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【电子行业标准(SJ)】 半导体集成电路 TTL电路测试方法的基本原理
本网站 发布时间:
2024-07-14 12:37:56
- SJ/T10735-1996
- 现行
标准号:
SJ/T 10735-1996
标准名称:
半导体集成电路 TTL电路测试方法的基本原理
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
1996-11-20 -
实施日期:
1997-01-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
1.93 MB
替代情况:
原标准号GB 3439-82采标情况:
IEC 147-2 NEQ

部分标准内容:
UDC62T.382.049.75-181.4:621.317.08GB
中华人民共和国国家标准
GB3439—82
JSJ/T10735-96
半导体集成电路TTL电路
测试方法的基本原理
Generalprinciples of measuringmethodsof TTL circuits for semiconductor integrated circuits1982-12-31发布
1983-10-01实施
国家标准局批准
TTTKKAca
中华人民共和国国家标准
半导体集成电路TTL申路
测试方法的基本原理
Generalprinciplesofmeasuringmethodsof TTLcircuitsfor semiconductor integrated circuitsUDC621.382.049
.75-181.4
:621.317.08
GB3439—82
本标准规定了半导体集成电路TTL电路(以下简称器件)静态参数和动态参数测试方法的基本原理。
本标准是参考国际电工委员会(IEC)147一2《半导体器件和集成电路测试方法的基本原理》制订的。
若无特殊说明,本标准涉及的逻辑均为正逻辑。1总的要求
1.1若无特殊说明,测试期间,环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定。1.2测试期间,应避免外界干扰对测试精度的影响。测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定。
1.3测试期间,施于被测器件的电源电压应在规定值的±1%以内。施于被测器件的其他电参量的精度应符合器件详细规范的规定。1.4被测器件与测试系统连接或断开时,不应超过器件的使用极限条件。1.5除了被测器件的功能是由参数测试来证实外,在静态参数测试和动态参数测试前应进行功能测试。
1.6被测器件有内部存储或滞后现象时,测试前应有预置位周期。2静态参数测试
2.1输人钳位电压ViK
2.1.1定义
输人端在抽出规定的电流1k时的电压。2.1.2测试原理图
输入钳位电压VIK的测试原理图如图1所示。图1
国家标准局1982-12-31发布
YYKAONTKAa
1983-10-01实施
2.1.3测试条件
GB3439--82
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TA:
b.电源电压Vcc;
c.输入端抽出电流Iik。
2.1.4测试程序
2.1.4.1在器件详细规范规定的环境温度T4下,将被测器件接入测试系统中。2.1.4.2
电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.1.4.3被测输人端抽出器件详细规范规定的电流IiK;其余输人端开路。2.1.4.4输出端开路。
2.1.4.5在被测输入端测得输人钳位电压V1K。按本标准第2.1.4.3项至2.1.4.5项规定,分别测试每个输人端。2.1.4.6
2.2输出高电平电压VoH
2.2.1定义
输入端在施加规定的电半下,使输出端为逻辑高电平H时的电压。2.2.2测试原理图
输出高电平电压VoH的测试原理图如图2所示。Vee
人网络
被器件
2.2.3测试条件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TA;
电源电压Vcc,
输入端施加的电平;
输出端负载电流lo。
2.2.4测试程序
2.2.4.1在器件详细规范规定的环境温度T4下,将被测器件接入测试系统中。电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.2.4.2
2.2.4.3输人端施加器件详细规范规定的电平。2.2.4.4被测输出端抽出器件详细规范规定的负载电流IoH,其余输出端开路。2.2.4.5在被测输出端测得输出高电电压Vo。2.2.4.6按本标准第2.2.4.3项至2.2.4.5项规定,分别测试每个输出端。2.3输出高电平电压(双扩展端)Voxx2.3.1定义
有双扩展端的门电路,扩展端和输人端在施加规定的条件下,使输出端为逻辑高电半H时的电压。2
YYKAONYKCa
2.3.2测试原理图
GB3439-82
输出高电平电压(双扩展端)VoHXx的测试原理图如图3所示。Ve
2.3.3测试条件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境温度TA!
