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【电子行业标准(SJ)】 微波组件总规范
本网站 发布时间:
2024-07-11 06:21:01
- SJ20527-1995
- 已作废
标准号:
SJ 20527-1995
标准名称:
微波组件总规范
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
已作废-
发布日期:
1996-06-01 -
实施日期:
1996-10-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
491.70 KB
替代情况:
被SJ 20527A-2003代替

部分标准内容:
中华人民共和国电子行业军用标准FL5962
1996-06-14发布
微波组件总规范
General specificationfor
microwaveassembly
SJ20527-95
1996-10-01实施
中华人民共和国电子工业部
中华人民共和国电子行业军用标准微波组件总规范
General specification for
microwaveassembly
1范围
SJ20527-95
1.1主题内容
本规范规定了军用微波组件(以下简称产品)的一般要求。产品的具体要求和特性在有关详细规范中规定。
1.2适用范围
本规范适用于产品的研制、生产和采购。2引用文件
GB191—90
GB3191--82
GB3192-82
GB3193—82
GB5231—85
GB523285
GB5233—85
GB7408—81
GB11313--89
GB11314-89
GB11315—89
GB11316-89
GB11449-89
GJB150.3-86
GJB150.4—86
GJB179—86
GJB 360.1-87
GJB360.2—87
GJB360.3—87
GJB360.5—87
GJB 360.6-87
包装储运指示标志
铝及铝合金挤压棒材
高强度铝合金挤压棒
铝及铝合金热轧板
加工铜一化学成分和产品形状
加工黄铜一化学成分和产品形状加工青铜一化学成分和产品形状星期编号
射频同轴连接器总规范
N型射频同轴连接器
BNC型射频同轴连接器
SMA型射频同轴连接器
波导法兰盘
军用设备环境试验方法
军用设备环境试验方法
计数抽样程序及表
高温试验
低温试验
电子及电气元件试验方法
电子及电气元件试验方法
电子及电气元件试验方法
电子及电气元件试验方法
电子及电气元件试验方法
中华人民共和国电子工业部1996-06-14发布总则
盐雾试验
稳态湿热试验
低气压试验
耐湿试验
1996-10-01实施
GJB360.7—87
GJB 360.1287
GJB360.15—87
GJB360.18-87
GJB360.20—87
GJB360.21--87
GJB360.23—87
GJB360.24—87
GJB899-90
SJ20527-95
电子及电气元件试验方法
电子及电气元件试验方法
电子及电气元件试验方法
电子及电气元件试验方法
电子及电气元件试验方法
电子及电气元件试验方法
电了及电气元件试验方法
电子及电气元件试验方法
可靠性鉴定与验收试验
军用电子元器件质量认证章程
3要求
3.1总则
温度冲击试验
密封试验
高频振动试验
可焊性试验
耐焊接热试验
引出端强度试验
冲击(规定脉冲)试验
随机振动试验
按本规范规定供货的制造单位,应具备或可以利用其他单位的足以保证符合本规范和有关详细规范要求的生产和检验用设备和仪器,并应制定相应的产品质量保证计划。3.1.1详细规范
产品的具体要求应符合详细规范的规定。若不注明出处或文件时,本规范中使用“按规定”一词,指按有关产品详细规范的规定。3.1.2优先顺序
当本规范的要求与详细规范或有关文件的要求发生予盾时,应按下列优先顺序来确定要求。
a.有关详细规范;
b.本规范;
c.第2章中所引用文件。
3.2鉴定
按本规范提交的产品应是鉴定合格的产品。鉴定机构应对制造单位的产品质量保证计划进行审查,以确定其是否具备鉴定合格资格。3.3产品保证要求
按本规范提交的产品应遵守第4章的质量保证规定,并按第5章的规定交货。3.3.1按本规范供货的产品,在取得合格鉴定资格之前,必须具备完整的设计文件、工艺文件、检验文件详细规范、检验和试验记录。3.3.2产品在研制、生产中必须建立相应的质量保证、管理和控制制度,其中至少应包括:技术文件管理和更改制度
外购器材、半成品、产品、工艺检验和控制制度,生产环境控制制度;计量器具和试验设备的计量检定制度;生产、检验记录和产品质量追潮性管理制度:信息收集、反馈和失效分析、改进制度;试验质量保证制度;
