【电子行业标准(SJ)】 半导体分立器件 ２ＣＷ２９７０～３０１５型硅电压调整二极管详细规范

中华人民共和国电子行业军用标准FL5961
半导体分立器件
SJ20186—92
2CW2970~3015.2CW3016~3051
型硅电压调整二极管
详细规范
semiconductor discrete deviceDetail specification for siliconvoltage regulator diodes
for types 2CW2970~3015.2CW3016~30511992-11-19 发布
1993-05-01实施
中国电子工业总公司批准
1范围
中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
2CW2970～3015型硅电压调整二极管详细规范
semicohduclor discrete deviceDetail specification For sillcon yollagc regulete diodes for types2CW29703015
.1.1主题内容．
SJ 20186—92
本规范规定了2CW2170～3015型的B型（标准极性)、RB型（反极性）硅电压调整二极管（以下简称器件）的详细要求。该器件按GJB33半导体分立器件总规范》的规定，提供产品保延的三个等级(GP,GT和GCT级)。1.2外形尺寸
外形尺寸应符合GB7581半导体分立器件外形尺寸中的C1-01A型和本规范图1的规定。
中国电子工业总公1992-11-19发布1993-05-01实施
YIKAoNiKAca-
1.3最大额定值
SJ 20186—92
C1-01A
符号对最小值标称值最大值
图1外形尺寸
最大额定慎应符合本规范中表5第4、8和10栏以及下述规定。-55C≤T≤176C
P=10W(Tc=55C),Tc>55C时，P+按0.083W/C的速率降额；-55℃≤T≤175℃
1.4主要电特性
主要电特性按本规范中表5第2.9、11和！4栏以及下述的规定热阻Rchi-12℃/W<最大值）
2有关文件
CB 6571—86
GB 7581 :87
GJB3385
GJB 128—86
3要求
3.1详细要求
外径小功率信号二极管、稳斥及基电压二极管测试方法半导体分立器件外形尺寸
半导体分立器件总规范
半导体分立器件试验方法
各项要求应按GJB33和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
半导体二极管的设计、结构利外形尺寸应按本规范图1的规定，标能摄性器件（B型）的阳极应接螺栓，反极性器件（RB型）的阴极应接螺栓。2
3.2.1引线涂层
SJ20186-92
引线表面应有金、银或的镀层。若需要选择引线涂层，则应在合间中规定（见6条）。3.3标志
所有器件的标志均应按GJB 33的规定。3.3.1反极性器件
阴极接螺栓。
4质量保证规定
4.1抽样和检查
抽样和检查应符合GJB 33和本规范的规定。4.2筛选(仅适用于 GT和GCT级）器件应按GJB33表2的规定进行筛选，并规定下列补充内容。下送测垦应按本规范中表1的规定进行。超过本规范表1中极限值的器件不应接收筛选
(见GJR 33 表 2)
3.热冲击（榻度循环）
b.粗检漏
7. 中间电参整测试
8.电老化
9, 最后测试
4.2.1切率老化条件
功率老化条件规定如下：
12表5第15栏
V,见表 5 第 2 栏日
Te=150+r.
4.3鉴定检验
试验温度：—53℃.+175么,循环10次G[128的1071试验方法.案件C，本规范表4的步骤2I和 V
本规施表1的A2分组；
.为初给值的10%或表5第12栏的：%，取牧大者：Vz为初始值的25%
鉴定捡验应符合GJB33和本规范的规定。4.4质量一致性检验
质量一致性检验应符合GJ333和本规范的规定，每个子批均应进行A组检验。4. 4. 1 A 组检验
A组检验应按GJB33和本规范表1的规定进行。4. 4. 2 B 组检验
B组检验应按GJB33和本规范表2中规定的分组试验条件进行。最后测试和变化量的要求应符合本规范表手中相应步骤的规定。4.4.3C组检验
C组检验应按GJB33和本规范表3中规定的分组试验条件进行。最后测试和变化量的要3
TKAONKAca
SJ 20186—92
求应符合本规范表4中相应步骤的规定，4.5检验方法
检验方法应符合相应的表和下述的规定。4.5.1电压调整值Vz(rg）