b.电源电压Vcc,
c.输人端施加的电平,
扩展端电流Ix,
输出端负载电流IoH。
2.3.4测试程序
2.3.4.1在器件详细规范规定的环境温度TA下,将被测器件接人测试系统中。2.8.4.2电源电压Vcc调到器件详细规范的规定值。2.3.4.3调节扩展端电阻R,使扩展端电流1x为器件详细规范的规定值,其余输入端施加器件详细规范规定的电平。
2.3.4.4输出端抽出器件详细规范规定的负载电流1oH。2.8.4.5在输出端测得输出高电平电压(双扩展端)VoHxx。2.4输出高电平电压(单扩展端)VoHx2.4.1定义
有单扩展端的门电路,扩展端和输人端在施加规定的条件下,使输出端为逻辑高电平H时的电压。2.4.2测试原理图
输出高电平电压(单扩展端)VoHX的测试原理图如图4所示。Ve
YYKAONYKCa
2.4.3测试条件
GB3439-82
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TA,
电源电压Vcc
输人端施加的电平,
扩展端电压Vx3
输出端负载电流IoH。
2.4.4测试程序
2.4.4.1在器件详细规范规定的环境温度T下,将被测器件接入测试系统中。2.4.4.2电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.4.4.3扩展端电压Vx调到器件详细规范规定的电压值;其余输人端施加器件详细规范规定的电平。
2.4.4.4输出端抽出器件详细规范规定的负载电流oH。2.4.4.5在输出端测得输出高电平电压(单扩展端)VoHx。2.5输出低电平电压VoL
2.5.1定义
输人端在施加规定的电平下,使输出端为逻辑低电平L时的电压。2.5.2测试原理图
输出低电平电压VoL的测试原理图如图5所示。Vo
编人网络
2.5.3测试条件
被测器件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境温度TA,
b.电源电压Vcc
c.输人端施加的电平,
d.输出端负载电流loL。
2.5.4测试程序
2.5.4.1在器件详细规范规定的环境温度T,下,将被测器件接人测试系统中。2.5.4.2电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.5.4.3输人端施加器件详细规范规定的电平。2.5.4.4被测输出端注人器件详细规范规定的负载电流IoL,其余输出端开路。2.5.4.5在被测输出端测得输出低电平电压VoL。2.5.4.6按本标准第2.5.4.3项至2.5.4.5项规定,分别测试每个输出端。2.6输出低电平电压(双扩展端)VoLXxx4
YYKAONYKCa
GB3439--82
2.6.1定义
有双扩展端的门电路,扩展端和输人端在施加规定的条件下,使输出端为逻辑低电平L时的电压。2.6.2测试原理图
输出低电平电压(双扩展端)VoLxx的测试原理图如图.6所示。Voc
被测器件
2.6.3测试条件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.
环境温度TA
电源电压Vcc:
输人端施加的电平;
扩展端X电阻Rx
扩展端电流|xx,
输出端负载电流IoL。
测试程序
在器件详细规范规定的环境温度T下,将被测器件接入测试系统中。2.6.4.1
2.6.4.2电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.6.4.3扩展端注人器件详细规范规定的电流Ixx,其余输人端施加器件详细规范规定的电平。2.6.4.4输出端注人器件详细规范规定的负载电流IoL。2.6.4.5在输出端测得输出低电平电压(双扩展端)VoLxx。2.7输出低电平电压(单扩展端)VoLx2.7.1定义
有单扩展端的门电路,扩展端和输人端在施加规定的条件下,使输出端为逻辑低电平L时的电压。2.7.2测试原理图bzxz.net
输出低电平电压(单扩展端)VoLx的测试原理图如图7所示。5
YYKAONYKCa
2.7.3测试条件
人网性
GB3439-82
测试期间,“下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TA:
电源电压Vcc1
输人端施加的电半;
扩展端电流Ix;
输出端负载电流IoL。
2.7.4测试程序
在器件详细规范规定的环境温度T下,将被测器件接人测试系统中。电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.7.4.3扩展端抽出器件详细规范规定的电流1x,其余输入端施加器件详细规范规定的电平。2.7.4.4输出端注入器件详细规范规定的负载电流1oL。2.7.4.5在输出端测得输出低电平电压(单扩展端)VoLx。2.8扩展器导通电压(双扩展端)Vxx(0.v)2.8.1定义
有双扩展端的扩展器,输人端和扩展端在施加规定的条件下,使扩展器导通时扩展端间的电压。2.8.2测试原理图
扩展器导通电压(双扩展端)Vxx(0N))的测试原理图如图8所示。Vec
翁人网络
YYKAONTKa
被测器性
2.8.3测试条件
GB3439—82
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境温度TA;
b.电源电压Vcc
输入端施加的电平;
扩展端X电压Vx!