售后服务制度:
人员培训制度。
SJ20527-95
上述制度应以文件形式颁布实施,并记录实施情况,有关主管部门应对文件的实施情况进行检查,以作为保持产品鉴定合格资格的依据。3.4设计、结构和材料要求
按本规范供货的产品,其设计、结构和材料应符合本规范和有关详细规范的规定。3.4.1设计
产品设计时,应考虑以下要求:a.本规范和详细规范;
b.用户实际使用要求;
c.可靠性求;
d.本厂生产的同类产品的使用方质量信息反馈资料。3.4.2封装
按本规范供货的产品,应采用金属外壳封装,同轴连接件应符合GB11313和GB11314、GB11315或GB11316的有关规定,波导连接件应符合GB11449的有关规定。3.4.3元器件
按本规范供货的产品,所用元器件均应符合军用元器件的要求。应优先选用按相应国军标检验合格的产品
3.4.4金属材料
产品所用铝材料应符合GB3191、GB3192或GB3193的规定,所用铜材料应符合GB5231、GB5232或GB5233的规定:产品外部金属表面应是抗腐蚀的或是经过电镀、氧化等抗腐蚀处理的。若无适当保护措施,产生明显电解腐蚀的不相容金属不能直接接触。3.4.5其它材料
产品所用的其它材料(如基片等)应是按有关文件规定经过检验合格的,且不应有对微波组件在规定条件下贮存、工作和试验产生不利影响的任何缺陷。3.4.6结构
产品的结构应符合详细规范的规定。3.4.7外观质量
产品的外观质量应符合详细规范及本规范的规定。3.4.7.1金属表面
产品的金属表面应无毛刺、裂缝和划痕以及肉眼可识别的空洞、气泡、裂痕或砂眼。连接器的接插脚不应弯曲或损坏。
3.4.7.2镀涂后的表面
产品经过镀涂后的表面必须均匀,没有起皮、划痕或裂痕,喷漆的表面必须光滑无缺陷,并有一定的粘附力、无超泡和脱落现象。3.4.8重量
产品的重量应符合详细规范的规定。3.4.9焊接
微波组件的电气连接应优先采用合金焊接或超声焊接,除另有规定外,一般不得采用胶类粘接。
3.4.10推荐温度范围
推荐的工作环境温度或壳温如下:3
b.-40~70c
c.-20~60℃
d.-10~50℃
3.5产品标志
3.5.1产品上的标志
SJ20527-95
各类产品上应有符合本规范和详细规范规定的标志。产品的标志应清楚明显,经全部试验后,标志应保持清晰。因机械试验夹具所引起的标志损坏不应作为批拒收的依据,但损坏标志的产品应返工,以保证交货时标志完整和清晰。除另有规定外,每个产品应包括以下标志:产品型号、名称(见3.5.1.1条);a.
制造单位名称或商标(见3.5.1.2条)b.
检验批识别代码(见3.5.1.3):c.
产品序列号,当适用时(见3.5.1.4条);d.
各接口、调节部位的标志(见3.5.5条)f.产品合格标志及质量认证合格标志(见3.5.1.6条);g.特殊标志,当适用时(见3.5.1.7条)。3.5.1.1产品型号、名称
产品型号、名称应能识别出按照详细规范所述的电路功能和特性。3.5.1.2制造单位的名称或商标
产品应标上制造单位的名称或商标。3.5.1.3检验批识别代码
产品应标有检验批识别代码。通过该识别代码即能识别其检验批,又能识别产品的生产时间。识别代码中前面的两个数字为年份的最后两位数字,第三及第四位为该批产品提交检验的星期编号。星期的编号应符合GB7408的规定。3.5.1.4序列号
序列号采取两位或更高位数字,以区别同一检验批中的产品,便于追溯。序列号可紧接检验批识别代码之后。
3.5.1.5各接口、调节部位的标志产品的各接口、调节部位应有明显标志以说明其功能。3.5.1.6产品合格标志及质量认证合格标志按本规范和有关详细规范要求交货的产品,均应在有合格标志或附有合格证。使用合格标志的条件是:按本规范和有关详细规范规定检验合格,并将试验数据存档以供查核。认证合格的产品按《军用电子元器件质量认证章程的规定,在产品型号的前面打上认证合格标志。3.5.1.7特殊标志(当适用时)
如果要使用特殊标志,则不得与本规范所要求的标志相混淆。3.5.2包装上的标志
除3.5.1.4和3.5.1.5条外,3.5.1条规定的所有标志以及详细规范号,均应标在交货所用的包装容器上。
3.6可靠性
适用时,MTBF的验证试验按本规范表4C11分组的规定进行。不进行MTBF的验证试-4
20527-95
验时,应在详细规范的第6章中提供数据。4质量保证规定
4.1检验职责
除另有规定外,制造单位应负责履行本规范和详细规范所规定的全部检验。有关主管部门有权进行本规范规定的任何检验,其中包括性能的检验和对产品质量保证计划执行情况的检查,以便确保产品符合规范要求。4.2产品存放超过24个月的程序
