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- SJ 2215.2-1982 半导体光耦合器(二极管)正向压降的测试方法
标准号:
SJ 2215.2-1982
标准名称:
半导体光耦合器(二极管)正向压降的测试方法
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
1982-11-30 -
实施日期:
1983-07-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
39.67 KB

部分标准内容:
中华人民共和国电子工业部部标准半导体光耦合器(二极管)
正向压降的测试方法
本标准适用于光耦合器的二极管正向电压降V的测试。SJ2215.2-82
测试正向压降V总的要求应符合SJ2215.1一82《半导体光耦合器测试方法总则》2正向压降V的测试
2.1定义
二极管通过的正向电流为规定值时,正负极之间所产生的电压降。2.2正向压降V的测试原理图应合下图。恒流源
3测试步骤免费标准bzxz.net
调节恒流源,使直流电流表的读数为规定值,这时在直流电压表上的读数即为所测正向电压降V注:被测管在输出部分时,输人端开路。中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1
1983-07-01实施
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
正向压降的测试方法
本标准适用于光耦合器的二极管正向电压降V的测试。SJ2215.2-82
测试正向压降V总的要求应符合SJ2215.1一82《半导体光耦合器测试方法总则》2正向压降V的测试
2.1定义
二极管通过的正向电流为规定值时,正负极之间所产生的电压降。2.2正向压降V的测试原理图应合下图。恒流源
3测试步骤免费标准bzxz.net
调节恒流源,使直流电流表的读数为规定值,这时在直流电压表上的读数即为所测正向电压降V注:被测管在输出部分时,输人端开路。中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1
1983-07-01实施
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