扩展端又电流。
2.8.4测试程序
2.8.4.1在器件详细规范规定的环境温度T4下,将被测器件接人测试系统中。2.8.4.2电源电压Vcc调到器件详细规范的规定值。2.8.4.3扩展端X电压Vx调到器件详细规范规定的电压值;扩展端X注入器件详细规范规定的电流1;其余输人端施加器件详细规范规定的条件。2.8.4.4在扩展端X和之间测得扩展器导通电压(双扩展端)Vxx(ON)。2.9扩展器导通电压(单扩展端)Vx(ON)2.9.1定义
有单扩展端的扩展器,输人端和扩展端在施加规定的条件下,使扩展器导通时扩展端的电压。2.9.2测试原理图
扩展器导通电压(单扩展端)Vx(ON)的测试原理图如图9所示。Vo
输人网络
2.9.3测试条件
被测器件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TA
电源电压Vccs
输人端施加的电平,
d。扩展端电流Ix。
2.9.4测试程序
2.9.4.1在器件详细规范规定的环境温度TA下,将被测器件接人测试系统中。2.9.4.2电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.9.4.3扩展端注人器件详细规范规定的电流Ix,其余输入端施加器件详细规范规定的电平。2.9.4.4在扩展端测得扩展器导通电压(单扩展端)Vx(0N)。2.10输出管B一E结电压VBEQ
YYKAONYKCa
2.10.1定义
GB3439-82
有双扩展端的门电路,输入端和扩展端在施加规定的条件下,使输出端为逻辑低电平L时,扩展端输出管B一E结的电压。
2.10.2测试原理图
输出管B一E结电压VBE9的测试原理图如图10所示。Vcc
人网络
2.10.3测试条件
被砌器件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TA:
电源电压Vcc
输入端施加的电平,
扩展端电流Ixx,
输出端负载电流IoL。
测试程序
在器件详细规范规定的环境温度T下,将被测器件接人测试系统中。2.10.4.2电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.10.4.3扩展端注人器件详细规范规定的电流Ix;其余输人端施加器件详细规范规定的条件。2.10.4.4输出端注入器件详细规范规定的负载电流IoL。2.10.4.5在扩展端测得输出管B-E结电压VBEQ。2.11输入电流11
2.11.1定义
输人端在施加规定的最大输人电压V,时流人器件的电流。2.11.2测试原理图
输人电流的测试原理图如图11所示。8
YYKAONTKAa
2.11.3测试条件
GB3439—82
输人网络
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a,环境温度TAI
电源电压Vcc
最大输人电压Vi
输入端施加的电平。
2.11.4测试程序
在器件详细规范规定的环境温度TA下,将被测器件接人测试系统中。2.11.4.1
电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.11.4.2
2.11.4.3被测输人端最大输人电压V调到器件详细规范规定的电压值,其余输人端施加器件详细规范规定的电平。
2.11.4.4输出端开路。
在被测输端测得输入电流。
2.11.4.6按本标准第2.11.4.3项至2.11.4.5项规定,分别测试每个输人端。2.12输人高电平电流|1H
2.12.1定义
输入端在施加规定的高电平电压VH时流人器件的电流。2.12.2测试原理图
输人高电平电流IH的测试原理图如图12所示。IIH
2.12:3测试条件
输人网络
被训器件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境温度TA
YYKAONTKAa
电源电压Vcc3
输人高电平电压VTH
输入端施加的电平。
2.12.4测试程序
GB3439—82
2.12.4.1在器件详细规范规定的环境温度T4下,将被测器件接入测试系统中。:电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.12.4.2
被测输人端输人高电平电压V调到器件详细规范规定的电压值,其余输入端施加器件详2.12.4.3
细规范规定的电平。
2.12.4.4输出端开路。
2.12.4.5在被测输人端测得高电平电流/IH。2.12.4.6按本标准第2.12.4.3项至2.12.4.5项规定,分别测试每个输入端。2.13输入低电平电流Im
2.13.1定义
输人端在施加规定的低电平电压VI时流出器件的电流。2.13.2测试原理图
输人低电平电流1n的测试原理图如图13所示。Tit
2.13.3测试条件
输人网络
图·13
被测器件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.