通过了鉴定检验和质量一致性检验并在制造单位存放时间超过24个月的产品,在交货之前应由制造单位按A组检验的全部检验要求对准备交货的检验批或产品进行重新检验。如重新检验时不合格,则全部产品应100%地经受不合格分组的检验。不满足其中任何一项要求的产品都应从批中剔除。
4.3检验分类
本规范规定的检验分为:
,a.鉴定检验(见4.9条)
b.筛选(见4.10条)
c.质量一致性检验(见4.11条):4.4检验批的构成
按相同设计,相同工艺,采用相同村料生产出来并同时提交检验的同一一型号(包括不同规格)的全部产品构成一个检验批。4.5样品的处理
凡经受过破坏性试验或在任一项试验中失效的产品,均不得作为合格品交货。如果鉴定或质量一致性检验合格,检验中经受了4.5.2条中规定的非破坏性试验和其它经试验证明为非破坏性的试验,而且试验后的特性符合A组合格判据的样品,可作为合格产品交货。4.5.1破坏性试验
除另有规定外,下列各项试验应作为破坏性试验:盐雾试验
引线强度试验
耐焊接热试验
可焊性试验
除4.5.2中所列的项目外,其它机械和气候试验,开始时应当作破坏性试验处理。只有当随后积累的数据足以说明该项试验为非破坏性试验时,才可作为非破坏性试验。如时某项试验对同一组样品重复进行5次,而没有累积退化或通不过该项试验的迹象,则可以认为此项试验为非破坏性试验。
4.5.2非破坏性试验
除另有规定外,下列试验为非破坏性试验外形自检
低温电特性
高温电特性
高温工作试验
高温贮存试验
低温贮存试验
低气压试验
密封试验
MTBF试验
SJ20527-95
:本规范和详细规范规定作为筛选和A组检验的项目,应认为是非破坏性的。4.6试验设备故障或操作人员差错引起的失效当确定某一失效是由于设备故障或操作人员差错引起的,应将失效情况记入试验记录,该记录应与确认这种失效不应判定该产品不合格的全部资料一起保存备查。此时,在该批产品中应重新抽取样品进行该检验分组的全部试验。4.7重新提交
当提交鉴定或质量一致性检验的任一检验批不符合A,B或C组检验中任一分组要求时,应根据不合格的原因,采取纠正措施后,对不合格的检验分组重新提交检验。A组重新检验应100%进行B组、C组的重新检验除C11分组外,应加倍抽样进行。C11分组不合格时可按GIB899规定程厚重新进行一次MTBF试验。若加倍抽样检验仍有失效,或MTBF试验仍不合格,制造单位应将失效和所采取的纠正措施的资料提供给鉴定机构和有关主管部门,以供裁决。4.8试验条件和方法
除另有规定外,试验条件和方法应从第2章所列的GJB150和GJB360有关分标准中选择。在制造单位能向鉴定机构证明,用其它试验方法替代标准中规定的试验方法而未放松本规范的要求时,经鉴定机构同意,可以使用替代的试验方法。4.8.1外形结构与外观质量检查
以目测和满足精度要求的量具和衡器对产品进行检查,以便验明其材料、设计结构、外形尺寸、标志和外表面是否满足相应要求(见3.1,3.4和3.5.条)。4.8.2电特性检验
电特性检验按有关标准和详细规范的规定。4.9鉴定检验
鉴定检验应在认证机构认可的实验室中,对按4.10条要求筛选过的产品进行。鉴定时应经受和质量一致性检验相同的A组、B组和C组的检验。4.9.1提交鉴定检验的样品数量
提交鉴定检验的样品数量由制造单位确定,但至少应是B组、C组检验所用样品数量的两倍
4.9.2鉴定合格资格的保持
为了保持鉴定合格资格,制造单位应每隔12个月向鉴定机构提交一份报告,报告应包括下列内容:
a.已进行的所有A组检验结果摘要,其中至少应表明批次合格率。b.B组、C组检验结果摘要。其中应包括失效的数量和失效模式。该摘要应包括在12个月内所进行和完成的全部B组和C组检验的结果,如果该试验结果摘要表明不符合规范要求,并且亦未采取鉴定机构认可的纠正措施,则应取消该产品的鉴定合格资格。如果在报告有效期内停产,制造单位应提交一份报告,说明制造方仍保持生产这种产品所-6
必须的能力。
SJ20527-95
如果连续三个报告期内未生产,制造单位在提供认证合格产品之前,诺重新进行鉴定试验。
4.10筛选
在提交鉴定或质量一致性检验前,全部产品应按表1列出的项目、顺序和要求或按详细规范的规定进行筛选。
筛选试验过程中和试验后的电性能要求,在详细规范中规定。表1筛选
筛选项目
1外形和机械检查
225℃下电特性
3电老化
425C下电特性
5低温电特性
高温电特性
4.11质量一致性检验
试验方法
按规定
按规定
按规定
第2.2条
第2.2条
按规定
按规定
温度按规定,时间
至少48小时
按规定
最低工作环境温度或
最低工作壳湿
最高工作环境温度或
最高工作壳温
质量一致性检验包括逐批进行的A组、B组检验和周期进行的C组检验。在C组检验合格的周期内,A组、B组检验均合格的批可以交货。在C组检验不合格的情况下应停止产品交货。待按4.7条规定采取改正措施并重新检验合格后方可恢复交货。4.11.1A组检验
