【国家标准(GB)】 额定电压35kV(Um=40.5kV)及以下电力电缆导体用压接式和机械式连接金具 试验方法和要求

ICS.29. 060.20
GB-T2406.1-2008
中华人民共和国国家标准
GB/T9327—2008
代替GB/T9327.1-1988,GB/T9327.2—1988等额定电压35kVUm=40.5kV）
及以下电力电缆导体用压接式和机械式连接金具试验方法和要求Compression and mechanical connectorsforpower cables for ratedvoltages up to 35 kV(U. = 40. 5 kV)-Test methods and requirements(IEC61238-1:2003,MOD）
2008-12-31发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
数码防伪
2009-11-01实施
GB/T9327—2008
1范围
规范性引用文件
术语和定义
电气试验
机械试验
试验报告
附录A（规范性附录）
附录B(规范性附录)
附录C（资料性附录）
附录D(资料性附录)
附录E(规范性附录）
附录F（资料性附录）
附录G（资料性附录）
附录H(资料性附录)
参考文献
均流器及制作
测量方法
提高测量精确度的建议
确定短路电流值
计算方法·
计算方法的解释
温度变化曲线图的解释
关于电气连接金具评估试验结果统计方法的解释建筑321---标准查询下载网

GB/T9327—2008
本标准修改采用IEC61238-1:2003《额定电压30kV(U.=36kV)电力电缆用压接和机械连接金具第1部分：试验方法和要求》（第2版，英文版）。本标准根据IEC61238-1：2003重新起草，其章条编号和IEC61238-1：2003完全一致。在采用IEC61238-1：2003时，本标准作了一些修改。有关技术性差异已编入正文并在它们所涉及的条款的空白处用垂直单线标识。主要技术性差异和解释如下：—考虑到我国电网国情，本标准将电压适用范围延伸到了35kV(U.=40.5kV）。为便于使用，本标准作了下列编辑性修改：一用小数点“”代替作为小数点的逗号“”；一删除IEC61238-1：2003的引言。本标准代替GB/T9327.11988《电缆导体压缩和机械连接接头试验方法总则》、GB/T9327.2—1988《电缆导体压缩和机械连接接头试验方法直流电阻试验方法》、GB/T9327.3一1988《电缆导体压缩和机械连接接头试验方法短路试验方法》、GB/T9327.4一1988《电缆导体压缩和机械连接接头试验方法热循环试验方法》和GB/T9327.5一1988《电缆导体压缩和机械连接接头试验方法抗拉强度试验方法》。
本标准与GB/T9327一1988相比，主要变化如下：—接头种类由A、B、C三类减为A、B两类(GB/T9327.4—1988的附录B,本版第1章）；—-热循环次数由250次、500次、1000次统一规定为1000次（GB/T9327.4—1988的表3，本版6.3.3);
短路试验由3次增加到6次（GB/T9327.4—1988的表3，本版6.3.4、表2)；—电气试验中取消了初始电阻比率要求；初始离散度和平均离散度要求由0.15（压接式）、0.3（机械）统一规定为0.3(GB/T9327.1一1988的表A1和表A3，本版表2）；一机械性能由抗拉强度试验改为拉力试验（GB/T9327.1--1988的表A4，本版表3)；一增加了关于提高测量精确度的建议(本版的附录C)；一增加了短路电流的测量(本版的附录D)；一增加了计算方法（本版的附录E)；一增加了计算方法的解释(本版的附录F)；—增加了温度变化曲线图的解释(本版的附录G)；一增加了关于电气连接金具评估试验结果统计方法的解释(本版的附录H)；一增加了IEC61238-1的参考文献（本版的参考文献）；一取消了1988版分5个部分的编排方式。本标准的附录A、附录B和附录E为规范性附录；附录C、附录D、附录F、附录G和附录H为资料性附录。