环境温度TA:
b.电源电压Vcc!
e.输人低电平电压V.;
d.输人端施加的电半。
2.13.4测试程序
2.13.4.1在器件详细规范规定的环境温度TA下,将被测器件接入测试系统中。2.13.4.2电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.13.4.3被测输入端输人低电平电压VL调到器件详细规范规定的电压值;其余输入端施加器件详细规范规定的电平。
2.13.4.4输出端开路。
2.13.4.5在被测输入端测得输人低电平电流「1L。2.13.4.6按本标准第2.13.4.3项至2.13.4.5项规定,分别测试每个输人端。2.14正向阀值电压下的输人电流[T+2.14.1定义
有施密特触发器的器件,输人端在施加规定的正向阈值电压VT+时流出器件的电流。10
YYKAONYKCa
GB3439-82
2.14.2测试原理图
正向阐值电压下的输人电流IT+的测试原理图如图14所示。Ir+
人网络
被測器件
2.14.3测试条件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TA
b.电源电压Vcc:
正向阈值电压VT+;
d。输人端施加的电平。
2.14.4测试程序
在器件详细规范规定的环境温度T下,将被测器件接人测试系统中。2.14.4.1
电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.14.4.2
被测输入端正向阀值电压VT+调到器件详细规范规定的电压值;其余输人端施加器件2.14.4.3
详细规范规定的电平。
输出端开路。
5在被测输人端测得正向阈值电压下的输入电流IT·。2.14.4.5
2.14.4.6按本标准第2.14.4.3项至2.14.4.5项规定,分别测试每个输人端。2.15负向阈值电压下的输人电流IT2.15.1定义
有施密特触发器的器件,输入端在施加规定的负向阅值电压VT-时流出器件的电流。2.15.2测试原理图
负向阈值电压下的输人电流IT-的测试原理图如图15所示。T
2.15.3测试条件
输人网络
YYKAONYKCa
被测器件
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中华人民共和国国家标准
GB3439—82
JSJ/T10735-96
半导体集成电路TTL电路
测试方法的基本原理
Generalprinciples of measuringmethodsof TTL circuits for semiconductor integrated circuits1982-12-31发布
1983-10-01实施
国家标准局批准
TTTKKAca
中华人民共和国国家标准
半导体集成电路TTL申路
测试方法的基本原理
Generalprinciplesofmeasuringmethodsof TTLcircuitsfor semiconductor integrated circuitsUDC621.382.049
.75-181.4
:621.317.08
GB3439—82
本标准规定了半导体集成电路TTL电路(以下简称器件)静态参数和动态参数测试方法的基本原理。
本标准是参考国际电工委员会(IEC)147一2《半导体器件和集成电路测试方法的基本原理》制订的。
若无特殊说明,本标准涉及的逻辑均为正逻辑。1总的要求
1.1若无特殊说明,测试期间,环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定。1.2测试期间,应避免外界干扰对测试精度的影响。测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定。
1.3测试期间,施于被测器件的电源电压应在规定值的±1%以内。施于被测器件的其他电参量的精度应符合器件详细规范的规定。1.4被测器件与测试系统连接或断开时,不应超过器件的使用极限条件。1.5除了被测器件的功能是由参数测试来证实外,在静态参数测试和动态参数测试前应进行功能测试。
1.6被测器件有内部存储或滞后现象时,测试前应有预置位周期。2静态参数测试
2.1输人钳位电压ViK
2.1.1定义
输人端在抽出规定的电流1k时的电压。2.1.2测试原理图
输入钳位电压VIK的测试原理图如图1所示。图1
国家标准局1982-12-31发布
YYKAONTKAa
1983-10-01实施
2.1.3测试条件
GB3439--82
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TA:
b.电源电压Vcc;
c.输入端抽出电流Iik。
2.1.4测试程序
2.1.4.1在器件详细规范规定的环境温度T4下,将被测器件接入测试系统中。2.1.4.2