每个检验批均应按表2和详细规范的规定进行A组检验。抽样应符合GJB179的规定。表2A组检验
检验项目
Al分组
外形和机械检查
A2分组25℃下电性能
4.11.2B组检验
试验方法
按规定
条件和要求
3.1;3.4,3.5条
GJB360.1第4章
按规定
抽样要求
每个检验批均应按表3和详细规范的规定进行B组检验,B组检验的样品应从A组检验合格的批中抽取。
检验项目
B1分组
低温电特性
B2分组
高温电特性
B3分组
高温工作
SJ20527-95
表3B组检验
试验方法
最低工作环境温度
或最低工作壳温
最高工作环境温度
或最高工作壳温
最高工作环境温度
或最高工作壳温
时间8小时
抽样要求
样品数(接收数)
注:除另有规定外,高、低温电特性试验应连续进行,即当BI分组试验完毕后直接升温至高温进行B2分组试验。
4.11.3C组检验
C组检验为周期检验。连续生产每隔12个月即应按表4和详细规范的规定进行C组检验。当鉴定后的产品工艺、材料出现更改生产条件发生重大变动;生产间断时间超过12个月后重新生产时均应进行C组检验。C组检验的样品可以从上一次C组检验后的任一或几个已通过A组、B组检验的批中抽取,也可以从通过A组检验的批中抽取样品同时进行B组、C组检验。表4C组检验
检验项目
CI分组
温度冲击
稳态湿热
耐湿试验
电特性测试
C2分组
高频振动
随机振动
电特性测试
C3分组
高温览存
电特性测试
试验方法
按规定
GJB360.15
GJB360.24
GJB360.23
按规定
按规定
条件A
条件B,不要求预处理,除另有规定外,试验过程中不施加电应力
不要求预处理,除另有规定外,试验过程中不施加电应力
按规定
按规定
按规定
按规定
按规定
最高贮存温度,试验48h,恢复2h按规定
抽样要求
样品数(接收数)
C4分组
低温贮存
电特性测试
C5分组免费标准下载网bzxz
盐雾(适用时)
C6分组
低气压(适用时)
电特性测试
C7分组
引线强度(适用时)
C8分组
可焊性(适用时)
C9分组
耐焊接热(适用时)
电特性测试
C10分组
密封试验(适用时)
CII分组
MTBF(适用时)
按规定
按规定
GJB360.21
GJB360.18
GJB360.20
按规定
GJB360.12
SJ20527-95
表4C组检验
最低贮存温度,试验24h恢复4h
按规定
试验等级B
压力等级按规定,试验2h,恢复2h。按规定
按规定
按规定
条件B或条件E
按规定
按规定
试验方案和方法按GJB899和详细规范规定4.11.4B组和C组检验的电特性测试抽样要求
样品数(接收数)
见GJB899
B组和C组试验后或试验中,应按规定对每个样品的电特性进行测试,除另有规定外,有恢复时间要求的应在恢复时间到达后的4h内完成测试。未规定恢复时间的应在试验结束后48h内完成。
4.11.5失效判据
试验中和试验后的失效判据在详细规范中规定。4.11.6不合格
如果A组、B组或C组的检验任一分组中有一项或一项以上试验不合格,则判该分组检验不合格,并按4.7条处理。
5交货准备
5.1包装
5.1.1内包装
所有波导、同轴接口应具有推压式塑料帽封盖。成品应逐个用防潮材料或塑料薄膜袋进行内包装,然后放入能定位和防振的泡沫塑料盒或硬纸盒内。也可直接把产品装入能防潮的SJ20527-95
塑料盒内。盒内应装有产品使用说明书、质量信息反馈单、保修单和合格证。合格证上应标明:
制造单位名称或商标:
b。产品型号和名称;
c.产品序列号(当适用时);
d.检验部门合格印章。
5.1.2外包装
装有产品的盒子应放入防潮、防霉的干燥包装箱内,并应采取措施固定牢靠,不得晃动。箱内应放有装箱单,装箱单上应标明:a.制造单位名称或商标;
b.产品型号和名称;
产品数量;
d已装日期;
包装人员(印章或代号)。
5.1.3包装标志
包装标志应清晰并符合GJB191的规定。5.2贮存
产品应贮存在温度为一10~40和相对湿度不大于80%的干燥、通风、无腐蚀性气体的环境中。带磁性元件的产品应禁止存放在靠近铁磁性物质的环境中。5.3运输
产品应有牢固的包装箱,装有产品的包装箱可利用任何运输工具运输,运输中应避免雨、雪淋袭和剧烈机械撞击。
6说明事项
6.1预定用途
本规范规定的产品,预定用于各种军用雷达、通信、电子对抗、测控等整机系统中,使用中的特殊要求应在详细规范或合同中规定。6.2订货文件内容
订货文件应规定下列内容:
a产品的型号、名称;
b,本规范的名称、编号和发布日期;c:有关详细规范的名称、编号和发布日期:应提供的试验数据;
订货数量;
f.特殊的防护包装和装箱要求;g.
