【电子行业标准(SJ)】 电子器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器ＲＪ１７型金属膜固定电阻器 评定水平Ｅ

中华人民共和国电子工业部部标准SJ2675-86
电子元器件详细规范
低功率非线绕固定电阻器
RJ17型金属膜固定电阻器
评定水平E
1986-02-18发布
1986-10-01实施
中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子工业部部标准电子元器件详细规范
低功率非线绕固定电阻器
RJ17型金属膜固定电阻器
评定水平E
中国电子技术标准化研究所
投IBET8-1进行质量评定的电子元器件外形图：（见表1）（第一角视图）·引线根部涂层长度
SJ2675-86
SJ2675-86
GB5731-85
IEC115-2-1
低功率非线绕固定电阻器
（RJ17型金属膜电阻器）
绝缘型
评定水平：E
稳定度等级：2%
按本详细规范鉴定合格的元器件的有效资料在鉴定合格产品一览表中给出。第一章一般数据
一般数据
1.1推荐的安装方法
电阻器应以正常方式安装。
在振动试验中，电阻体与安装点之间的距离应为6土1mm1.2尺寸、额定值和特性
1986-02-18发布
1986-10-01实施
70℃额定
温度系数
（10-%/℃）
全部尺寸以毫米为单位。
阻值范围*
标称阻值允许偏差
气侠类别
低气压
稳定度等级
阻值变化极限值：
长期试验
短期试验
温度系数
1.2.1降功耗
SJ2675-86
元件极限电
压（直流或
交流有效值)
本规范包括的电阻器按下述曲线降功耗额定功率
的百分数
推荐工作区域
-55℃
1.3有关文件
GB5729-85
·优先值为IEC63的E系列
绝缘电压
（直流或交
流降值）
最大尺寸
125℃
102至10MQ
±2%，±5%
d标称：
公差：
55/125/56
8.5kPa（85mbar）
±（2%R+0.12）
±（0.5%R+0.052）
α：±250×10-*/℃
环碗渴度
电子设备用固定电阻器
第一部分：总规范
GB5730-85
1.4标志
SJ2675-86
电子设备用固定电阻器
第二部分：分规范：
低功率非线绕固定电阻器
元件和包装上的标志应符合总规范GB5729-85第2.4条的要求。电阻器上的标志内容：
a.标称阻值：
b.标称阻值允许偏差：
c.制造年、月（或周）：
d.品种标记；
e.制造厂商标。
电阻器包装上的标志内容：
a.标称阻值：
b.标称阻值允许偏差：
c.制造年、月（或周）：
d.详细规范号和品种标记；
e，制造厂的名称和商标；
f.包装内的数量；
g.包装人员的姓名或代号；
h.检验部门印章。
1.5订货资料
订购本规范电阻器的订单应该用一般文字或代码形式列出下述最少内容：a.标称阻值；
b.标称阻值允许偏差：
c.详细规范的编号和版本号以及品种标记。1.6放行批证明记录
要求提供本记录时，应与制造者协商解决。1.附加内容（不检验）
电阻器的重量应不超过3.5g/只。1.8对总规范和（或）分规范的规定而言，增加或提高的严醋度和要求无规定。
第二章检验要求
2检验要求
2.1程序
2.1.1鉴定批准程序应符合分规范GB5730-85第3.2条的规定，3
SJ2675-86
2.1.2对于质量一致性检验，其试验一览表（表2）包括抽样、周期、严酷度和要求。分规范第3,3.1条规定了检验批的组成。注：要求干燥时，应采用总规范GB5729-85第4.3条的程序I。表2
注：①除了阻值变化要求应从分规范GB5730-85的表1和表2相应地选定外，试验项日和性能要求的条款号引自总规GB5729-85。
检查水平（IL）和合格质景水平（AQL）选自IEC410：计数检查独样方案和程序。?表中：
P一周期，月，
五-祥本大小，
C一合格判定数（允许不合格品数）D一破环性的，
ND一非破坏性的，
IL一检查水平
AQL一合格质盘水平
条款号和试验项目
（见注①）
A组检验