本标准由中国电器工业协会提出。本标准由全国电线电缆标准化技术委员会(SAC/TC213)归口。本标准起草单位：上海电缆研究所、永固集团股份有限公司。本标准主要起草人：顾荣荣、葛光明、郑革、郑晓权、陈钧法、张智勇、马瞻。本标准所代替标准的历次版本发布情况为：GB/T9327.1—1988,GB/T9327.2-—1988,GB/T9327.3—1988,GB/T9327.4—1988,GB/T9327.5--1988。
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1范围
额定电压35kV（Um=40.5kV）
及以下电力电缆导体用压接式和机械式连接金具试验方法和要求GB/T9327-2008
本标准适用于额定电压35kV(U.=40.5kV)及以下电力电缆导体用压接式和机械式连接金具，例如适用于直埋电缆或安装在建筑物内的电缆。这些电缆为：a）符合GB/T3956一2008标准的导体，铜芯导体截面积为10mm2以上，铝芯导体截面积为16mm以上。
b）导体的最高连续运行温度不超过90℃。本标准不适用于架空导体上的连接金具，该连接金具有特殊机械要求，需专门设计。本标准也不适用于具有滑动连接的可分离连接金具或多芯连接金具（即滑环连接金具）。虽然无法准确地确定所有应用的使用条件，但还是可以将连接金具分成两大类：一A类：A类连接金具适用于能承受相对较长时间和较大强度的短路电流作用的配电或工业网络。因此，A类连接金具可在大多数环境下使用一一B类：B类连接金具适用于装有保护装置（例如快熔保险装置）且能将过载负荷或短路电流迅速排除的网络。
根据连接金具应用的不同，连接金具进行下列试验：一A类：热循环和短路试验。
—B类：仅做热循环试验。
本标准的目的是确定适用于电力电缆铜或铝导体用压接式或机械式连接金具型式试验的方法和要求。
以前，对该类产品的认可是依据使用性能达到国家标准或规范的基础上进行的。本标准的出版并不否定已有的认可。然而，根据早期标准或规范认可产品不能声明符合本标准，除非这些产品经过特别的试验。
产品获得认可后，无须重新进行试验，除非连接金具的材料、设计或生产流程发生了变化，且这些变化可能会影响到连接金具的特性。2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB/T2900.10—2001电工术语电缆(idtIEC60050(461)：1984）GB/T3956—2008电缆的导体（IEC60228：2004，IDT）GB/T21223一2007老化试验数据统计分析导则建立在正态分布的试验结果的平均值基础上的方法（IEC60493-1：1974，IDT）3术语和定义
GB/T2900.10一2001确立的以及下列术语和定义适用于本标准。1
GB/T9327-—2008
导体连接金具
connector(ofcable）
将导体与某个设备的端子或将两根或两根以上的导体连接起来的一个金属装置。3.2
throughconnector
直通连接金具
用来连接两根导体以延续其长度用的连接金具。3.3
分支连接金具branchconnector
连接分支导体与主于线导体用的连接金具。3.4
接线端子（terminal）lug
连接电缆导体与其他电气设备用的连接金具。3.5
palm(ofterminal lug)
接线端子连接板
接线端子中用来连接电气设备部分。3.6
接线端子、连接金具的圆管barrel(ofterminallug，ofconnector，etc.）被连接导体插入接线端子、连接金具的一部分。3.7
基准导体