电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.1.4.3被测输人端抽出器件详细规范规定的电流IiK;其余输人端开路。2.1.4.4输出端开路。
2.1.4.5在被测输入端测得输人钳位电压V1K。按本标准第2.1.4.3项至2.1.4.5项规定,分别测试每个输人端。2.1.4.6
2.2输出高电平电压VoH
2.2.1定义
输入端在施加规定的电半下,使输出端为逻辑高电平H时的电压。2.2.2测试原理图
输出高电平电压VoH的测试原理图如图2所示。Vee
人网络
被器件
2.2.3测试条件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TA;
电源电压Vcc,
输入端施加的电平;
输出端负载电流lo。
2.2.4测试程序
2.2.4.1在器件详细规范规定的环境温度T4下,将被测器件接入测试系统中。电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.2.4.2
2.2.4.3输人端施加器件详细规范规定的电平。2.2.4.4被测输出端抽出器件详细规范规定的负载电流IoH,其余输出端开路。2.2.4.5在被测输出端测得输出高电电压Vo。2.2.4.6按本标准第2.2.4.3项至2.2.4.5项规定,分别测试每个输出端。2.3输出高电平电压(双扩展端)Voxx2.3.1定义
有双扩展端的门电路,扩展端和输人端在施加规定的条件下,使输出端为逻辑高电半H时的电压。2
YYKAONYKCa
2.3.2测试原理图
GB3439-82
输出高电平电压(双扩展端)VoHXx的测试原理图如图3所示。Ve
2.3.3测试条件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境温度TA!
b.电源电压Vcc,
c.输人端施加的电平,
扩展端电流Ix,
输出端负载电流IoH。
2.3.4测试程序
2.3.4.1在器件详细规范规定的环境温度TA下,将被测器件接人测试系统中。2.8.4.2电源电压Vcc调到器件详细规范的规定值。2.3.4.3调节扩展端电阻R,使扩展端电流1x为器件详细规范的规定值,其余输入端施加器件详细规范规定的电平。
2.3.4.4输出端抽出器件详细规范规定的负载电流1oH。2.8.4.5在输出端测得输出高电平电压(双扩展端)VoHxx。2.4输出高电平电压(单扩展端)VoHx2.4.1定义
有单扩展端的门电路,扩展端和输人端在施加规定的条件下,使输出端为逻辑高电平H时的电压。2.4.2测试原理图
输出高电平电压(单扩展端)VoHX的测试原理图如图4所示。Ve
YYKAONYKCa
2.4.3测试条件
GB3439-82
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TA,
电源电压Vcc
输人端施加的电平,
扩展端电压Vx3
输出端负载电流IoH。
2.4.4测试程序
2.4.4.1在器件详细规范规定的环境温度T下,将被测器件接入测试系统中。2.4.4.2电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.4.4.3扩展端电压Vx调到器件详细规范规定的电压值;其余输人端施加器件详细规范规定的电平。
2.4.4.4输出端抽出器件详细规范规定的负载电流oH。2.4.4.5在输出端测得输出高电平电压(单扩展端)VoHx。2.5输出低电平电压VoL
2.5.1定义
输人端在施加规定的电平下,使输出端为逻辑低电平L时的电压。2.5.2测试原理图
输出低电平电压VoL的测试原理图如图5所示。Vo
编人网络
2.5.3测试条件
被测器件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境温度TA,
b.电源电压Vcc
c.输人端施加的电平,
d.输出端负载电流loL。
2.5.4测试程序
2.5.4.1在器件详细规范规定的环境温度T,下,将被测器件接人测试系统中。2.5.4.2电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.5.4.3输人端施加器件详细规范规定的电平。2.5.4.4被测输出端注人器件详细规范规定的负载电流IoL,其余输出端开路。2.5.4.5在被测输出端测得输出低电平电压VoL。2.5.4.6按本标准第2.5.4.3项至2.5.4.5项规定,分别测试每个输出端。2.6输出低电平电压(双扩展端)VoLXxx4
YYKAONYKCa
GB3439--82
2.6.1定义
有双扩展端的门电路,扩展端和输人端在施加规定的条件下,使输出端为逻辑低电平L时的电压。2.6.2测试原理图
输出低电平电压(双扩展端)VoLxx的测试原理图如图.6所示。Voc
被测器件
2.6.3测试条件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.
