【电子行业标准(SJ)】 半导体分立器件 ２ＣＷ３０１６～３０５１型电压调整二极管详细规范

1范围
中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
2CW3016～3051型硅电压调整二极管详细规范
Semiconductordiscretedevice
Detailspecificationforsiliconvoltage regulator diodes
fortypes2CW3016~3051
1.1主题内容
SJ20188—92
本规范规定了2CW3016～3051型硅电压调整二极管（以下简称器件）的详细要求。该种器件按GJB33《半导体分立器件总规范》的规定，提供产品保证的三个等级（GP、GT和GCT级)。
1.2外形尺寸
外形尺寸应符合GB7581《半导体分立器件外形尺寸》中的D2-104型及如下规定，见图1。
中国电子工业总公司1992-11-19发布1993-05-01实施
SJ20188-92
注：L，为引线弯曲成直角后器件安装的最小轴向长度。图1外形尺寸
额定值和电特性
见表4第2栏
见表4第9栏
TA-25℃
见表4第10栏
注：1）T^>25℃时，按8.0mW/℃线性地降额。2引用文件
GB6571-86
GB7581-87
GJB33—85
GJB12886
3要求
3.1详细要求
D2—10A
-55~150
—55~175
小功率信号二极管、稳压及基准电压二极管测试方法半导体分立器件外形尺寸
半导体分立器件总规范
半导体分立器件试验方法
器件的各项要求应按GJB33和本规范的规定。2
低气压
3.2设计、结构和外形尺寸
SJ20188--92
器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB33和本规范的规定。3.2.1引线涂层
引线表面涂层应为镀锡或浸渍焊料。在不影响器件性能或G标志的情况下，对涂层另有要求时，可在合同或订货单中规定（见6章）。3.3“GCT”级的内部检查（封帽前）和处理条件试验和筛选除全部特性要求外，“GCT”级器件应按4.9条进行内部检查和工序检查、试验和筛选。
3.4标志
器件上的标志应按GJB33的规定。4质量保证规定
4.1抽样和检验
抽样和检验应按GJB33和本规范的规定。4.2鉴定检验
鉴定检验应包括表1、表2和表3中规定的检验和试验。对于具体组或4.3.1中规定的电压组，鉴定检验要求进行最低电压组的最低和最高标称电压试验，以及其它各组的最高标称电压试验。制造厂有权选择提交样品，分别进行B组的6和7分组试验和C组的5和6分组试验；或进行加严组合试验，采用入等于5栏内的样品数进行1000h试验。低气压试验只要求对最高标称电压型号的子批进行。除结构相似器件的检验程序不适用外，组的划分、各组待检验样品的数量、缺陷的判定以及缺陷数量均按GJB33的规定。其它型号的10个样品应经受A组的2分组和C组的1分组检验（除低气压试验外）。4.3质量一致性检验
质量一致性检验应由A组、B组和C组规定的检验和试验组成。A组检验和C组的1分组检验（低气压试验除外）应以子批进行。低气压试验应对最高电压型号的子批在6个月内进行。B组检验（除6和7分组外）和C组的2、3和4分组检验应按GJB33的规定检验批进行。B组的6和7分组及C组的5和6分组检验应对具有50%最高电压型号样品和50%最高容量型号样品组成的批进行。一个批即为4.3.1中规定的一个电压组各型号的组合。一个组内各电压型号的连续接收要对包括较高电压型号的批重新进行C组的5和6分组试验，该电压型号比最近6个月周期内进行过1000h寿命试验的电压型号更高。4.3.1按标准电压组检验
只要工艺没变（见4.3.2），则应按表4所示的电压组选择和试验的样品进行检验。电压组内所有型号的接收应基于这些样品的批检验的园满完成。4.3.2工艺更改
鉴定检验和质量一致性检验应以电压组为基础进行。在标准电压组内采用两种或多种工艺的制造厂或不生产特殊电压组的全部类型的制造厂，应在该标准组内确定一个新的检验组。4.3.3检验数据
当合同或订单（见第6章）中规定时，与该器件检验批有关的质量一致性检验数据的复制3-