referenceconductor
在试验回路中用来确定基准温度和基准电阻的一段无接头的裸导体或剥去绝缘层的导体。3.8
均流器equalizer
在试验回路中能使绞合导体每根导体间电流分布均匀又能用作电势测量点的接头或扎线。3.9
压接式连接
compressionjointing
通过使用专用工具将连接金具与导体可靠连接的一种方法。该方法能够使连接金具与导体产生永久变形。
机械式连接
mechanicaljointing
借助于螺钉或螺栓或其他方式使连接金具与导体可靠连接的一种方法。3.11
中值连接金具
medianconnector
在试验回路第一次热循环中，所记录的6个连接金具的温度中第三个较高温度的连接金具即为中值连接金具。
绝缘穿刺连接器insulationpiercingconnector（IPC）通过金属齿穿透电缆线芯绝缘与导体电气接触的连接器。4符号
A——导体的标称截面积；
D—连接金具电阻比率变化量；
1一-在电阻测量过程中，通过连接金具的直流电流；2
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I.ms—等值短路电流有效值；
In——维持基准导体平衡温度的交流电流；I，一在电阻测量过程中通过基准导体的直流电流；GB/T9327—2008
一一连接金具的电阻比率：连接金具的电阻与等效长度基准导体的电阻的比率；l。，lb，l;—一分别表示连接金具两端与测量点之间的导体长度；l.-—测量点之间的基准导体长度；t—加热时间;
连接金具和基准导体冷却到不大于35℃所需的时间；U-当电流I通过时，测量点之间的电位差；U,—当电流I.流通时，基准导体上两个测量点之间的电位差；在20℃时，电阻的温度系数；
一连接金具电阻比率在试验周期内的平均离散度；连接金具电阻比率的初始离散度；电阻比率比值：连接金具电阻比率对其初始电阻比率的变化量；连接金具的温度；
6x—整个试验期间被记录下来的连接金具最高温度；6R———第一个热循环中所确定的基准导体的温度；Or—在测得6mx的同时测得的基准导体温度。注：下标可用于标识连接金具的序号值，见附录F。5概述
5.1导体
在试验报告中应包括下列信息：导体的材料；
一标称截面积、尺寸和形状。建议给出实际截面积；-导体的类型，即实心或绞合。如果是绞合导体，则应将所知的或者可以通过检测确认的所有导体的具体结构信息反映在报告里面，如：·紧压型；
·非紧压型；
·柔性等级（第5种和第6种，按GB/T3956--2008）；绞合的数量和排列；
·如适用的话，镀层类型；
·如适用的话，浸渍类型、阻水等；·近似的硬度指标，如退火、半硬、硬；。对于绝缘穿刺连接器，绝缘的材料和厚度。2连接金具和工具
在试验报告中应包括下列信息：所使用的组装工艺；
一工具、模具及必要的配件；
一螺栓、螺母、垫圈、扭矩等；一如适用的话，接触表面的处理；—连接金具的类型、识别编码以及其他任何标识；一对于绝缘穿刺连接器，绝缘的类型和运行温度。3
GB/T9327—2008
5.3认可范围
总的来说，对同一个类型连接金具/导体组合所做的试验，只能适用于该类型的连接金具。然而，为了限制试验次数，允许下列情况：同时适用于圆形绞合导体和整圆扇形绞合导体的连接金具，如果通过了圆形紧压导体上的试验，则同时认可这两种类型的导体；一覆盖一定导体截面积范围的连接金具其，如果通过了最小和最大导体截面积上的试验，则认可该截面积范围（见注2)；
一如果直通连接金具可连接两个不同截面积、形状或材料的导体，且制造工艺技术及连接金具圆管部分已分别在每个截面积上试验通过，则无需附加试验。如果未经试验，对双金属的直通连接金具需进行附加试验。附加试验中，两种导体中温度较高的导体作为基准导体；如果生产商能够明确地证明，其一个系列连接金具都是根据通用的和相关的设计标准进行设计，那么只要通过该系列中最大、最小以及两个中等大小的连接金具试验，则认可该系列。示例1：如果一个系列的连接金具只有5种规格，那么仅需对最大和最小规格以及代表性中等规格的连接金具进行试验。