环境温度TA
电源电压Vcc:
输人端施加的电平;
扩展端X电阻Rx
扩展端电流|xx,
输出端负载电流IoL。
测试程序
在器件详细规范规定的环境温度T下,将被测器件接入测试系统中。2.6.4.1
2.6.4.2电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.6.4.3扩展端注人器件详细规范规定的电流Ixx,其余输人端施加器件详细规范规定的电平。2.6.4.4输出端注人器件详细规范规定的负载电流IoL。2.6.4.5在输出端测得输出低电平电压(双扩展端)VoLxx。2.7输出低电平电压(单扩展端)VoLx2.7.1定义
有单扩展端的门电路,扩展端和输人端在施加规定的条件下,使输出端为逻辑低电平L时的电压。2.7.2测试原理图bzxz.net
输出低电平电压(单扩展端)VoLx的测试原理图如图7所示。5
YYKAONYKCa
2.7.3测试条件
人网性
GB3439-82
测试期间,“下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TA:
电源电压Vcc1
输人端施加的电半;
扩展端电流Ix;
输出端负载电流IoL。
2.7.4测试程序
在器件详细规范规定的环境温度T下,将被测器件接人测试系统中。电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.7.4.3扩展端抽出器件详细规范规定的电流1x,其余输入端施加器件详细规范规定的电平。2.7.4.4输出端注入器件详细规范规定的负载电流1oL。2.7.4.5在输出端测得输出低电平电压(单扩展端)VoLx。2.8扩展器导通电压(双扩展端)Vxx(0.v)2.8.1定义
有双扩展端的扩展器,输人端和扩展端在施加规定的条件下,使扩展器导通时扩展端间的电压。2.8.2测试原理图
扩展器导通电压(双扩展端)Vxx(0N))的测试原理图如图8所示。Vec
翁人网络
YYKAONTKa
被测器性
2.8.3测试条件
GB3439—82
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境温度TA;
b.电源电压Vcc
输入端施加的电平;
扩展端X电压Vx!
扩展端又电流。
2.8.4测试程序
2.8.4.1在器件详细规范规定的环境温度T4下,将被测器件接人测试系统中。2.8.4.2电源电压Vcc调到器件详细规范的规定值。2.8.4.3扩展端X电压Vx调到器件详细规范规定的电压值;扩展端X注入器件详细规范规定的电流1;其余输人端施加器件详细规范规定的条件。2.8.4.4在扩展端X和之间测得扩展器导通电压(双扩展端)Vxx(ON)。2.9扩展器导通电压(单扩展端)Vx(ON)2.9.1定义
有单扩展端的扩展器,输人端和扩展端在施加规定的条件下,使扩展器导通时扩展端的电压。2.9.2测试原理图
扩展器导通电压(单扩展端)Vx(ON)的测试原理图如图9所示。Vo
输人网络
2.9.3测试条件
被测器件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TA
电源电压Vccs
输人端施加的电平,
d。扩展端电流Ix。
2.9.4测试程序
2.9.4.1在器件详细规范规定的环境温度TA下,将被测器件接人测试系统中。2.9.4.2电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.9.4.3扩展端注人器件详细规范规定的电流Ix,其余输入端施加器件详细规范规定的电平。2.9.4.4在扩展端测得扩展器导通电压(单扩展端)Vx(0N)。2.10输出管B一E结电压VBEQ
YYKAONYKCa
2.10.1定义
GB3439-82
有双扩展端的门电路,输入端和扩展端在施加规定的条件下,使输出端为逻辑低电平L时,扩展端输出管B一E结的电压。
2.10.2测试原理图
输出管B一E结电压VBE9的测试原理图如图10所示。Vcc
人网络
2.10.3测试条件
被砌器件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TA:
电源电压Vcc
输入端施加的电平,
扩展端电流Ixx,
输出端负载电流IoL。
测试程序
在器件详细规范规定的环境温度T下,将被测器件接人测试系统中。2.10.4.2电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.10.4.3扩展端注人器件详细规范规定的电流Ix;其余输人端施加器件详细规范规定的条件。2.10.4.4输出端注入器件详细规范规定的负载电流IoL。2.10.4.5在扩展端测得输出管B-E结电压VBEQ。2.11输入电流11
2.11.1定义
