【电子行业标准(SJ)】 半导体集成电路 ＥＣＬ电路测试方法的基本原理

UDC621.382.049.75-181.4:621.317.08GB
中华人民共和国国家标准
GB3441--82
SJ/T10737-96
半导体集成电路ECL电路
测试方法的基本原理
General principles of measuring methodsof ECLcircuits for semiconductorintegratedcircuits
1982-12-31发布
国家标准局批准
TTTKKAca
1983-10-01实放
总的要求
2静态参数测试
输出高电平电压Vou
2.2输出高电平阈值电压Vomm
2.3输出低电电压Vol：
2.4输出低电半值电压Vo17
2.5输入高电平电流Im
2.6输入低电平电流L
2.7电源电流EE
3动态参数测试
建立时间t set
保持时间tH
输出由低电平到高电平传输延迟时间tpLl!输出由高电平到低电平传输延达时间tpHL.上升时间t，
下降时间
最高时钟频率ma>
附录A图形符号
YYKAONYKCa
（1）
（2）
（3）
（3）
（4）
·（5)
（6）
+（6）
·（7)
（9）)
（10)
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中华人民共和国国家标准
半导体集成电路ECL电路
测试方法的基本原理
Generalprinciplesof measuringmethodsofECL circuitsfor semiconductorintegrated circuits
UDC621.382
049.75-181.4
:621.317.08
GB3441—82
本标准规定了半导体集成电路ECL电路（以下简称器件）静态参数和动态参数测试方法的基本原本标准是参考际电1.委员会（IEC）147一2《半导体器件和集成电路测试方法的基本原理》制订的。
者无特殊说明，本标准涉及的逻辑均为正逻辑。1总的要求
1.1若无特殊说明，测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定。1.2测试期间，应避免外界干扰对测试精度的影响。测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定。
1.3测试期间，施于被测器件的电源电压应在规定值的土1%以内。施于被测器件的其他电参量的精度应符合器件详细规范的规定。1.4被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件。1.5除了被测器件的功能是由参数测试来证实外，在静态参数测试利动态参数测试前应进行功能测试。
1.6测试期问，被测器件应避免出现自激现象。2静态参数测试
2.1输出高电电压VoH
2.1.1定义
输人端在施加规定的电半下，使输出端为逻辑高电平H时的电压。2.1.2测试原理图
输出高电平电压VoH的测试原理图如图1所示。国家标准局1982-12-31发布
YYKAONTKAa
1983-1001实施
2.1.3测试条件
输人网络
GB3441-82
被测器件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度T4
电源电压VEE
c.输人端施加的电平，
d.输出负载。
2.1.4测试程序
输州负较网络
2.1.4.1在器件详细规范规定的环境温度T下，将被测器件接入测试系统中。2.1.4.2
电源电压VEE调到器件详细规范规定的电压值。2.1.4.3输人端施加器件详细规范规定的电平。2.1.4.4
被测输出端施加器件详细规范规定的输出负载；其余输出端开路。2.1.4.5在被测输出端测得输出高电半电压Von。2.1.4.6按本标准第2.1.4.3项至2.1.4.5项规定，分别测试每个输出端。2.2输出高电平阀值电压VoT
2.2.1定义
输人端在施加规定的阔值电平下，使输出端为逻辑高电平H时的國值电压。2.2.2测试原理图
输出高电平阈值电压VoHT的测试原理图如图2所示。Vec
翁人网络
2.2.3测试条件
被測器件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TAs
YYKAONTKAa
输出煲裁网络
b.电源电压VrE;
输人端施加的值电平，
d.输出负载。
GB3441—82
2.2.4测试程序
2.2.4.1在器件详细规范规定的环境温度T，下，将被测器件接人测试系统中。电源电压VE调到器件详细规范规定的电压值。2.2.4.2
2.2.4.3输入端施加器件详细规范规定的值电平。被测输出端施加器件详细规范规定的输出负载；其余输出端开路。2.2.4.4
在被测输出端测得输出高电平阈值电压VoHT。2.2.4.5
2.2.4.6按本标准第2.2.4.3项至2.2.4.5项规定，分别测试每个输出端。2.3输出低电平电压Vol
2.3.1定义
输人端在施加规定的电平下，使输出端为逻辑低电平L时的电压。2.3.2测试原理图
输出低电平电压VoL的测试原理图如图3所示。eci
输人网络
2.3.3测试条件
破测器件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TA：
电源电压VEE
输入端施加的电平；
输出负载。
2.3.4测试程序
输出负载网络
在器件详细规范规定的环境温度T下，将被测器件接入测试系统中。2.3.4.1
电源电压VEE调到器件详细规范规定的电压值。输入端施加器件详细规范规定的电平。被测输出端施加器件详细规范规定的输出负载；其余输出端开路。5在被测输出端测得输出低电半电压VoL。2.3.4.5
2.3.4.6按本标准第2.3.4.3项至2.3.4.5项规定，分别测试每个输出端。2.4输出低电平阈值电压VoLT
2.4.1定义
输人端在施加规定的阀值电平下，使输出端为逻辑低电平L时的阅值电压。2.4.2测试原理图
输出低电平阈值电压VoLT的测试原理图如图4所示。YYKAONYKCa
2.4.3测试条件
输人网络
GB3441—82
被器件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.
