【电子行业标准(SJ)】 第十部分：总规范 ＳＪ２８４５．１的补充件：ＩＥＣ电子器件质量评定体系在有或无继电器上的应用

中华人民共和国电子工业部部标准SJ2845.2-87
IEC255-10（1979）
电气继电器
第十部分总规范SJ2841（IEC255-7）的补充件：IEC电子元器件质量评定体系在有或无继电器上的应用
Electricalrelays
Part 10.SupplementtoSJ2845.1(IEC255-7)：Applicationof the IEcQualityAssessmentSystem for Electronic Components toall-or-nothing relays
（可供认证用）
1987-12-16发布
中华人民共和国电子工业部
1988-07-01实施
中华人民共和国电子工业部部标准电气继电器
第十部分：总规范SJ2845.1
（IEC255-7）的补充件
IEC电子元器件质量评定
体系在有或无继电器上的应用
Electrlcal
relays
SJ2845.2-87
IEC255-10（1979）
Part10:SupplementtosJ2845.1（IEc255-7）：Applicatlonof the IEC Quality Assessment System for Electronic Com-ponents to all-or-nothing relays（可供认证用）
1范围和目的
本标准适用于有或无继电器，它提供下列导则：（a）鉴定批准和质量一致性检验程序；(b）继电器分类：
（c）试验分组；
（d）编制试验一览表，
（e）在编制分规范和详细规范时，（a）、（b）、（c）及（d）各项的应用。上述各项导则拟在IEC质量评定体系范围内使用。2名词术语和定义
名词术语和定义可1用IEC255系列中的其它标准和国际电工词典（见IEC50），第446章。3引言
IEC质量评定体系的基本概念是向订货方提供保证，保证所放行的继电器符合详细规范中的各项要求。
各项试验均应由制造方指定的总检验员负责进行。质量评定程序由下列这些连续的基本步骤组成：（a）鉴定批准；
（b）质量一致性检验。
对于小批量、孤立批或短期生产的继电器，采用特殊程序（见附录C）。对于试验一览表中的每一项试验，详细规范应表明该试验项目是否为鉴定批准试验、逐批检验或周期检验的一部分。
不管由于任何原因而出现任何矛盾时，各种文件应遵循下列规定的权威顺序。（1）订货方的合同要求；
中华人民共和国电子工业部1987-12-16批准1988-07-01实施
（2）详细规范，
（3）总规范：
$J2845.2-87
（4）适用于质量保证体系的基本章程文件。各种相应的国家文件也应采用与上述相同的优先顺序。4
鉴定批准程序
某一类型继电器的鉴定批准试验是对一定数量的继电器进行的完整系列试验，其目的是确定某一具体制造方是否能够生产符合详细规范的继电器。鉴定批准试验由详细规范中指定的所有试验项日组成，包括逐批试验和周期试验。鉴定批准的依据仅决定于是否符合鉴定批准试验的要求，并应符合下列规定：方法1：对于短期生产的情况，应符合详细规范中对鉴定批准所专门规定的试验要求。方法2：对于连续生产和大量生产的情况，应符合详细规范中的试验要求，即应完成三个连续批的A组和B组逐批检验和一个批（从上述三个合格的批中抽取）的C组周期检验（由三个逐批检验的平均批量来确定释本大小)。应按照SJ/Z9007（IEC410）《计数检查抽样方案和程序》规定，从各批中抽取样本。应采用正常检验，但若样本大小给出合格判定数为0时，应抽取追加样品，以符合合格判定数等于或大于1的样本大小。当采用方法1时，详细规范中应规定寿命试验的总数量和样本大小及相应允许的不合格品数。上述这些均应适当注意所采用抽样方案的极限质量，并应在制造方与订货方之间协商一致。注：由于鉴定批准试验结果的置信度不仅从统计推论中导出，而且还应根据全部技术数据并考虑到鉴定批准试验所需要的贫用，所以详细规范可以在这些规定的范函内尽可能选择最小的样本大小。样本大小及合格和不合格判定数应从SJ/Z9007（IEC410）所规定的抽样方案中选取。通常，任何试验组的样本大小不得少于5。5质量一致性检验
