验项目
工作前检验
功能正常性
维修性试验
接口功能
输出光谱
后向散射单程动态范围
菲涅尔反射单程动态范围
测长读数分辨率
测长空间分辨率
测长准确度
测损耗线性
实时处理时间
测光反射损耗准确度
打印功能
开路电压试验
漏电流试验
激光辐射
电压和频率变化
电压瞬态
额率瞬态
电源中断
25重量
26机械稳定性试验
27外观及机械结构要求
28包装试验
表中·
SJ20548-95
质量一致性检验项目
检验分
一表示必须进行的项目;
O—表示详细规范中有规定时应进行的项目。要求的章条号
5.1、5.2
检验或试验
方法的章条号
按SJ20370的规定
按SJ20370的规定
按SJ20370的规定
按SJ20370的规定
4.7检验方法
4.7.1工作前检验
SJ20548-95
按SI20377第5.4.11条和详细规范规定进行。4.7.2功能正常性检验
仪器接通电源后,经规定的预热时间.按详细规范逐项检查反射计应具有的各种功能。4.7.3可靠性试验免费标准bzxz.net
按SJ20375在详细规范中选定的试验方案进行。4.7.4接口功能检验
按详细规范选择控制器,运行适当程序检查接口功能。4.7.5性能特性测试
产品性能特性的测试方法按SJ20549一95的规定进行。4.7.6打印功能检验
按详细规范,打印出规定的内容。4.7.7安全试验
按SJ20373的有关规定进行。
4.7.8环境试验
按SJ20372的规定进行。
4.7.8.1温度和湿度试验
按SJ20372中5.1条的规定进行温度和湿度试验。4.7.8.2低气压试验
按SJ20372中5.2条的规定进行试验。4.7.8.3振动试验
按SJ20372中5.3条的规定进行振动试验。4.7.8.4冲击试验
按SJ20372中5.4条的规定进行冲击试验。4.7.9电源要求
按SJ20371的有关规定进行。
4.7.10电磁兼容性试验
按SJ20374和详细规范规定进行。4.7.11外观检查
仪器处于非工作状态,用目视和手工操作检查。4.8其它有关要求
4.8.1质量保证期
按SJ20377第5.5条有关规定,产品质量保证期为一年。4.9包装试验
按SJ20376的有关规定进行。
5交货准备
5.1包装
产品的包装应符合SI20376和详细规范的有关规定。包装材料和包装箱必须保持干燥、8
SJ20548-95
整洁、无腐蚀作用及其它有害影响。垫料的大小应恰好将箱子填紧,产品不动为准。包装时,应保证产品的完好性和成套性,包装箱内应放有装箱单及说明书,装箱单及说明书的编制要求符合SJ2259的有关规定。5.2运输和贮存
5.2.1运输
按规定包装好的产品可用通常的交通工具进行运输,但应防止雨淋、日照:防止机械损伤和强烈的热辐射。避免倒放、侧放。5.2.2贮存
应符合SI20376第4.4条的规定。5.2.3标志
5.2.3.1产品标志
应符合SJ20376第5.1条的规定。5.2.3.2包装箱外标志
应符合SJ20376第5.1.5、5.1.6的规定。6说明事项
6.1预定用途
本规范规定的光时域反射计主要用于光纤通信领域测试光纤或光缆的长度、衰减常数、连接损耗等,生产中控制光纤光缆的质量,工程上检查光纤系统的质量和探测光纤系统的故障。6.2定义
本规范使用的术语除下述列出外,GB11464、GJB915、SJ20369一SJ20377中的术语也适用于本规范。
6.2.1中心波长centralwavelength6.2.1.1RMS法
由峰值波长幅值与比峰值波长幅值低20dB的幅值范围内的所有纵模按均方根法(RMS)求得的中心波长。
RMS法确定中心波长计算公式如式(1)所示:ap
式中:入c——光谱中心波长:
入第i根谱线的波长;
P一一以线性表示的第i根谱线的功率,W。6.2.1.2FWHM法
由峰值波长幅值与比峰值波长幅值低3dB的幅值范围内的所有纵模的最大波长和最小波长的算术平均值为中心波长。6.2.2光谱宽度spectralwidth
6.2.2.1 RMS法
由峰值波长幅值与比峰值波长幅值低20dB的幅值范围内的所有纵模按均方根法求得的9
光谱宽度。。
SJ20548-95
RMS法确定光谱宽度。计算公式如式(2)所示。2.
式中:a——光谱宽度。值;
入c—RMS法确定的光谱中心波长:入,第:根谱线的波长:
P以线性表示的第i根谱线的功率,W。6.2.2.2FWHM法
由峰值波长幅值与比峰值波长幅值低3dB的幅值范围内的所有纵模的最大波长和最小波长的差为光谱宽度。
6.2.3后向散射单程动态范围dynamicrangeforone-wayback-scatteradlight使后向散射光信号电平等于噪声电平(SNR=1)时可插入的最大光路损耗值。6.2.4菲涅尔反射单程动态范围dynamicrangeforone-wayFresnelreflectedlight使具有4%菲涅尔反射光的信号电平等于噪声电平(SNR=1)时可插入的最大光路损耗值。
6.2.5测长读数分辨率resolutionforlength能使读数识别的最小的被测光纤长度的变化量。6.2.6测长空间分辨率spatialresolulsionforaengh能分辨光纤上两个事件间的最小距离。6.2.7盲区deadzone
因光反射等原因,仪器不能正常测试光纤衰减特性的区域。附加说明:
本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由电子工业部第四十一研究所和中国电子技术标准化研究所起草。本规范主要起草人:毛继宏、黄英华、胡为良、秦良芳、毛翌春。计划项目代号:B33042。
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