件，应随同器件提交。
4.4A组检验
SJ20188—92
A组检验应按GJB33和本规范表1的规定进行。4.5B组检验
B组检验应按GJB33和本规范表2的规定进行。最后测试和变化量（△）的要求应按本规范表4相应步骤的规定进行。
4.6C组检验
C组检验应按GJB33和本规范表3的规定进行。最后测试和变化量（△)的要求应按本规范表4相应步骤的规定进行。试验期间和此后直到25次循环期间发现的失效累计总数，应计为25次循环的接收判据。
4.6.1寿命试验样品
为了满足C组寿命试验的要求，经受了B组340h寿命试验的样品可以继续1000h试验。这些样品应预先选定，并应在已经通过了B组340h接收判据之后，继续经受C组1000h接收评定。340h试验期间和此后直到1000h的试验期间发现的失效累计总数，应计为1000h的接收判据。
4.7检验和试验方法
检验和试验方法应按表1、表2和表3及下述规定。4.7.1浪涌电流（1zsm）
应将表4第10栏中规定的电流加在器件的反向，并应将1分钟冲击5次的浪涌电流叠加在电流Iz（表4第5栏）上。每个浪涌应等于持续时间为1/100s的半方波或相当于具有相同(有效值)电流的半正弦波。
4.7.2电压调整（△Vz）
应使电流维持在Iz（表4第8栏）的10%达90士5s，并记录电压Vz.然后将电流增加到1z（表4第8栏）的50%，并保持此值达90士5s，在此期间电压的变化应不超过表4第9栏的规定。在该项试验期间，器件应借助于安装夹具用其引线悬挂，安装夹具内边离管体在9.53mm和12.7mm之间，并应将安装夹具保持在25℃的温度下。4.7.3标志的耐久性
应按GJB128的1022方法对器件进行试验，并应符合下列要求：a。应将器件管体上已打标志的整个表面涂刷；b。试验后的器件应无机械损坏痕迹，标志应保持清晰。4.7.4电压温度系数（avz）
在规定的环境温度下，读出工作电压前，器件应随所加电流达到温度稳定。4.7.5调整电压
在读出试验电压以前，应施加90士5s的试验电流（表4第5栏）。在该项试验期间，器件应借助于安装夹具用其引线悬挂，安装夹具内边离管体在9.53mm和12.70mm之间，并应将安装夹具保持在25℃的温度下。
4.8GT级工序检查、试验和筛选
对GT级的工序检查、试验和筛选的程序应按4.8.1至4.8.5.3的规定。4.8.1质量保证（批验证）
质量保证应按GJB33的规定。
4.8.2高温贮存
SJ20188-92
所有器件应在环境温度为175℃下至少贮存48h。4.8.3热冲击（温度循环）
除低温为一55℃、循环10次外，热冲击（温度循环）应符合GJB128的方法1051试验条件F的要求。该试验可在任何循环点开始。应将所有器件保持在每一极限温度下直至热平衡，但不得少于15min。在每个极限温度转换之间，所有器件在室温下保持时间不大于5min。4.8.4加速度
除下述情况外，所有器件均应按GJB128的方法2006规定进行加速度试验。试验仅在Y，方向进行1次，最小加速度为196000m/s（峰值）。4.8.5老化试验前
批中的所有器件应按表5的Vz和IR参数测量并记录。老化试验后所有器件应处理或核实以便可以确定最后变化量（△）。不满足这些要求的所有器件一开始就应从检验批中剔除，并将剔除的数量记入批史中。
4.8.5.1老化试验（GJB128中试验方法1038的试验条件B或C）所有器件在下列稳定条件下至少工作96h：T为25℃（最低）
Iz为表4第8栏的值
4.8.5.2老化试验后
老化试验后批中所有器件应按表5的Vz和IR参数重新测量并记录。在老化试验期间参数测量从初始值变化不应超过下列规定值：△Vz=初始值的士2.5%
AI=初始值的100%或250nA，取较大者。4.8.5.3老化试验失效（筛选）
超过4.8.5.2变化量极限（△）或表5极限的所有器件应从检验批剔除，剔除的数量不得超过参加试验器件数量的10%，超过10%～20%的若无其它规定，可以重新提交老化，并采用不合格率为3%的加严检查检验重新提交批，如果失效数超过20%则整个检验批不能作为GT、GCT级产品接收。