特殊的环境和可靠性要求;
其它要求。
6.3定义
6.3.1微波组件microwaveassembly利用微波元器件和其它零件组装而成,用同轴、波导或其它传输线形式与外电路相连,在10
SJ20527-95
系统中能独立完成特定功能,出现故障后可进行维修的微波电路类产品。2其他术语和定义
应优先使用第2章有关标准中的术语和定义附加说明:
本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由电子工业部第五十五研究所起草本规范主要起草人:戴爱节、陈裕煜、梅滨、金毓铨。
计划项目代号:B31020。
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1996-06-14发布
微波组件总规范
General specificationfor
microwaveassembly
SJ20527-95
1996-10-01实施
中华人民共和国电子工业部
中华人民共和国电子行业军用标准微波组件总规范
General specification for
microwaveassembly
1范围
SJ20527-95
1.1主题内容
本规范规定了军用微波组件(以下简称产品)的一般要求。产品的具体要求和特性在有关详细规范中规定。
1.2适用范围
本规范适用于产品的研制、生产和采购。2引用文件
GB191—90
GB3191--82
GB3192-82
GB3193—82
GB5231—85
GB523285
GB5233—85
GB7408—81
GB11313--89
GB11314-89
GB11315—89
GB11316-89
GB11449-89
GJB150.3-86
GJB150.4—86
GJB179—86
GJB 360.1-87
GJB360.2—87
GJB360.3—87
GJB360.5—87
GJB 360.6-87
包装储运指示标志
铝及铝合金挤压棒材
高强度铝合金挤压棒
铝及铝合金热轧板
加工铜一化学成分和产品形状
加工黄铜一化学成分和产品形状加工青铜一化学成分和产品形状星期编号
射频同轴连接器总规范
N型射频同轴连接器
BNC型射频同轴连接器
SMA型射频同轴连接器
波导法兰盘
军用设备环境试验方法
军用设备环境试验方法
计数抽样程序及表
高温试验
低温试验
电子及电气元件试验方法
电子及电气元件试验方法
电子及电气元件试验方法
电子及电气元件试验方法
电子及电气元件试验方法
中华人民共和国电子工业部1996-06-14发布总则
盐雾试验
稳态湿热试验
低气压试验
耐湿试验
1996-10-01实施
GJB360.7—87
GJB 360.1287
GJB360.15—87
GJB360.18-87
GJB360.20—87
GJB360.21--87
GJB360.23—87
GJB360.24—87
GJB899-90
SJ20527-95
电子及电气元件试验方法
电子及电气元件试验方法
电子及电气元件试验方法
电子及电气元件试验方法
电子及电气元件试验方法
电子及电气元件试验方法
电了及电气元件试验方法
电子及电气元件试验方法
可靠性鉴定与验收试验
军用电子元器件质量认证章程
3要求
3.1总则
温度冲击试验
密封试验
高频振动试验
可焊性试验
耐焊接热试验
引出端强度试验
冲击(规定脉冲)试验
随机振动试验
按本规范规定供货的制造单位,应具备或可以利用其他单位的足以保证符合本规范和有关详细规范要求的生产和检验用设备和仪器,并应制定相应的产品质量保证计划。3.1.1详细规范
产品的具体要求应符合详细规范的规定。若不注明出处或文件时,本规范中使用“按规定”一词,指按有关产品详细规范的规定。3.1.2优先顺序
当本规范的要求与详细规范或有关文件的要求发生予盾时,应按下列优先顺序来确定要求。
a.有关详细规范;
b.本规范;
c.第2章中所引用文件。
3.2鉴定
按本规范提交的产品应是鉴定合格的产品。鉴定机构应对制造单位的产品质量保证计划进行审查,以确定其是否具备鉴定合格资格。3.3产品保证要求
按本规范提交的产品应遵守第4章的质量保证规定,并按第5章的规定交货。3.3.1按本规范供货的产品,在取得合格鉴定资格之前,必须具备完整的设计文件、工艺文件、检验文件详细规范、检验和试验记录。3.3.2产品在研制、生产中必须建立相应的质量保证、管理和控制制度,其中至少应包括:技术文件管理和更改制度
外购器材、半成品、产品、工艺检验和控制制度,生产环境控制制度;计量器具和试验设备的计量检定制度;生产、检验记录和产品质量追潮性管理制度:信息收集、反馈和失效分析、改进制度;试验质量保证制度;
售后服务制度:
人员培训制度。
SJ20527-95
上述制度应以文件形式颁布实施,并记录实施情况,有关主管部门应对文件的实施情况进行检查,以作为保持产品鉴定合格资格的依据。3.4设计、结构和材料要求
按本规范供货的产品,其设计、结构和材料应符合本规范和有关详细规范的规定。3.4.1设计
产品设计时,应考虑以下要求:a.本规范和详细规范;