示例2：如果一个系列的连接金具只有不多于4种规格，那么仅需对最大和最小规格的连接金具进行试验。对于宽范围连接金具，应对适用于最大和最小截面积导体的连接金具试验。—PVC绝缘的绝缘穿刺连接器通过了在较低温度下进行的热循环和短路试验，则仅认可绝缘是PVC的该种连接金具。
通过干式导体上的连接金具试验，则认可该连接金具可用于同种类型浸渍纸绝缘电缆导体，一一如果连接金具的设计为一端或两端适用一定截面积范围，且不同截面积采用通用的压紧或压接连接，则依据第7章的规定，应在最大和最小截面积的导体上进行机械试验。注1：相关的设计标准包括：
e接头压接处理；
①接触螺丝或压接件的数量：
G接触螺丝或压接件每单位面积的挤压力；0连接金具材料用量与导体的材料用资的比值。注2：不同阻水类型能够影响连接金具的性能。6电气试验
6.1安装
在试验回路中，具有同一截面积的所有导体应该使用相同的连续的线芯。对每个系列的试验来说，根据生产商的安装说明书在裸导体或在已剥去绝缘的导体上安装6个连接金具，与基准导体一起构成试验回路。对于绞合导体，在不同绞合单线上测量点之间电位会使电阻测量产生误差。因此应使用均流器（见附录A)来解决这个问题，确保基准导体和连接金具均流器测量点之间的电流分布均匀。如果试验绝缘穿刺连接器，则绝缘穿刺连接器内的导体应绝缘，且连接器外至少保留导体绝缘100mm。试验回路还应包含有绝缘的基准导体。如果绝缘穿刺连接器是根据B类进行试验的，那么无需使用裸基准导体。
安装试验回路的区域内应空气静止，其周围的环境温度应为15℃30℃。在绝缘穿刺连接器的组装过程中，环境温度应为(23士3)℃。如果是实心导体，电位测量点应尽可能地靠近连接金具，以便能够使1。和接近零。试验回路可为任意形状放置，其布置不应受地板、墙面以及屋顶的影响。试验回路应易于拆开，以便于进行短路试验（仅对A类连接金具）。从温度测量的角度考虑，连接4
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拆开工艺不应影响测量。
试验过程中，连接金具的螺栓或螺丝不允许重新拧紧。6.1.1直通连接金具和接线端子
试验回路如图1，图中注明了所用的尺寸。GB/T9327—2008
如果要试验接线端子，可按照生产商的要求，用螺栓将接线端子连接板与连接排连接在一起。连接排的尺寸、厚度以及材质应与接线端子的连接板相同。为获得6.3规定的温度，可能需要调整连接排的热特性，如果不用连接排，也可以将接线端子连接板相互连接，然后对接线端子进行试验。有争议时，应使用连接排的方法。对于要求评估包括螺栓连接的接线端子连接板性能的试验，连接排端部所用材料、尺寸及表面镀层应与接线端子的连接板一致。
6.1.2分支连接金具
当分支连接金具的分支导体截面积与主导体的截面积相等或接近时，主导体和分支导体之间可视为直通连接金具，采用直通连接金具的试验方法。对于其他情况，试验回路如图2所示。如果出于连接金具类型的原因而要将主导体切断，那么作为直通连接金具的那部分连接金具也应进行试验。6.2测量
6.2.1电阻测量
在整个试验过程中，需在不同阶段对电阻进行测量，见6.3规定。电阻的测量需在稳定的温度条件下进行，包括试验回路温度和试验场地的温度。环境温度应为15℃～30℃。
测量电阻推荐的方法为：在不升高温度的情况下，连接金具和基准导体上通以直流电流（热循环电流的10%），然后测量规定电位点之间的电位差。电位差和直流电流的比值即为相应点之间的电阻。注：为了提高电阻测量的精度，建议在整个试验过程中使用同样的直流电流。根据图2安装的分支导体中，应在测量电位差的金具部分通以全部测量电流。因此在安装过程中，应该提供开关或断开点。