输人端在施加规定的最大输人电压V,时流人器件的电流。2.11.2测试原理图
输人电流的测试原理图如图11所示。8
YYKAONTKAa
2.11.3测试条件
GB3439—82
输人网络
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a,环境温度TAI
电源电压Vcc
最大输人电压Vi
输入端施加的电平。
2.11.4测试程序
在器件详细规范规定的环境温度TA下,将被测器件接人测试系统中。2.11.4.1
电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.11.4.2
2.11.4.3被测输人端最大输人电压V调到器件详细规范规定的电压值,其余输人端施加器件详细规范规定的电平。
2.11.4.4输出端开路。
在被测输端测得输入电流。
2.11.4.6按本标准第2.11.4.3项至2.11.4.5项规定,分别测试每个输人端。2.12输人高电平电流|1H
2.12.1定义
输入端在施加规定的高电平电压VH时流人器件的电流。2.12.2测试原理图
输人高电平电流IH的测试原理图如图12所示。IIH
2.12:3测试条件
输人网络
被训器件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境温度TA
YYKAONTKAa
电源电压Vcc3
输人高电平电压VTH
输入端施加的电平。
2.12.4测试程序
GB3439—82
2.12.4.1在器件详细规范规定的环境温度T4下,将被测器件接入测试系统中。:电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.12.4.2
被测输人端输人高电平电压V调到器件详细规范规定的电压值,其余输入端施加器件详2.12.4.3
细规范规定的电平。
2.12.4.4输出端开路。
2.12.4.5在被测输人端测得高电平电流/IH。2.12.4.6按本标准第2.12.4.3项至2.12.4.5项规定,分别测试每个输入端。2.13输入低电平电流Im
2.13.1定义
输人端在施加规定的低电平电压VI时流出器件的电流。2.13.2测试原理图
输人低电平电流1n的测试原理图如图13所示。Tit
2.13.3测试条件
输人网络
图·13
被测器件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.
环境温度TA:
b.电源电压Vcc!
e.输人低电平电压V.;
d.输人端施加的电半。
2.13.4测试程序
2.13.4.1在器件详细规范规定的环境温度TA下,将被测器件接入测试系统中。2.13.4.2电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.13.4.3被测输入端输人低电平电压VL调到器件详细规范规定的电压值;其余输入端施加器件详细规范规定的电平。
2.13.4.4输出端开路。
2.13.4.5在被测输入端测得输人低电平电流「1L。2.13.4.6按本标准第2.13.4.3项至2.13.4.5项规定,分别测试每个输人端。2.14正向阀值电压下的输人电流[T+2.14.1定义
有施密特触发器的器件,输人端在施加规定的正向阈值电压VT+时流出器件的电流。10
YYKAONYKCa
GB3439-82
2.14.2测试原理图
正向阐值电压下的输人电流IT+的测试原理图如图14所示。Ir+
人网络
被測器件
2.14.3测试条件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TA
b.电源电压Vcc:
正向阈值电压VT+;
d。输人端施加的电平。
2.14.4测试程序
在器件详细规范规定的环境温度T下,将被测器件接人测试系统中。2.14.4.1
电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.14.4.2
被测输入端正向阀值电压VT+调到器件详细规范规定的电压值;其余输人端施加器件2.14.4.3
详细规范规定的电平。
输出端开路。
5在被测输人端测得正向阈值电压下的输入电流IT·。2.14.4.5
2.14.4.6按本标准第2.14.4.3项至2.14.4.5项规定,分别测试每个输人端。2.15负向阈值电压下的输人电流IT2.15.1定义
有施密特触发器的器件,输入端在施加规定的负向阅值电压VT-时流出器件的电流。2.15.2测试原理图
负向阈值电压下的输人电流IT-的测试原理图如图15所示。T
2.15.3测试条件
输人网络
YYKAONYKCa
被测器件
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