在获得鉴定批准之后，制造方应负责保证在未进行再次鉴定的情况下，不得对产品作重大的技术更改，并且应进行规范所规定的质量一致性检验。质量一致性检验分为下列两个部分。逐批检验，作为单批放行的依据。周期检验（包括费时长和费用高的试验项目）。质量一致性检验以符合详细规范中规定的逐批检验和周期检验的试验要求作依据。A0分组（见附录A）中的试验项自总是波在所有其它非破坏性试验项目之前。A0分组中的试验项目应总是放在所有破坏性试验项目之前。每项试验应在这样的继电器上进行，该继电器预先不应经受易造成本试验结果无效的任何破坏性或非破坏性试验。但在详细规范中有特殊规定时，可以将一项或多项非破坏性试验放在某一项破坏性试验之前。6抽样规则
，应按SI/Z:1307（IEC410）中规定的抽样方案和程序进行抽样，只采用每百单位不合格品数的概念。
SJ2845.2-87
分规范中规定的检验水平应按ST/Z9007（IEC410）中的第9。2条规定进行选取。对于每一个具体分组，在各种不同的试验一览表中均应采用相同的检验水平。通常，采用正常检验水平，但在一致性上要求较高的置信度时，可以规定较高的水平。对于一个分组中的各项试验，应根据该分组中规定的检验水平和合格质量水平。按照SJ/Z9007（IEC410）抽样方案的规定随机抽取-个样本。应始终采用分层抽样法，以便能覆盖住所有生产线和结构类似的产品，并使抽取的样品与各自在批中的数量成比例。
C组检验的样本应从已经通过了A组和B组检验的某一个批（或儿个批）中抽取。样本可以在C组周期终止时所交付产品的批中抽取，也可以从在C组周期内各间隔期间的不同批中抽取。在任何一种情况下，样本大小不得小于当时C组周期内相应的平均批量的样本。释品应尽可能地代表生产实际。7继电器分类
只按型、工艺、应用或用途对继电器进行分类的各种尝试都已经失败，原因是由于其各种特性的相似性和相互依赖性。本标准根据不同的试验一览表对继电器进行分类。这些试验一览表以经验为依据，并用一览表中强制性试验的项目数及其在各分组中的分配数来区别。第9条和附录A中给出了试验分组的规则。按照试验分组规则编制的试验一览表见附录B。
在试验一览表1中，强制性试验项目数是有限的。在试验一览表2和试验一览表3中，强制性试验项目数有所增加。
8编制分规范的导则
可以编制三个分规范，每-一个分规范采用--个试验一览表。而每个分规范又可以作为编谢详细规范的导则。
分规范中含有每项试验的检验水平和优先的合格质量水平数值。各试验一览表考虑了继器不同的制造工艺和其触点应用类别，并表明了各自的制造工艺和触点应用方面的适应。
最通用的制造工艺和触点应用类别如表所示。此表构成了分规范的一部分。当触点的特性不能归入表中一个或若干个规定的类别时，或当要求进行特殊的试验时，则详细规范应给出必要的说明。
详细规范应规定按表I选取的有关性能。·3
继电器制造工艺
继电器制造工艺I
继电器制造工艺Ⅱ
触点应用类别0
触点应用类别1
触点应用类别2
触点应用类别3
非密封触点
密封触点
密封继电器
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继电器性能
U≤0.03V,I≤0.01A
0.03V5V5V采用三个
类别中的
一个类别
至少采用
四个类别
中的一个
注，①有关触点应用类别的规范，在SJ2845.1（IEC255-7）《第七部分：有或无机电继电器测试方法》第9条中规定。
②所有试验一览表中的环境条件是通用的，因此不在此表中分类。9试验分组规则
9.1采用的原则
试验分组的目的是将那些对评定继电器适用性有同等重要意义的所有试验项目安排到同一个组中。因此，在同一个分组中的每一项试验均具有相同的检验水平和合格质量水平范围，而将试验项目分配到某一个组的进一步依据是试验的破坏性、试验持续时间及制造或设计。
试验的频度考虑试验的复杂性、持续时间和全部费用，并考虑放行不合格继电器的后果。
具有相同频度并对继电器功能同等重要的特性试验应安排到同一个分组中。9.2分组
按照IEC\）第条和第条中的原则及SJ/Z9006（IEC419）《在电子元器件规范中列入逐批和周期检验程序的导则》第2.6条中规定的“周期检验”，将试验分为A组、B组和C组。按照附录A中的规定，对每一个组进行再分组，并按照被试特性对继电器全部功能的相对重要性将每一项试验要求分配到某一个分组中。注：1)正在制订。出版时，引用CMC（sec）36号文件中的第11.3，1和第11.3，2条。9.3各组的定义
A组，这一组的试验项目由历时短的、非破坏性的电气和机械试验组成。这些试验以逐批检验为基础，用来评定主要由制造过程所决定的继电器的基本特性，或用来评定那些属于设计方面并且是极重要的继电器基本特性。B组：这一组的试验项目出破坏性和非破坏性两类试验组成，试验时间大致为一周。这些试验以逐批检验为基础，用来评定主要由制造过程所决定的极重要或重要的继电器特性，或用来评定属于设计方面极重要的继电器特性。.4.