热电势会影响低电阻的测量准确性（约为10μQ）。如果对测量到的电阻有疑问，可进行两次电阻测量，第一次数据读取后，让测量电流反向，然后进行第二次读取。两次读取的数据的平均值就是实际电阻。
电位点的位置见图3和附录B。此外，需对图3和附录B中所示的各种长度进行测量，确保获得真实的连接金具电阻。进行电阻测量时，应记录连接金具和基准导体的温度。为了能够直接比较，将电阻值修正至20℃时的电阻。同时也在附录B中提供了关于所推荐方法的相关信息。在热循环试验过程中，应该在这些位置进行温度测量。电阻间接读取时要求：
电压测量的精度应不低于士0.5%或士10μV,取精度较高值；电流测量的精度应不低于士0.5%或士0.1A，取精度较高值。电阻直接读取时要求：
当计量仪器根据认证的标准电阻进行校准后，电阻测量的精度应不低于土1%或土0.5μQ，取精度较高值。wwW.bzxz.Net
6.2.2温度测量
在整个试验中，需在不同阶段对温度进行测量，见6.3规定。在图3中所指定的位置对连接金具和基准导体的温度进行测量。推荐采用热电偶的温度测量方法。温度读数精确为士2K。
6.3热循环试验
应用交流电进行热循环试验。
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6.3.1第一次热循环
第一次热循环的目的是确定基准导体的温度。该温度会在后续循环中使用；而且还可以确认中值连接金具。
a）非绝缘穿刺连接器的直通连接金具和接线端子电流通过试验回路，将基准导体升温到120℃且处于稳定状态。稳定状态是指基准导体和连接金具在15min内，其温度变化不超过士2K。如果中值连接金具的温度（见3.11)大于或等于100℃，那么在其后续热循环中，基准导体的温度将取为120℃。如果中值连接金具温度小于100℃，那么应增加回路电流，直到中值连接金具温度达到100℃的平衡状态，其前提是基准导体的温度不超过140℃。当基准导体的温度达到了140℃时，如果中值连接金具的温度仍然没有到达100℃，那么在该温度状态下进行试验。测量得到的基准导体温度可以用在后续的热循环中（120℃≤≤140℃）。处于平衡温度的电流I应记录在试验报告中。注1：如果接线端子试验使用连接排，那么应测盘连接排（与接线端子连接板相连）中点的温度。该温度应该等于基准导体的温度g，误差为士5K。b）非绝缘穿刺连接器的分支连接金具如果需用到图2所示的电路，让电流通过试验回路，将主基准导体和三根分支基准导体的温度提高到120℃的平衡状态。为了能够达到这个温度，应该通过电流注人或阻抗控制方法对三根分支导体中的电流进行调整。如果中值连接金具的温度（见3.11)不低于100℃，那么后续热循环中，基准导体的温度为120℃。如果中值连接金具温度小于100℃，那么应增加回路中的电流，直到中值连接金具的温度达到100℃的平衡状态，其前提是基准导体的温度不得超过140℃。有必要在该阶段以及在整个试验过程中的所有区间内，调整单个分支导体内的电流，以确保每个分支的基准导体温度与主基准导体温度一样。测量得到的主基准导体和分支基准导体温度6可用于后续的热循环中（120℃≤%≤140℃）。温度平衡时主导体和分支导体内的电流I应记录在试验报告中。)
绝缘穿刺连接器
绝缘穿刺连接器的试验过程中，需使用图1或图2中所示的相同试验回路；不过也有例外，那就是在试验回路中添加有绝缘的基准导体。在循环过程中，中值连接金具的温度应比导体在正常运行下的最高温度要高10K。不过，应该对循环的电流进行限制，以便处于平衡温度的绝缘基准导体，其温度不会比导体在正常运行下的最高温度还要高10K～15K。如果使用的是分支连接金具，那么有必要在整个试验过程中的所有区间内，调整单个分支导体内的电流，以确保每个分支的基准导体温度与主基准温度一致。当处于平衡温度时，主线和分支导体内的电流IN应记录在试验报告中。注2：如果连接金具在使用过程中，其达到的温度比导体在正常运行下的最高温度要高出很多，那么经生产商和用户的协商之后，有必要对试验回路的高温状态进行附加测试。宜通过热绝缘体的应用，使试验回路的温度额外增加。