（逐批）
A1分组
4.4.1外观检查
A2分组
4.4.2尺寸（量规检验）
4.5阻值
B组检验
（逐批）
B1分红
4.7耐电压
IEC410
试验条件
（见注①）
应使用1/20mm盘具
方法：V形块法，加
峰值交流电压并为绝
缘电压值的1.42倍
（见注?）
性能要求
（见注①）
按4.4.1条
标志清遵并符合本规
截1，4条规定
按本规范表1规定
按4.5，2条
无击穿或飞弧
条款号和试验项目
（见注①）
B2分组
4.17可焊性
4.13过载
条款号和试验项目
（注①）
C组检验
（周期）
CtA分组
（C1分组样本的一半）
4.16引出端强度
SJZ675-86
试验条件
（见注@）
要求老化：温度155℃，
时间4h。
方法球焊法，设备的温
度应调节并保持在235
±2℃
持续时间
施加的电压应为2.5信
额定电压或2倍元件极
限电压，取较低者
外观检查
试验条件
（见注）
拉力：20N
弯曲（引出端数目的
（见注?）
祁本天小和
合格判定数
（宽注）
续囊2
性能要求
（见注①）
焊料应在2s内流合
无可见损伤，标志清楚
AR≤+（0.5%R+0.052)
续裘2
性能要求
（见注）
条款号和试验项目
（见注④）
4.18耐焊接热
C1B分组
（C1分组样本的另-
4.19温度快速变化
SJ2675-86
试验条件
（见注①）
扭转（引出端数目的另
一半）
外观检查
方法：1A，槽温260±
5c，没入时间10土1s，
没入深度，距离元件主
外观检查
0=-55℃
6=+125
外观检查
安装方法：见本规范
程序：B4
额率范围：10Hz至
振幅：0.75mm或加速
度98m/s（取较小者）
总持续时间；6h
外观检验
样本天小和
合格判定数
（见注③）
缓裹2
性能要求
（见注①）
无可见损伤
△R<±(0.5%R+0.05Q)
无可见损伤，标志清楚
AR≤±(0.5%R+0.05Q)
无可见损伤
AR±(0.5%R+0.050)
无可见损伤
AR<±(0.5%R+0.05Q)
条款号和试验项目
（见注）
C1分组
（C1A和CiB分组样
品的组合样本）
4.23气候顺序
一循环湿热，试验
Db，第一个循环
低气压
循环湿热，试验
Db，其余的循环
一直流负荷
C2分组
4.25.170℃耐久性
SJ2675-86
试验条件
（见注④）
8.5kPa(85mbar)
外观检查
绝缘电阻
持续时间，1000h
在48h、500h和1000h时检
查：外观检查
在1000h时检查，
绝缘电阻
建议制造者每年将一次
季度试验廷长至8000h
在2000h、4000h和8000h
时检查：
样本天小和
合格判定数
（见注③
续表2
性能要求
（见注④）
无可见损伤，标志清楚
△R±(2%R+0.10)
R≥100MQ
无可见损伤
△R<±(2%R+0.12)
R≥IGQ
AR≤±(5%R+0.5)
（所得结果仅供参考）
条款号和试验项目
（见注①）此内容来自标准下载网
C3分组
4.8阻值随温度
D组检验
（周期）
D1分组
4.24稳态湿热
D2分组
4.4.3尺寸（详细的）
4.25.3上限类别温度
耐久性
附加说明：
SJ2675-86
试验条件
（见注④）
-55/20℃
20℃/+125℃
4.24.2.2条
第1纽10只样品
第2组10只样品
外观检查
绝缘电阻
持续时间：1000h
在48h，50ch和1000h时
检查：
外观检查
在1000h时检查
绝缘电限
1.本标准由电子工业部标准化研究所提出，2.本标准由国营第七一八厂等单位负责起草3.本标准主要起草人满开来，何德隆。8
样本大小和
合格判定数
见注?
缘装2
性能要求
（见注）
c±250×10-/℃
《±250×10~*/℃
无可见损伤，标志清楚
△R<±(2%R+0.10)
R≥100MO
符合本规范表1规定
无可见损伤
AR<(2%R+0.12)
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