b.用户实际使用要求;
c.可靠性求;
d.本厂生产的同类产品的使用方质量信息反馈资料。3.4.2封装
按本规范供货的产品,应采用金属外壳封装,同轴连接件应符合GB11313和GB11314、GB11315或GB11316的有关规定,波导连接件应符合GB11449的有关规定。3.4.3元器件
按本规范供货的产品,所用元器件均应符合军用元器件的要求。应优先选用按相应国军标检验合格的产品
3.4.4金属材料
产品所用铝材料应符合GB3191、GB3192或GB3193的规定,所用铜材料应符合GB5231、GB5232或GB5233的规定:产品外部金属表面应是抗腐蚀的或是经过电镀、氧化等抗腐蚀处理的。若无适当保护措施,产生明显电解腐蚀的不相容金属不能直接接触。3.4.5其它材料
产品所用的其它材料(如基片等)应是按有关文件规定经过检验合格的,且不应有对微波组件在规定条件下贮存、工作和试验产生不利影响的任何缺陷。3.4.6结构
产品的结构应符合详细规范的规定。3.4.7外观质量
产品的外观质量应符合详细规范及本规范的规定。3.4.7.1金属表面
产品的金属表面应无毛刺、裂缝和划痕以及肉眼可识别的空洞、气泡、裂痕或砂眼。连接器的接插脚不应弯曲或损坏。
3.4.7.2镀涂后的表面
产品经过镀涂后的表面必须均匀,没有起皮、划痕或裂痕,喷漆的表面必须光滑无缺陷,并有一定的粘附力、无超泡和脱落现象。3.4.8重量
产品的重量应符合详细规范的规定。3.4.9焊接
微波组件的电气连接应优先采用合金焊接或超声焊接,除另有规定外,一般不得采用胶类粘接。
3.4.10推荐温度范围
推荐的工作环境温度或壳温如下:3
b.-40~70c
c.-20~60℃
d.-10~50℃
3.5产品标志
3.5.1产品上的标志
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各类产品上应有符合本规范和详细规范规定的标志。产品的标志应清楚明显,经全部试验后,标志应保持清晰。因机械试验夹具所引起的标志损坏不应作为批拒收的依据,但损坏标志的产品应返工,以保证交货时标志完整和清晰。除另有规定外,每个产品应包括以下标志:产品型号、名称(见3.5.1.1条);a.
制造单位名称或商标(见3.5.1.2条)b.
检验批识别代码(见3.5.1.3):c.
产品序列号,当适用时(见3.5.1.4条);d.
各接口、调节部位的标志(见3.5.5条)f.产品合格标志及质量认证合格标志(见3.5.1.6条);g.特殊标志,当适用时(见3.5.1.7条)。3.5.1.1产品型号、名称
产品型号、名称应能识别出按照详细规范所述的电路功能和特性。3.5.1.2制造单位的名称或商标
产品应标上制造单位的名称或商标。3.5.1.3检验批识别代码
产品应标有检验批识别代码。通过该识别代码即能识别其检验批,又能识别产品的生产时间。识别代码中前面的两个数字为年份的最后两位数字,第三及第四位为该批产品提交检验的星期编号。星期的编号应符合GB7408的规定。3.5.1.4序列号
序列号采取两位或更高位数字,以区别同一检验批中的产品,便于追溯。序列号可紧接检验批识别代码之后。
3.5.1.5各接口、调节部位的标志产品的各接口、调节部位应有明显标志以说明其功能。3.5.1.6产品合格标志及质量认证合格标志按本规范和有关详细规范要求交货的产品,均应在有合格标志或附有合格证。使用合格标志的条件是:按本规范和有关详细规范规定检验合格,并将试验数据存档以供查核。认证合格的产品按《军用电子元器件质量认证章程的规定,在产品型号的前面打上认证合格标志。3.5.1.7特殊标志(当适用时)
如果要使用特殊标志,则不得与本规范所要求的标志相混淆。3.5.2包装上的标志
除3.5.1.4和3.5.1.5条外,3.5.1条规定的所有标志以及详细规范号,均应标在交货所用的包装容器上。
3.6可靠性
适用时,MTBF的验证试验按本规范表4C11分组的规定进行。不进行MTBF的验证试-4
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验时,应在详细规范的第6章中提供数据。4质量保证规定
4.1检验职责
除另有规定外,制造单位应负责履行本规范和详细规范所规定的全部检验。有关主管部门有权进行本规范规定的任何检验,其中包括性能的检验和对产品质量保证计划执行情况的检查,以便确保产品符合规范要求。4.2产品存放超过24个月的程序
通过了鉴定检验和质量一致性检验并在制造单位存放时间超过24个月的产品,在交货之前应由制造单位按A组检验的全部检验要求对准备交货的检验批或产品进行重新检验。如重新检验时不合格,则全部产品应100%地经受不合格分组的检验。不满足其中任何一项要求的产品都应从批中剔除。
4.3检验分类
本规范规定的检验分为:
,a.鉴定检验(见4.9条)
b.筛选(见4.10条)
c.质量一致性检验(见4.11条):4.4检验批的构成
按相同设计,相同工艺,采用相同村料生产出来并同时提交检验的同一一型号(包括不同规格)的全部产品构成一个检验批。4.5样品的处理