SJ2845.2-87
C组：这一组的试验项目由破坏性和非破坏性两类试验组成。这些试验周期性地进行，用来确认A组和B组之外的那些特性是否正在保持着。这些特性可能与设计有关，也可能与制造过程有关，对继电器的功能可能是极重要、重要或是次要的（见附录A确定各组中极重要、重要与次要的导则）。
10编制详细规范的规则
编制详细规范应采用下列方法，（1）从本标准表I中选取适合其预定用途的继电器性能。（2）选择能最大限度地满足继电器预定使用要求的试验一览表。（3）将选取的试验一览表中规定的所有强制性试验项目和适合其预定用途的推荐性试验项目列入详细规范。
（4）如有必要，在这些推荐性试验项目之外，可以增加任何其它所要求的试验项目。（5）只要列入详细规范，则推荐性试验项目和增加的试验项目都成为强制性的。（6）详细规范应指明那些试验项目只在鉴定批准时进行。（7）对于每一项试验，详细规范应指明该项试验是破坏性的或者是非破坏性的。附录D给出非密封触点（RT0）、触点负载为0类和1类（CA0和CA1）典型继电器的试验一览表1、2和3的示例。
A1分组方法的说明
SJ2845.2-87
附录A
试验分组规则
这种分组的方法如附图所示。首先将试验项目分成两部分，一部分为所有非破坏性试验，另一部分为所有破坏性试验（见注）。随后根据某一项试验是否能在一周之内做完或需要在更长的时间内做完（试验时间），再将这两部分试验进行分类。对于试验时间不超过一周的试验项目，可进行逐批检验，对于历时短的非破坏性试验，可进行100%的检验。时间超过一周的试验项目，应周期地进行。然后根据被试继电器的特性是完全地或主要地决定于所采用的材料和制造过程，或是基本决定于设计再进行分类。当不能辨明此特性是否主要与制造有关或与设计有关时，则应适当偏重于考虑制造变差（见附录B、注①）。因此，试验项目还可以进步进行适当分类。对于这样分类的每一项试验，被试特性对继电器功能的相对重要性仍然是唯一的决定因素。共同反映重要性的试验的分类（极重要、重要、次要）和频度决定了试验项目应分配到的分组。这样，试验项自就可以集中到各自的分组中并列人某一试验一览表。每一份详细规范应含有一试验一览表。试验一览表应指明适用的试验项目在逐批和周期检验各分组中的划分和分配。
注：所有A组试验项目均是非酸坏性的。但在编制详细规范时，应确定列入B组和C红中的每一项试验是破坏性的或是非破坏性的，并应将此指明在详细规范的试验一览表中。A2各分组的定义
A0分组：此分组由对继电器的功能极为重要的特性且历时短的试验项目组成。除了详细规范中规定的某些特殊应用情况外，在其它分组抽取样本的各批形成之前，作为筛选或分类，应尽可能地在生产线上100%地进行试验。A1分组：此分组由继电器重要特性的历时短的试验项目组成。A2分组：此分组由继电器次要特性的历时短的试验项目组成。A3分组：此分组由诸如外观检查等具有高度主观判断特征的历时短的试验项目组成。A4分组：此分组由基本上只与设计有关并对继电器功能极重要的特性的历时短的试验项自组成。
B1分组：此分组由时间大致为一周且适用于对继电器功能极重要的特性的试验项目组成。B2分组：此分组由时间大致为一周且适用于继电器重要特性的试验项目组成。B3分组：此分组由时间大致为一周且适用于对继电器功能极重要但基本与设计有关的特性的试验项目组成。
C1分组：此分组由适用于对继电器功能极为重要的特性的试验项目组成。评定周期一般不得超过6个月。
C2分组：此分组由适用于继电器重要特性的试验项目组成。评定周期一般不得超过6个月。C3分组：此分组由适用于继电器次要特性的试验项目组成。评定周期一般不得超过6个月。
SJ2845.2-87
C4分组：此分组由适用于对继电器功能极为重要的特性的试验项目组成。评定周期一股不得超过2年。
C5分组：此分组由适用于继电器重要特性的试验项目组成。评定周期一般不得超过2年。C6分组：此分组由适用于继电器次要特性的试验项目组成。评定周期一般不得超过2
