【电子行业标准(SJ)】 半导体光敏二、三极管光电流的测试方法

中华人民共和国电子工业部部标准半导体光敏二、三极管光电流的测试方法本标准适用光敏二、三极管光电流Ic的测试。SJ2214.10-82Www.bzxZ.net
1测试光敏二、三极管，光电流1c总的要求应符合SJ2214.1一82《半导体光敏管测试方法总则》。2光敏二、三极管光电流1c的测试2.1定义
光敏二、三极管，在规定光照下并加一定的工作电压（三极管基极开路）流过二、三极管的电流为1to
光电流Ic的测试原理应符合下图。被测器件
3测试步骤
稳压源
加上被测管，使其轴线与人射光平行，调节光源和稳压源至规定值，这时电流表上的读数即为所测的光电流IL。
中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1983-07-01实施
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。