凡经受过破坏性试验或在任一项试验中失效的产品,均不得作为合格品交货。如果鉴定或质量一致性检验合格,检验中经受了4.5.2条中规定的非破坏性试验和其它经试验证明为非破坏性的试验,而且试验后的特性符合A组合格判据的样品,可作为合格产品交货。4.5.1破坏性试验
除另有规定外,下列各项试验应作为破坏性试验:盐雾试验
引线强度试验
耐焊接热试验
可焊性试验
除4.5.2中所列的项目外,其它机械和气候试验,开始时应当作破坏性试验处理。只有当随后积累的数据足以说明该项试验为非破坏性试验时,才可作为非破坏性试验。如时某项试验对同一组样品重复进行5次,而没有累积退化或通不过该项试验的迹象,则可以认为此项试验为非破坏性试验。
4.5.2非破坏性试验
除另有规定外,下列试验为非破坏性试验外形自检
低温电特性
高温电特性
高温工作试验
高温贮存试验
低温贮存试验
低气压试验
密封试验
MTBF试验
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:本规范和详细规范规定作为筛选和A组检验的项目,应认为是非破坏性的。4.6试验设备故障或操作人员差错引起的失效当确定某一失效是由于设备故障或操作人员差错引起的,应将失效情况记入试验记录,该记录应与确认这种失效不应判定该产品不合格的全部资料一起保存备查。此时,在该批产品中应重新抽取样品进行该检验分组的全部试验。4.7重新提交
当提交鉴定或质量一致性检验的任一检验批不符合A,B或C组检验中任一分组要求时,应根据不合格的原因,采取纠正措施后,对不合格的检验分组重新提交检验。A组重新检验应100%进行B组、C组的重新检验除C11分组外,应加倍抽样进行。C11分组不合格时可按GIB899规定程厚重新进行一次MTBF试验。若加倍抽样检验仍有失效,或MTBF试验仍不合格,制造单位应将失效和所采取的纠正措施的资料提供给鉴定机构和有关主管部门,以供裁决。4.8试验条件和方法
除另有规定外,试验条件和方法应从第2章所列的GJB150和GJB360有关分标准中选择。在制造单位能向鉴定机构证明,用其它试验方法替代标准中规定的试验方法而未放松本规范的要求时,经鉴定机构同意,可以使用替代的试验方法。4.8.1外形结构与外观质量检查
以目测和满足精度要求的量具和衡器对产品进行检查,以便验明其材料、设计结构、外形尺寸、标志和外表面是否满足相应要求(见3.1,3.4和3.5.条)。4.8.2电特性检验
电特性检验按有关标准和详细规范的规定。4.9鉴定检验
鉴定检验应在认证机构认可的实验室中,对按4.10条要求筛选过的产品进行。鉴定时应经受和质量一致性检验相同的A组、B组和C组的检验。4.9.1提交鉴定检验的样品数量
提交鉴定检验的样品数量由制造单位确定,但至少应是B组、C组检验所用样品数量的两倍
4.9.2鉴定合格资格的保持
为了保持鉴定合格资格,制造单位应每隔12个月向鉴定机构提交一份报告,报告应包括下列内容:
a.已进行的所有A组检验结果摘要,其中至少应表明批次合格率。b.B组、C组检验结果摘要。其中应包括失效的数量和失效模式。该摘要应包括在12个月内所进行和完成的全部B组和C组检验的结果,如果该试验结果摘要表明不符合规范要求,并且亦未采取鉴定机构认可的纠正措施,则应取消该产品的鉴定合格资格。如果在报告有效期内停产,制造单位应提交一份报告,说明制造方仍保持生产这种产品所-6
必须的能力。
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如果连续三个报告期内未生产,制造单位在提供认证合格产品之前,诺重新进行鉴定试验。
4.10筛选
在提交鉴定或质量一致性检验前,全部产品应按表1列出的项目、顺序和要求或按详细规范的规定进行筛选。
筛选试验过程中和试验后的电性能要求,在详细规范中规定。表1筛选
筛选项目
1外形和机械检查
225℃下电特性
3电老化
425C下电特性
5低温电特性
高温电特性
4.11质量一致性检验
试验方法
按规定
按规定
按规定
第2.2条
第2.2条
按规定
按规定
温度按规定,时间
至少48小时
按规定
最低工作环境温度或
最低工作壳湿
最高工作环境温度或
最高工作壳温
质量一致性检验包括逐批进行的A组、B组检验和周期进行的C组检验。在C组检验合格的周期内,A组、B组检验均合格的批可以交货。在C组检验不合格的情况下应停止产品交货。待按4.7条规定采取改正措施并重新检验合格后方可恢复交货。4.11.1A组检验
每个检验批均应按表2和详细规范的规定进行A组检验。抽样应符合GJB179的规定。表2A组检验
检验项目
Al分组
外形和机械检查
A2分组25℃下电性能
4.11.2B组检验
试验方法
按规定
条件和要求
3.1;3.4,3.5条
GJB360.1第4章
按规定
抽样要求
每个检验批均应按表3和详细规范的规定进行B组检验,B组检验的样品应从A组检验合格的批中抽取。
检验项目
B1分组
低温电特性
B2分组
高温电特性
B3分组
高温工作
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表3B组检验
