【电子行业标准(SJ)】 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法

中华人民共和国电子工业部部标准半导体光敏二、三极管
脉冲上升、下降时间的测试方法本标准适用于光敏、三极管脉冲上升、下降时间，、1的测试。SJ2214.9-82
测试脉冲上升、下降时间总的要求应符合SJ2214.1一82《半导体光敏管测试方法总则》。脉冲上升、下降时间t，、的测试2、1定义
光敏（二、三极管）在规定工作条件下，调节输人的脉冲光使光敏二、三极管输人相应的脉冲电流至规定值，以输出脉冲前沿幅度的10%到90%，所需时间为脉冲上升时间t，以输出脉冲后沿幅度的90%到10%，所需时间为脉冲下降t。2.2脉冲上升时间t、脉冲下降时间t测试原理图应符合下图。遮光罩
脉冲光
示波器
注：光敏三极管，有基极外引出线的产品所加的条件，在产品标准中规定。2.3对脉冲光要求
输人光脉冲：脉冲宽度T>2（t+）；a.
占空系数<50%，
前沿后沿b.V为规定值；
R,=502,bZxz.net
d，光电流的脉冲幅度大于规定值的2
测试步骤
稳压源
调节电压Vc至规定值，调整脉冲光使光敏二、三极管的输出电流至规定值。示波器上读出t,和t值。
中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1983-07-01实施
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