6.3.2第二次热循环
第二次热循环的目的是确定热循环的持续时间和温度曲线图。此时间和温度曲线将会在所有的后续热循环中用到。电流通过回路，直到主基准导体的温度达到6.3.1中所确定的0为止，误差为+K，中值连接金具的温度在10min内，其温度变化不超过2K。增大电流可以用来缩短加热时间。增大电流的持续时间见表1。此后，电流应该降低或被调节到维持基准导体平衡温度的交流电流IN。必要时，可以利用多次循环以确定第二次热循环。基准导体的温度是一个控制参数，在热循环过程中应保持温度曲线稳定。通过控制周围环境温度的方式，使它不会影响基准导体温度曲线的形状。6
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导体标称截面积A/mm2
时间/min
表1增大电流最短的加热时间
16≤A≤50
10≤A≤35
503515095GB/T9327-2008
基准导体温度在时间（t)内的加热变化曲线见图4，且需记录在试验报告中，供后续循环使用。t）之后是冷却时间段t2，该时间段后，所有连接金具和基准导体冷却到35℃以下。有必要的话，可在后续热循环中调整t2，以确保能够获得所需的温度状况。如果采用加速冷却，则限于使用环境温度的空气且作用于整个试验回路。一个热循环周期的完整时间为t十t2(见图4)。6.3.3后续热循环
总热循环次数为1000次（见6.3.2规定）。经热循环的冷却时间段之后，按照6.2规定应记录每个连接金具和每根基准导体的电阻和温度。在循环过程中先测量每个连接金具的最高温度，然后再测量电阻。
在下列循环中进行测量：
0(第一次热循环之前，见6.3.1)200，短路之前
200，短路之后
每隔75次循环
（共进行14次测量）
允许士10次循环误差。
6.3.4短路试验（仅A类连接金具）200次热循环后，要进行6次短路试验。B类
0（第一次热循环之前，见6.3.1)250
每隔75次循环
（共进行12次测量）
短路电流值的确定：要求试验的短路电流能够将裸基准导体从不小于35℃的温度增加到250℃～270℃。
不过，对绝缘穿刺连接器来说，应限制短路电流值，使绝缘基准导体的温度不超过绝缘允许的最高温度。
注1：短路电流可以根据IEC60949：1988第3章规定进行计算；也可以根据本标准的附录D确定。如果实际导体的截面积已经确认，后一种方法可以用来选择电流，还能够获得所需的温升范围。短路试验中的最高温度，时间和近似电流值或实际电流值和时间都应记录在试验报告中。短路试验中，最大的电流为25kA的持续时间应为（1±.5)s。如果需要的短路电流超过这个电流值，电流为25kA～45kA时持续时间可延长至≤5s。每次短路试验后，试验回路应冷却至≤35℃。注2：对于大截面导体，导体温度预热到90℃。对截面积超过630mm2的铜导体或1000mm2的铝导体，上述参数(45kA和5s)不足以让导体温度达到250℃。如6，1所述，这些试验中试验回路可拆开成几个部分。由于短路试验仅考核大电流的热效应，为降低电磁力的作用推荐使用同轴导体。试验的布置应记录。注3：应注意，在安装、运输和装卸过程中的弯曲或震动状况都可能产生影响试样接触电阻的机械力，应尽量避免。为了试验的重现性，如固定接线端子至试验设备上力矩，这样的机械操作宜由相关方协商确定。注4：对于特殊应用场合，可采用其他短路条件。注5：对于分支连接金具，基准导体是与分支连接金具相连的部分。6.4试验结果评估
单个连接金具的电阻比率k是一种评估连接金具的通用方法，适用于本标准的所有截面积的连接金具，下列参数按附录E进行计算：7
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