试验方法
最低工作环境温度
或最低工作壳温
最高工作环境温度
或最高工作壳温
最高工作环境温度
或最高工作壳温
时间8小时
抽样要求
样品数(接收数)
注:除另有规定外,高、低温电特性试验应连续进行,即当BI分组试验完毕后直接升温至高温进行B2分组试验。
4.11.3C组检验
C组检验为周期检验。连续生产每隔12个月即应按表4和详细规范的规定进行C组检验。当鉴定后的产品工艺、材料出现更改生产条件发生重大变动;生产间断时间超过12个月后重新生产时均应进行C组检验。C组检验的样品可以从上一次C组检验后的任一或几个已通过A组、B组检验的批中抽取,也可以从通过A组检验的批中抽取样品同时进行B组、C组检验。表4C组检验
检验项目
CI分组
温度冲击
稳态湿热
耐湿试验
电特性测试
C2分组
高频振动
随机振动
电特性测试
C3分组
高温览存
电特性测试
试验方法
按规定
GJB360.15
GJB360.24
GJB360.23
按规定
按规定
条件A
条件B,不要求预处理,除另有规定外,试验过程中不施加电应力
不要求预处理,除另有规定外,试验过程中不施加电应力
按规定
按规定
按规定
按规定
按规定
最高贮存温度,试验48h,恢复2h按规定
抽样要求
样品数(接收数)
C4分组
低温贮存
电特性测试
C5分组免费标准下载网bzxz
盐雾(适用时)
C6分组
低气压(适用时)
电特性测试
C7分组
引线强度(适用时)
C8分组
可焊性(适用时)
C9分组
耐焊接热(适用时)
电特性测试
C10分组
密封试验(适用时)
CII分组
MTBF(适用时)
按规定
按规定
GJB360.21
GJB360.18
GJB360.20
按规定
GJB360.12
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表4C组检验
最低贮存温度,试验24h恢复4h
按规定
试验等级B
压力等级按规定,试验2h,恢复2h。按规定
按规定
按规定
条件B或条件E
按规定
按规定
试验方案和方法按GJB899和详细规范规定4.11.4B组和C组检验的电特性测试抽样要求
样品数(接收数)
见GJB899
B组和C组试验后或试验中,应按规定对每个样品的电特性进行测试,除另有规定外,有恢复时间要求的应在恢复时间到达后的4h内完成测试。未规定恢复时间的应在试验结束后48h内完成。
4.11.5失效判据
试验中和试验后的失效判据在详细规范中规定。4.11.6不合格
如果A组、B组或C组的检验任一分组中有一项或一项以上试验不合格,则判该分组检验不合格,并按4.7条处理。
5交货准备
5.1包装
5.1.1内包装
所有波导、同轴接口应具有推压式塑料帽封盖。成品应逐个用防潮材料或塑料薄膜袋进行内包装,然后放入能定位和防振的泡沫塑料盒或硬纸盒内。也可直接把产品装入能防潮的SJ20527-95
塑料盒内。盒内应装有产品使用说明书、质量信息反馈单、保修单和合格证。合格证上应标明:
制造单位名称或商标:
b。产品型号和名称;
c.产品序列号(当适用时);
d.检验部门合格印章。
5.1.2外包装
装有产品的盒子应放入防潮、防霉的干燥包装箱内,并应采取措施固定牢靠,不得晃动。箱内应放有装箱单,装箱单上应标明:a.制造单位名称或商标;
b.产品型号和名称;
产品数量;
d已装日期;
包装人员(印章或代号)。
5.1.3包装标志
包装标志应清晰并符合GJB191的规定。5.2贮存
产品应贮存在温度为一10~40和相对湿度不大于80%的干燥、通风、无腐蚀性气体的环境中。带磁性元件的产品应禁止存放在靠近铁磁性物质的环境中。5.3运输
产品应有牢固的包装箱,装有产品的包装箱可利用任何运输工具运输,运输中应避免雨、雪淋袭和剧烈机械撞击。
6说明事项
6.1预定用途
本规范规定的产品,预定用于各种军用雷达、通信、电子对抗、测控等整机系统中,使用中的特殊要求应在详细规范或合同中规定。6.2订货文件内容
订货文件应规定下列内容:
a产品的型号、名称;
b,本规范的名称、编号和发布日期;c:有关详细规范的名称、编号和发布日期:应提供的试验数据;
订货数量;
f.特殊的防护包装和装箱要求;g.
特殊的环境和可靠性要求;
其它要求。
6.3定义
6.3.1微波组件microwaveassembly利用微波元器件和其它零件组装而成,用同轴、波导或其它传输线形式与外电路相连,在10
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系统中能独立完成特定功能,出现故障后可进行维修的微波电路类产品。2其他术语和定义
应优先使用第2章有关标准中的术语和定义附加说明:
本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由电子工业部第五十五研究所起草本规范主要起草人:戴爱节、陈裕煜、梅滨、金毓铨。
计划项目代号:B31020。
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