【电子行业标准(SJ)】 低熔焊接玻璃粉结晶化时间的测定方法

中华人民共和国机械电子工业部部标准低熔焊接玻璃粉结晶化
时间的测定方法
1主题内容与适用范围
1.1主题内容
本标准规定了低熔焊接玻璃粉的结晶化时间的测定，1.2适用范围
本标准适用于彩色显象管及其他电子器件用低熔焊接玻璃粉2方法要点
SJ3232.4-89
因低熔焊接玻璃粉在析晶时放出热量，故可采用差热分析仪测得其与标准试样的差热曲线，用作图法求得低熔焊接玻璃粉的结晶化时间。3仪器及材料
3.1差热分析仪：DT30型；
3.2记录仪：RT—22型；
3.3分析天平：感量0.1mg；
3.4试样盒：铝制冲压件，外形尺寸Φ×h，mm：6×5；3.5α-AI0粉。
3.6纯锌片纯度99.999%，尺寸I×b×h，mm：1×1×0.24测定步骤
4.1将纯锌片用铝箱包起后放在试样盒底部.称取约50mgα一-AIO，粉于试样盒中再称取120土5mg玻璃粉于另-一试样盒中。将两只试样盒同时装入炉中指定的试样架上。盖上炉盖。加上炉罩。
4.2按仪器使用说明书将DT-30上检测器旋钮分别设定在PL及DTA，选择开关及速率旋钮分别设定在UP--HOLD。以10C·min-升温。极限温度设定为440℃，起动温度需低了室温3℃。将DA一30上的热电偶、量程、选择器旋钮分别设定在PL、100、DTA上。打开DA一30上的电源开关。4.3打开DT30上的电源开关，
4.4打开记录仪，调节记录温度的笔对准记录纸的“0\，使记录差热曲线的笔处于记录纸的中间位置。然后将记录温度的量程调至25mV，将记录差热的量程调至20mV，走纸速度为2.5mm·min-l
中华人民共和国机械电子工业部1989-03-20批准1989-03-25实施
SJ3232.4-89
4.5按下DT一30上的准备及起动键，待差热曲线上出现第二个放热峰完了时，断电停止测定，
S测试结果的计算
在记录的差热曲线上第二个蜂的两侧作切线，找出开始保温到第二个放热峰的最高点之间的距离，这段距离所代表的时间即为结晶化时间，如下图所示。（用1：400比例尺直接读取）
1锌的熔点；
喆鼠化时间
结晶化时间图解
2升温曲线；
3差热曲线.
6注意事项
SJ3232.4—89
6.1因记录温度笔和记录差热曲线的笔起始位置不在同一条直线上，故作图时应减去记录温度笔超前的距离，
6.2纯锌片作为校正温度用，其熔点为420C，440℃的恒温温度需用实测的锌温度进行补正，温度的高低影响结晶化时间的长短，按下表进行补正。补正表
时间min
附加说明：
本标准由机械电子工业部电子标准化研究所归口，本标准由4400厂负责起草。
本标准主要起草人史季芬、李广会439