环境温度T3
电源电压VEE：
输入端施加的值电平；
输出负载。
2.4.4测试程序
输出负载网络
在器件详细规范规定的环境温度TA下，将被测器件接人测试系统中。电源电压VEE调到器件详细规范规定的电压值。输人端施加器件详细规范规定的阈值电平。2.4.4.3
被测输出端施加器件详细规范规定的输出负载：其余输出端开路。2.4.4.4
在被测输出端测得输出低电平阈值电压VoLT。2.4.4.6按本标准第2.4.4.3项至2.4.4.5项规定，分别测试每个输出端。2.5输人高电平电流I1H
2.5.1定义
输人端在施加规定的高电平电压VIH时流人器件的电流。2.5.2测试原理图
输入高电平电流IH的测试原理图如图5所示。Tn
2.5.3测试条件
输人网络
被测器件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境温度TA
电源电压VEE：
YYKAONTKAa
输入高电平电压IH
d.输人端施加的电平。
GB3441---82
2.5.4测试程序
2.5.4.1在器件详细规范规定的环境温度T4下，将被测器件接人测试系统中。2.5.4.2电源电压VEFE调到器件详细规范规定的电压值。2.5.4.3被测输入端输人高电平电压V调到器件详细规范规定的电压值；其余输人端施加器件详细规范规定的电平。
2.5.4.4输出端开路。
2.5.4.5在被测输人端测得输入高电平电流It。2.5.4.6按本标准第2.5.1.3项至2.5.4.5项规定，分别测试每个输人端。2.6输人低电平电流11
2.6.1定义
输人端在施加规定的低电平电压时流人器件的电流。2.6.2测试原弹图
输人低电平电流的测试原理图如图6所示。Int
2.6.3测试条件
输人网络
被测器件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a。环境温度TA；
b.电源电压VEE:
c.输低电电压Viu;
d。输人端施加的电平。
2.6.4测试程序
2.6.4.1在器件详细规范规定的环境温度TA下，将被测器件接人测试系统中1。2.6.4.2电源电压VEE调到器件详细规范规定的电压值。2.6.4.3被测输人端输人低电电压V调到器件详细规范规定的电压值；其余输人端施加器件详细规范规定的电平。
2.6.4.4输出端开路。
5在被测输人端测得输人低电平电流I儿。2.6.4.5
2.6.4.6按本标准第2.6.4.3项至2.6.4.5项规定，分别测试每个输人端。2.7电源电流/
2.7.1定义
YYKAONYKCa
GB3441—82
输人端在施加规定的电平下，经电源端流出器件的电流。2.7.2测试原理图
电源电流的测试原理图如图7所示。ecs
输人网络
2.7.3测试条件
被翻器
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境温度T4;
b.电源电压IEF
c.输人端施加的电平。
2.7.4测试程序
2.7.4.1在器件详细规范规定的环境温度T，下，将被测器件接入测试系统中。电源电压VEE调到器件详细规范规定的电压值。2.7.4.2
输人端施加器件详细规范规定的电平。2.7.4.4
输出端开路。
在电源端测得电源电流IEE。
3动态参数测试
3.1建之时间set
3.1.1定义
时序逻辑器件，数据输人脉冲电压应比触发输人脉冲电压提前施加于器件的时间。3.1.2测试原理图
建之时问tset的测试原理图如图8所示。6
YYKAONTKa
输入驱动网络
建立时间tser的波形图如图9所示。GB3441—82
输人驱动网络
双迹示波器
触发输人脉冲
数据输人脉冲
3.1.3测试条件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度T4折
电源电压Vee、VEEt
输人端施加的电平；
被测器件
信号检测仪
输人脉冲电压的幅度VH、VL、频率f、宽度tw、上升时间t，、下降时间t；输出负载：
参考电平VREF。
3.1.4测试程度
在器件详细规范规定的环境温度T4下，将被测器件接入测试系统中。3.1.4.1
3.1.4.2电源电压VcC、VFE调到器件详细规范规定的电压值。输出负较网络
3.1.4.3被测数据输人端和触发输人端施加器件详细规范规定的脉冲电压；其余输入端施加器件详细规范规定的电平。
3.1.4.4输出端施加器件详细规范规定的输出负载。3.1.4.5调节被测数据输入端施加的脉冲电压比触发输入端施加的脉冲电压超前的时间，使输出逻辑电平按器件详细规范的规定临界转换前，该时问即为建立时间tsel。3.1.4.6按本标准第3.1.4.3项至3.1.4.5项规定，分别测试有关输入、输出端。3.2保持时间H
3.2.1定义
时序逻辑器件，数据输人脉冲电压在触发输人脉冲电压过后应保持的时间。YYKAONYKCa
3.2.2测试原理图
GB3441-82
保持时间tH的测试原理图如图10所示。输人驱动网络
输入驱动网络
保持时间tu的波形图如图11所示。触发输人脉油
数据输人脉计
3.2.3测试条件
双迹示波器
测试期问，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.