保持电流为1z(表5第8栏的10%，直至热平衡：然后，将Iz增加到对应电流为1，(表5第 8栏)的 50%,并在此电平上保持段时间,直至热平衡。此时电压变化应不超过表 5第 9栏的规定值。在该项试验期间器件的壳温(Tc)应为25土3C。4.5.2调整电压
应加试验电流Iz(表5第5栏)达到热平衡后再读出调整电压值,在该项试验期间器件的壳湿(Tc2应为 25±3℃
4.5.3电压度系数（ayz）
在规定的壳盗下，读出调整电压以前，器件应随所加的电流达到温度稳定。4.5.5检验条件
除在GJB33或本规范中另有规定外，全部检验应在壳温为25士3C的条件下进行。表1A组检验
检验或试验
A1分组
外及机械检验
A2分组
正向电压
反向电流
调整电压
(见 4. 5. 2)
A3分组
高温工作：
友向电缆
A4 分组
，小信号击等阻抗
拐点阴抗
GJB128
2. 2. 2. 1
2. 2. 2. 1
GB6571
直流法;V见表5第 11 栏
Iz 见表 5 第 5 栏
直流法;V。见表 5 第 11 栏
12 见表 5 第 5 栏
1a=10%1z
Izk=lmA
I=10% Ia
极限值
最小值
表5第3档
最大值
表5第12栏±A
表5第4栏
表5第G栏
表5毫7档
检验或试验
B1分组
可焊性
标志的耐久性
B2 分组
热冲击(滥度循环)
a.瑙检润
b.扭检漏
最后测试：
B3 分组
魏态工作寿命
最后测试：
B4 分
开帽内部目检
（设计验证）
键合强度(只延用于
蝠一金管芯的互连)
B5 分组
B6分组
高温寿命(非工作)
最后测试：
检验或试验
C1分组
外形尺寸
C2分组
热冲击
《玻璃力》
SI 20186—92
表 2B组检验
GJB 128
接停留时间 2 10±1s
只漫演到复益终编的平面部分
温度：-55℃、125±2℃，循环10次见表 4 步裂 1. 3 和 4
I见表 5第 15栏;Te=150+℃
见表 4 步骤 2. 3 和4
GR 4023R(i=12/W(最大值);Tc=25+3C2.2.2对于该项试验,应采用结到壳的热阻代替结到引线的热阻，并应采用Ranie代着RahH，应将管亮作为计算结到管完热阻的基准点,并应将管壳装到散热片上,1032Ta=175C+-340h
见衰 4 步骤 2、3 和 4
表 3 C组捡验
GJB128
见图1
极限值
最大值
每批一只，
0失效
20(0—5)
-TrKAONTKAa-
检验或试验
引出端强度
转矩螺栓
a.细检漏
b,粗检滞
综合蕴度/湿
度周期试验
外部日桩
后测试
C3分组
变赖振动
恒定如速度
量后测试：
C4分组
盐气蚀?
C5分组
低气压
(高空工作
C6分组
稳志工年寿命
最后测试：
C7分组此内容来自标准下载网
电压惕度系数
(见 4. 5. 3)
电压调整值
(见 4. 5. 2)
反向电流
反询电流
滇整电压
GJR128
SI 20186—92
续表3C组检验
试验条件 Dss5. 668N, ms
+30±3s
见表 4 的步骤 1,3 和 4
见表 4 步题 1.3 和 4
1066.58Pa
[z见5第15栏
见表 4 步题 2. 3 和 4
[2 见表 5 第 5 性
GR 6571
1-25±30
T:=T+100r
每个子批
表 4 B组和 C 组的最后测试
GB6571
直流法
Vr 见表 5 第 11 栏
直流法：
Vk见表 6 第 11 栏
12. 见表 5 第 5 栏
梭限值
最小值
最大值
表 5 第 14 栏
表5第9栏
极限值
最小值
表5第3栏
最大值
表5第12栏
表5第13栏
表5第4栏
4小号击穿阻抗
正间电压
SJ 2018692
续表4B组和C组的最后测试
GB 6571
2. 2. 2. 1
Iz双表5第5栏
=[% [2
极限值
最小值
最大值
5第6档
从祝始值
变化±50mV
TTKAONTKAca-
SJ20186
.+ost-
$60°+
1662MO
C668AO8
F262AO
1262A0
YrKAoNiKAca-
SJ20186-92
olt---
860°+
950 °+
950 ·+
a&ost-
概试，
9华新
2OCeMOa
5包装
5.1包装要求
包装要求应符合 GJB 33 的规定，6说明
SJ 20186—92
台同或订货单应规定引出端材料和涂层的要求，附加说明：
本规范由中国电子工业总公司科技质量局提出。本规范由中国电子技术标准化研充所归口。本规范由中国电子技术标准化研究所国营八七三厂负责起草。本规范主要起草人：于志贤、刘东才。计域项目代号，B91006。
1心—
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。