4.9“GCT”级的内部目检（封帽前)和工序检查、试验和筛选在封帽前应按GJB128的2072方法100%的进行内部目检。工序检查、试验和筛选应按4.8.1至4.8.5.3的规定。制造厂允许受权的试验机构与制造厂时进行这些试验，试验以证明工序检查、试验及筛选是否符合要求。由制造厂通常作为标准生产进行的那些检查及筛选检验，如果等于或严于本规范的规定，而且被试验机构接受的，则无需重复。5
检验或试验
A1分组
外观及机
械检验
A2分组
正向电压
反向电流
调整电压
微分电阻
拐点微分
检验或试验
B1分组
可焊性
标志的耐久性
B2分组
热冲击
(温度循环）
热冲击
(玻璃应力)
最后测试：
调整电压
（见4.7.5)
反向电流
微分电阻
B3分组
稳态工作寿命
最后测试：
（按B2分组）
GJB128
GB6571
GB6571
GB6571
GB6571
Ip200mA
SJ20188—92
表 1 A 组检验
V见表4第11栏的值
Iz见表4第5栏的值
Iz见表4第5栏的值
1a=10%1z
Is见表4第15栏的值
Iag=10%Ik
表2B组检验
GJB128
没渍时间：10士1s
除—55℃、循环10次外，
其余按试验条件F
试验条件A
1z见表4第5栏的值
VR见表4第11栏的值
1z见表4第5栏的值
=10%12
1z见表4第8栏的值
最小值
表4第3
栏的值
最大值
表4第12栏的值
表4第4栏的值
表4第6栏的值
表4第7栏的值
极限值
最小值
最大值
表4第3栏的值表4第4栏的值
表4第13栏的值A
表4第6栏的值
检验或试验
B5分组
浪涌电流
(见4.7.1)
最后测试：
（按B2分组）
B6分组
高温寿命
最后测试：
（按B2分组）
GB6571
检验或试验
C1分组
外形尺寸
C2分组
热冲击
(温度循环)
引出端强度
引线疲疫劳
电压调整
见（4.7.2)
低气压
(适用时）
试验期间适用电流
综合温度/湿度周期试验
最后测试：
(按B2分组）
C3分组
变频振动
恒定加速度
GJB128
SJ20188-92
续表2B组检验
1zsm见表4第10栏的值
TA-175C
t=340h
非工作状态
表3C组检验
GJB128
见图1
除55℃、循环10次外，
其余按试验条件F
试验条件A，W=20N
1-15±38
试验条件E
z=（10~50）%表4第8栏1m
12见表4第5栏的值
非工作状态：14700m/g*
在Xl、Y1每个方向冲击5次
非工作状态
非工作状态
极限值
最小值
最大值
最小值
最大值
表4第9
栏的值
检验或试验
C4分组
盐气(侵蚀)
（适用时）
C5分组
高温寿命
(见4.6.1)
最后测试：
（按B2分组）
C6分组
稳态工作寿命
(见4.6.1)
最后测试：
（按B2分组）
C7分组
电压温度系数
（见4.7.4)
SJ20188-92
续表3C组检验
GJB128
TA175C
非工作状态
12见表4第8栏的值
GB65711z见表4第5栏的值
TAl=25℃
TAa125℃
入=10wwW.bzxz.Net
入=10
最小值
最大值
表4第14
栏的值
SJ20188-92
260·+
680°+
280°+
980°+
S80°+
280°+
S90·+
(a/%）
00000000000
(鲁）
联蛋审
SJ20188-92
660°+
860°+
260°+
960°+
960°+
￥60°+
草?窖
(吾）
调整电压
反向电流
5交货准备
GB6571
SJ20188-92
表5老化试验测量
Iz见表4第5栏的值
Vx见表4第11栏的值
5.1交货准备应按GJB33的规定。6
说明事项
最小值
表4第3栏的值
合同或订货单应规定要求的引出端材料和涂层（见3.2.1）。附加说明：
本规范由中国电子工业总公司科技质量局提出。本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由中国电子技术标准化研究所和国营八七三厂负责起草。本规范主要起草人：于志贤、刘东才、杨子江。计划项目代号：89081。
最大值
表4第4栏的值
表4第12栏的值
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。