SJ.2845.2-87
世出包装
通事避
新推器学带
推#%00%品
B1说明
SJ2845.2-87
附录B
试验一览表
所有列人试验一览表1中的强制性和推荐性试验项目也包括在试验览表2中，再加上一些另外的试验项目。同样，试验一览表2中的试验项目也包括在试验一览表3中，还要再加上另外的试验项目。在少数情况下，会将试验项目从某一个组转移到另一个组，或者从试验一览表1转移到更高级的一个试验一览表时，推荐性试验项目将变为强制性试验项目。这种转移和变换用个星号标志（例如M）。下列注解适用于各试验一览表（增加的注解见表的脚注)。注：①当下列两种情况中任一种情况适用时，这些项目试验在该试验组中进行。（i）当有关参数对继电器在其预定用途中能满意地工作极为重要时。(i)
对于某一项规定参数，当制造变差与其规定的公差范围相当时，并当任何继电器的特性超出这些范围在其预定用途中产生有害后果时。②只适用于当制造方与使用方协商一致且试验时间不超过一周时。③只适用于当制造方与使用方协商一致时。④当某一项电寿命试验所要求的动作次数至少等于机械寿命所要求的动作次数时，允许电寿命与机械寿命试验结合起来进行。B2试验序
每一分组中的试验项目均按SJ2845.1（IEC255-7）中条款号的顺序列出。各项试验应执行的顺序，见本标准的第5条。
试验项目
A0分组
外观俭查套
线图电阻
介质试验
接触电阻
功能试验
A1分组
机械检查
线圈电阻
线圈阻抗
接触电阻
功能试验
时间试验
内泽潮湿
A2分组
尺寸检食
A3分组
外规检餐
（除标志外）
A4分组
介质试验
M：强利性试验项民
SJ2845.2-87
试验一览表1
M详细规范应见定
减少的引出端数
动作和释放值只适
用于RTI和RTⅡ
只适用于RTIⅡ
适用于直流继电器
只适用于交流继电器
动作和释放值只
适用于RTO
R：推荐性试验项目
试验一览表2
当注①适用时，详
纲规范应规定引出端
只适用于CAO
动作和释放值只适
用于RTI和RTⅡ
只适月于RTⅡwww.bzxz.net
只适用于直流继电器
只适用于交流继电器
只适用于CA1
动作和释放值只
适用于RTO
只适用于RTⅡ和
CAo两者兼有时
另选A0中未进行
试验的引出端并当
注①适用时
试验一览表3
M当注①和（或）
注③适用时
当注①适用时，详细
规范应规定引出端
只适用于CAO
动作和释放值，只适
用于RTI和RTⅡ
只适用于RTⅡ
只适用于当A0分
组中未进行时
只适用于交流继电器
只适用于CA1
动作和释放值只适
用于RTO
当注①和注③适用时
M只适用于RTI和
CAO两者兼有时
另选A0中未进行试
验的引出端并当注①
适用时
，试验项目已变换组别，或已成为强制性条款
试验项目
绝缘电纽
B1分组
电寿命
B2分组
温度快速变化
（方法2）
内部潮混
引端强度
可焊性（试验1）
B3分纽
触点粘接
C1分组
电寿命
C2分组
线開电感
介质试验
绝缘电阻
接触电阻
时间试验
C3分组
尺寸检查
M，强制性试验项目
SJ2845.2-87
试验一览表1
只适用于RTⅡ和
CAO两者兼有时
只适用于印制线
路板式继电器
A0中未试验的引
A2中已检查的尺
寸不适用
R，推荐性试验项目
试验一览表2
只当注①和注适
只适用于RTⅡ
M·只适用于RTI
只适用于直流继电器R
只适用于RTI和
只在B1中未进行
且当注①适用时
只当A0或A4中来
进行时
只适用于CA2和CA3
试验一览表3
只当注和注②
适用时
只适用于RTⅡ
只适用于RTⅡ
只适用于直流继电器
只适用于RTI和
只在B1中未进行且
当注①适用时
只当A0或A4中未
进行时
M只适用于CA2和CA3
M#具当A1中未列入时
·试验项目已变换组别，或已成为强制性.11
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