【电子行业标准(SJ)】 半导体光耦合器(二极管)反向击穿电压的测试方法

中华人民共和国电子工业部部标准半导体光耦合器（二极管）
反向击穿电压的测试方法
本标准适用于光耦合器的二极管反向击穿电压Vx的测试。SJ2215.5-82
测试反向击穿电压总的要求应符合SJ2215.1-82《半导体光耦合器测试方法总则》。2反向击穿电压VBR的测试
2.1定义
被测管通过的反向电流1，为规定值时，在两极间所产生的电压降。2.2反向击穿电压的测试原理图应符合下图。恒流源此内容来自标准下载网
3测试步骤
调节恒流电源使电流表的读数为规定值，这时电压表的读数即为反向击穿电压VBR。注：被测管在输出部分时，输人端开路。中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1983-07-01实施
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