【SN商检标准】 纯铁杂质含量测定X射线荧光光谱法

SN/T 4020-2013.Determination of impurity elements content in pure iron-X-ray fluorescence spectrometry.
1范围
SN/T 4020规定了纯铁中杂质元素的波长色散X射线荧光光谱测定方法。
SN/T 4020适用于纯铁中杂质元素硅、锰、磷、硫、铬、铜、镍和铝含量的测定,各元素测定范围见表1。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 1031产 品几何技术规范(GPS)表面结构轮廓法表面粗糙度参数及其数值
GB/T 16597冶金产 品分析方法X射线荧光光谱法通则
3方法提要
将试样的待测面加工成光洁平面,在选定的仪器测量条件下,测量样品中待测元素特征谱线的X射线荧光强度,根据X射线荧光强度与待测元素含量之间的定量关系,选择合适的回归方法及数学校正模式,计算出待测元素的含量。
4试剂和材料
4.1检测 器气体(P-10):90%氩气+10%甲烷,用于流气式正比计数器。
4.2标准物质 :光谱分析用纯铁标准样块。各元素应至少有6块标准物质,其含量应有一定间隔,并覆盖待测元素的测定范围。