环境温度TA;
电源电压VCC、VEE
输入端施加的电，
被测器件
信号检测仪
输人脉冲电压的幅度VH、VL、频率f、宽度tu、上升时间t，、下降时间t；输出负载；
参考电平VREF。
测试程序
在器件详细规范规定的环境温度T下，将被测器件接人测试系统中。电源电压VcC、VEE调到器件详细规范规定的电压值。输出负载网络
被测数据输入端和触发输入端施加器件详细规范规定的脉冲电压，其余输人端施加器件详细规范规定的电平。
输出端施加器件详细规范规定的输出负载。3.2.4.4
调节被测数据输入端施加的脉冲电压比触发输人端施加的脉冲电压滞后的时间，使输出逻辑电平按器件详细规范的规定临界转换前。该时问即为保持时间u。3.2.4.6按本标准第3.2.4.3项至3.2.4.5项规定，分别测试有关输人、输出端。8
YYKAONYKCa
GB3441--82
3.3输出由低电平到高电平传输延迟时间tpLH3.3.1定义
输人端在施加规定的电平和脉冲电压时，输出脉冲电压由低电平到高电平的边沿和对应的输入脉冲电压边沿上两规定的参考电平间的时间。3.3.2测试原理图
输出由低电半到高电平传输延迟时间tPLt的测试原理图如图12所示。电
输人驱动网络
输出负载网络
双迹示波器
输出由低电平到高电平传输延迟时间tpLH的波形图如图13所示。输入脉冲
国相输出脉冲
反相输出脉油
3.3.3测试条件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度T4
电源电压VcC、VEF
输人端施加的电平；
输人脉冲电压的幅度VH、V频率f、宽度tw、上升时间t，、下降时间td.
输出负载；
参电VREF。
3.3.4测试程序
3.3.4.1在器件详细规范规定的环境温度T4下，将被测器件接人测试系统中。电源电压VCC、VEE调到器件详细规范规定的电压值。3.3.4.2
YYKAONTKa
GB3441-—82
3.3.4.3被测输入端施加器件详细规范规定的脉冲电压；其余输入端施加器件详细规范规定的电平。3.3.4.4输出端施加器件详细规范规定的输出负载。3.3.4.5在被测输出端输出脉冲电压由低电平到高电平的边沿上参考电平VREF处和对应的输入脉冲电压边沿上参考电平VREF处之间测得输出由低电平到高电平传输延时间tPLI1。3.3.4.6按本标准第3.3.4.3项至3.3.4.5项规定，分别测试有关输入、输出端。3.4、输出由高电平到低电平传输延迟时间tPHL3.4.1定义
输入端在施加规定的电平和脉冲电压时，输出脉冲电压由高电平到低电平的边沿和对应的输入脉冲电压边沿上两规定的参考电平间的时间。3.4.2测试原理图
输出由高电平到低电平传输延迟时间tPHL的测试原理图如图14所示。电
输人驱动网络
由负载网络
双迹示波器
输出由高电平到低电平传输延迟时间tPHL的波形图如图15所示。输人脉神
同相输出肽冲
反相输出脉冲
3.4.3测试条件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境温度TA：
b.电源电压VCC、VEEs
输入端施加的电平；
输人脉冲电压的幅度VH、Vt、频率f、宽度tw、上升时间t，、下降时间t，10
YYKAONYKCa
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